法人情報を詳細検索

全国法人総覧

電子磁気工業株式会社

法人番号:1011501003010

電子磁気工業株式会社は、 東京都北区浮間5丁目6番20号にある法人です。 1979年に設立されました。

基本情報

法人番号
1011501003010
法人名称/商号
電子磁気工業株式会社
法人名称/商号(カナ)
デンシジキコウギョウ
法人名称/商号(英語)
-
所在地
〒1150051
東京都北区浮間5丁目6番20号
代表者
-
資本金
-
従業員数

-

営業品目
精密機器類 、 その他機器 、 その他 、 精密機器類 、 その他機器 、 その他 、 防衛用装備品類の整備 、 その他
事業概要

-

設立年月日
1979年04月07日
創業年
-
データ最終更新日
2018年05月29日

特許情報

  • 特許 2015006888

    2015年01月16日
    特許分類
    G01N 27/83
    測定; 試験
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    鋼管用磁化装置、磁粉探傷装置

  • 特許 2016212020

    2016年10月28日
    特許分類
    H01F 13/00
    基本的電気素子
    テーマコード
    5E055

    発明の名称

    着磁ヘッド、多極着磁装置

  • 特許 2016212020

    2016年10月28日
    特許分類
    H01F 13/00 350
    基本的電気素子
    テーマコード
    5E055

    発明の名称

    着磁ヘッド、多極着磁装置

  • 特許 2017099908

    2017年05月19日
    特許分類
    G01N 21/64
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    蛍光磁粉液の濃度測定方法、蛍光磁粉液の濃度測定装置

  • 特許 2017099908

    2017年05月19日
    特許分類
    G01N 21/64 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    蛍光磁粉液の濃度測定方法、蛍光磁粉液の濃度測定装置

  • 特許 2017099908

    2017年05月19日
    特許分類
    G01N 21/64 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    蛍光磁粉液の濃度測定方法、蛍光磁粉液の濃度測定装置

  • 特許 2017099909

    2017年05月19日
    特許分類
    G01N 27/74
    測定; 試験
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    磁粉液の磁粉濃度測定方法、磁粉液の磁粉濃度測定装置

  • 商標 2018032627

    2018年03月20日
    商標コード
    1
    工業用、科学用又は農業用の化学品

    表示用商標

    §Em/C

  • 商標 2018032627

    2018年03月20日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    §Em/C

  • 商標 2018032627

    2018年03月20日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    §Em/C

  • 特許 2010085253

    2010年04月01日
    特許分類
    G01N 21/84
    測定; 試験
    テーマコード
    2G051

    発明の名称

    紫外線探傷灯

  • 特許 2010085253

    2010年04月01日
    特許分類
    G01N 21/84 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G051

    発明の名称

    紫外線探傷灯

  • 特許 2010085253

    2010年04月01日
    特許分類
    G01N 21/91
    測定; 試験
    テーマコード
    2G051

    発明の名称

    紫外線探傷灯

  • 特許 2010085253

    2010年04月01日
    特許分類
    G01N 21/91 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G051

    発明の名称

    紫外線探傷灯

  • 特許 2011061993

    2011年03月22日
    特許分類
    G01N 27/84
    測定; 試験
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    被検査体の磁化装置、磁粉探傷装置

  • 特許 2011254078

    2011年11月21日
    特許分類
    G01N 27/83
    測定; 試験
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    分割ヨーク型磁化器

  • 特許 2011254078

    2011年11月21日
    特許分類
    G01N 27/84
    測定; 試験
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    分割ヨーク型磁化器

  • 特許 2012046786

    2012年03月02日
    特許分類
    B23K 11/24
    工作機械; 他に分類されない金属加工
    テーマコード
    4E065

    発明の名称

    スポット溶接固定強度評価方法およびスポット溶接固定強度評価装置

  • 特許 2012046786

    2012年03月02日
    特許分類
    B23K 11/24 335
    工作機械; 他に分類されない金属加工
    テーマコード
    4E065

    発明の名称

    スポット溶接固定強度評価方法およびスポット溶接固定強度評価装置

  • 特許 2012046786

    2012年03月02日
    特許分類
    G01B 7/12
    測定; 試験
    テーマコード
    4E065

    発明の名称

    スポット溶接固定強度評価方法およびスポット溶接固定強度評価装置

  • 特許 2012206921

    2012年09月20日
    特許分類
    G01R 33/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G017

    発明の名称

    磁束計

  • 特許 2012206921

    2012年09月20日
    特許分類
    G01R 33/02 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G017

    発明の名称

    磁束計

  • 特許 2013127879

    2011年03月22日
    特許分類
    G01N 27/84
    測定; 試験
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    被検査体の磁化装置の調整方法

  • 特許 2013187327

    2013年09月10日
    特許分類
    G01N 27/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G060

    発明の名称

    焼き入れ深さ測定装置、焼き入れ深さ測定方法、表層深さ測定装置、表層深さ測定方法

  • 特許 2013187327

    2013年09月10日
    特許分類
    G01N 27/04 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G060

    発明の名称

    焼き入れ深さ測定装置、焼き入れ深さ測定方法、表層深さ測定装置、表層深さ測定方法

  • 特許 2013189508

    2013年09月12日
    特許分類
    G01N 27/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G060

    発明の名称

    表層深さ測定装置、表層深さ測定方法

  • 特許 2013189508

    2013年09月12日
    特許分類
    G01N 27/04 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G060

    発明の名称

    表層深さ測定装置、表層深さ測定方法

  • 特許 2013217507

    2013年10月18日
    特許分類
    G01N 27/84
    測定; 試験
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    被検査体の磁化方法、被検査体の磁化装置、磁粉探傷装置

  • 特許 2013542920

    2012年10月25日
    特許分類
    G01N 27/72
    測定; 試験
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    磁性体評価装置およびその方法

  • 特許 2013542920

    2012年10月25日
    特許分類
    H01F 41/00
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    磁性体評価装置およびその方法

  • 特許 2013542920

    2012年10月25日
    特許分類
    H01F 41/00 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G053

    発明の名称

    磁性体評価装置およびその方法