株式会社カツラ・オプト・システムズ

基本情報

法人番号

1020001063943

法人名称/商号

株式会社カツラ・オプト・システムズ

法人名称/商号（カナ）

カツラオプトシステムズ

法人名称/商号（英語）

-

所在地

〒2150021
神奈川県川崎市麻生区上麻生１丁目７番１１号

代表者

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資本金

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従業員数

-

営業品目

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事業概要

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設立年月日

-

創業年

-

データ最終更新日

2018年06月08日

特許情報

• 特許　2014244441

  2014年12月02日

  特許分類

  G01B 11/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ３次元チルトセンサ及びこれを用いた測定対象の３軸廻りの角度変位を測定する方法

• 特許　2014244441

  2014年12月02日

  特許分類

  G01B 11/26 G
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ３次元チルトセンサ及びこれを用いた測定対象の３軸廻りの角度変位を測定する方法

• 特許　2014131422

  2014年06月26日

  特許分類

  G01B 11/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  撮像素子の位置計測方法及び当該方法に用いる投光装置

• 特許　2014131422

  2014年06月26日

  特許分類

  G01B 11/00 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  撮像素子の位置計測方法及び当該方法に用いる投光装置

• 特許　2014131422

  2014年06月26日

  特許分類

  G01B 11/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  撮像素子の位置計測方法及び当該方法に用いる投光装置

• 特許　2014131422

  2014年06月26日

  特許分類

  G01B 11/26 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  撮像素子の位置計測方法及び当該方法に用いる投光装置

• 特許　2017515869

  2016年07月04日

  特許分類

  G01B 11/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  光学素子特性測定装置

• 特許　2017515869

  2016年07月04日

  特許分類

  G01B 11/00 D
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  光学素子特性測定装置

• 特許　2017515869

  2016年07月04日

  特許分類

  G01B 11/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  光学素子特性測定装置

• 特許　2017515869

  2016年07月04日

  特許分類

  G01B 11/02 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  光学素子特性測定装置