法人情報を詳細検索

全国法人総覧

株式会社堀場製作所

法人番号:1130001011676

株式会社堀場製作所は、  堀場 厚を代表者とする、 京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地にある法人です。 1953年に設立されました。

基本情報

法人番号
1130001011676
法人名称/商号
株式会社堀場製作所
法人名称/商号(カナ)
ホリバセイサクショ
法人名称/商号(英語)
-
所在地
〒6018305
京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地
代表者
代表取締役会長兼グループCEO   堀場 厚
資本金
12,011,000,000円
従業員数

1,902人

内、女性604人、男性1,298人

営業品目
精密機器類 、 医療用機器 、 その他機器 、 その他 、 精密機器類 、 医療用機器 、 その他機器 、 その他 、 調査・研究 、 建物管理等各種保守管 、 その他
事業概要

環境・分析、自動車、メディカル、ナノテク、バイオ、IT、ユーティリティなど、あらゆる産業を支える分析・計測機器の総合メーカー。 自動車排ガス測定装置では圧倒的世界シェア80%。

ウェブサイト
http://www.horiba.co.jp
設立年月日
1953年01月26日
創業年
-
データ最終更新日
2018年04月25日

届出認定情報

  • 2021年08月21日

    計量法届出製造事業者

    濃度計第一類

    企業規模: 大企業

    府省:経済産業省

  • 2021年08月21日

    計量法届出製造事業者

    濃度計第二類

    企業規模: 大企業

    府省:経済産業省

  • 2021年08月21日

    計量法届出製造事業者

    濃度計第三類

    企業規模: 大企業

    府省:経済産業省

表彰情報

  • 両立支援のひろば 一般事業主行動計画公表

    府省
    厚生労働省
  • 女性の活躍推進企業

    府省
    厚生労働省
  • 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定

    部門
    2008年・2012年
    府省
    厚生労働省
  • ポジティブ・アクション

    府省
    厚生労働省
  • 新・ダイバーシティ経営企業100選

    2016年03月16日
    対象
    多様な人材を活用し経営上の成果を上げている企業
    府省
    経済産業省
  • 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定

    部門
    2008
    府省
    厚生労働省
  • 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定

    部門
    2012
    府省
    厚生労働省
  • 次世代育成支援対策推進法に基づく「プラチナくるみん」特例認定

    部門
    2020
    府省
    厚生労働省
  • あんぜんプロジェクト-認定

    府省
    厚生労働省
  • 健康経営銘柄-認定

    部門
    2019
    府省
    厚生労働省
  • 均等・両立推進企業表彰またはファミリー・フレンドリー企業表彰-表彰

    府省
    厚生労働省

特許情報

  • 商標 2014036853

    2014年05月09日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    E-HARBOR

  • 商標 2014108778

    2014年12月24日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    CONCEPT

  • 意匠 2014009525

    2014年04月30日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    排ガス分析計

  • 意匠 2014029240

    2014年12月25日
    意匠分類
    J151
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    血液分析器

  • 特許 2014255659

    2014年12月17日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    試料分析システム

  • 特許 2014255659

    2014年12月17日
    特許分類
    G01N 1/00 101A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    試料分析システム

  • 特許 2014255659

    2014年12月17日
    特許分類
    G01N 31/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    試料分析システム

  • 特許 2014255659

    2014年12月17日
    特許分類
    G01N 31/12 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    試料分析システム

  • 特許 2014264184

    2014年12月26日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014264184

    2014年12月26日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014264184

    2014年12月26日
    特許分類
    G01N 1/00 101X
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014264184

    2014年12月26日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014264184

    2014年12月26日
    特許分類
    G01N 1/22 T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014015978

    2014年01月30日
    特許分類
    G01N 21/67
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    グロー放電分光分析装置、試料支持体及び試料押圧電極

  • 特許 2014015978

    2014年01月30日
    特許分類
    G01N 21/67 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    グロー放電分光分析装置、試料支持体及び試料押圧電極

  • 特許 2014028671

    2014年02月18日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線透過窓、放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2014028671

    2014年02月18日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線透過窓、放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2014028671

    2014年02月18日
    特許分類
    G01T 7/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線透過窓、放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2014028671

    2014年02月18日
    特許分類
    G21K 5/00
    核物理; 核工学
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線透過窓、放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2014028671

    2014年02月18日
    特許分類
    G21K 5/00 W
    核物理; 核工学
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線透過窓、放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2014073502

    2014年03月31日
    特許分類
    G01N 21/67
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    グロー放電発光分析方法

  • 特許 2014073502

    2014年03月31日
    特許分類
    G01N 21/67 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    グロー放電発光分析方法

  • 特許 2014086106

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定システム

  • 特許 2014086106

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/30 313C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定システム

  • 特許 2014086106

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/30 315Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定システム

  • 特許 2014086106

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/401
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定システム

  • 特許 2014086107

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2014086107

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/30 311C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2014086107

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/30 315Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2014086108

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極装置

  • 特許 2014086108

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/46 351Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極装置

  • 特許 2014086108

    2014年04月18日
    特許分類
    G01N 27/46 353Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極装置

  • 特許 2014098697

    2014年05月12日
    特許分類
    G01N 21/35 104
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014098697

    2014年05月12日
    特許分類
    G01N 21/35 107
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014098697

    2014年05月12日
    特許分類
    G01N 21/3577
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014098697

    2014年05月12日
    特許分類
    G01N 21/359
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2014102744

    2014年05月16日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット

  • 特許 2014102744

    2014年05月16日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット

  • 特許 2014102744

    2014年05月16日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット

  • 特許 2014102744

    2014年05月16日
    特許分類
    G01N 1/28 K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット

  • 特許 2014102744

    2014年05月16日
    特許分類
    G01N 21/33
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット

  • 特許 2014102744

    2014年05月16日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット

  • 特許 2014103854

    2014年05月19日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験条件データ生成装置及び試験条件データ生成プログラム

  • 特許 2014103854

    2014年05月19日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験条件データ生成装置及び試験条件データ生成プログラム

  • 特許 2014103854

    2014年05月19日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験条件データ生成装置及び試験条件データ生成プログラム

  • 特許 2014103854

    2014年05月19日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験条件データ生成装置及び試験条件データ生成プログラム

  • 特許 2014104787

    2014年05月20日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析装置及び校正方法

  • 特許 2014104789

    2014年05月20日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析装置及び校正方法

  • 特許 2014120980

    2014年06月11日
    特許分類
    G01N 21/09
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    光学測定セル及び光学分析計

  • 特許 2014127753

    2014年06月20日
    特許分類
    G01N 27/30 313A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2014127753

    2014年06月20日
    特許分類
    G01N 27/30 313C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2014127753

    2014年06月20日
    特許分類
    G01N 27/30 313D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2014127753

    2014年06月20日
    特許分類
    G01N 27/401
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2014136485

    2014年07月02日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ガンマカメラ調整装置、ガンマカメラシステム

  • 特許 2014136485

    2014年07月02日
    特許分類
    G01T 7/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ガンマカメラ調整装置、ガンマカメラシステム

  • 特許 2014147744

    2014年07月18日
    特許分類
    G01N 15/14
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2014147744

    2014年07月18日
    特許分類
    G01N 15/14 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2014147744

    2014年07月18日
    特許分類
    G01N 15/14 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2014147744

    2014年07月18日
    特許分類
    G01N 21/59
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2014147744

    2014年07月18日
    特許分類
    G01N 21/59 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2014164593

    2014年08月12日
    特許分類
    F02D 45/00
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014164593

    2014年08月12日
    特許分類
    F02D 45/00 368Z
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014164593

    2014年08月12日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014164593

    2014年08月12日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014164593

    2014年08月12日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014164593

    2014年08月12日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    F01N 3/00
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    F01N 3/00 F
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    F01N 3/00 G
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    F02D 28/00
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    F02D 28/00 C
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    F02D 45/00
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    F02D 45/00 358K
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    G01F 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    G01F 1/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    G01F 1/46
    測定; 試験
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    G01M 17/00 J
    測定; 試験
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014164603

    2014年08月12日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    3G092

    発明の名称

    排ガス測定用情報処理装置、排ガス測定システム及びプログラム

  • 特許 2014169323

    2014年08月22日
    特許分類
    G01F 1/84
    測定; 試験
    テーマコード
    5H307

    発明の名称

    燃料流量測定装置

  • 特許 2014169323

    2014年08月22日
    特許分類
    G01F 9/00
    測定; 試験
    テーマコード
    5H307

    発明の名称

    燃料流量測定装置

  • 特許 2014169323

    2014年08月22日
    特許分類
    G01F 9/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    5H307

    発明の名称

    燃料流量測定装置

  • 特許 2014169323

    2014年08月22日
    特許分類
    G05D 7/06
    制御; 調整
    テーマコード
    5H307

    発明の名称

    燃料流量測定装置

  • 特許 2014169323

    2014年08月22日
    特許分類
    G05D 7/06 Z
    制御; 調整
    テーマコード
    5H307

    発明の名称

    燃料流量測定装置

  • 特許 2014178580

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 21/01
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    光学分析装置

  • 特許 2014178580

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 21/01 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    光学分析装置

  • 特許 2014178580

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    光学分析装置

  • 特許 2014178580

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 21/35 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    光学分析装置

  • 特許 2014178588

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 27/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計及び液体分析システム

  • 特許 2014178588

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 27/28 341A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計及び液体分析システム

  • 特許 2014178588

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 27/30 331E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計及び液体分析システム

  • 特許 2014178588

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 27/333
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計及び液体分析システム

  • 特許 2014178588

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計及び液体分析システム

  • 特許 2014178588

    2014年09月02日
    特許分類
    G01N 27/46 351A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計及び液体分析システム

  • 特許 2014218275

    2014年10月27日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析システム及びポンプ装置

  • 特許 2014218275

    2014年10月27日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析システム及びポンプ装置

  • 特許 2014218275

    2014年10月27日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析システム及びポンプ装置

  • 特許 2014227164

    2014年11月07日
    特許分類
    G01J 3/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    干渉計、干渉計を用いた分光光度計及び干渉計の制御プログラム

  • 特許 2014227164

    2014年11月07日
    特許分類
    G01J 3/02 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    干渉計、干渉計を用いた分光光度計及び干渉計の制御プログラム

  • 特許 2014227164

    2014年11月07日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    干渉計、干渉計を用いた分光光度計及び干渉計の制御プログラム

  • 特許 2014227166

    2014年11月07日
    特許分類
    G01J 3/45
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    干渉計、干渉計を用いた分光光度計及び干渉計の制御プログラム

  • 特許 2014233025

    2014年11月17日
    特許分類
    G01N 21/359
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    吸光分析装置及びその検量線作成方法

  • 商標 2015024149

    2015年03月18日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    GATELINK

  • 商標 2015024149

    2015年03月18日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    GATELINK

  • 商標 2015063562

    2015年07月03日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HORIBA AQUA LINKAGE

  • 商標 2015063562

    2015年07月03日
    商標コード
    35
    広告、事業の管理又は運営及び事務処理及び小売又は卸売の業務において行われる顧客に対する便益の提供

    表示用商標

    HORIBA AQUA LINKAGE

  • 商標 2015063562

    2015年07月03日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    HORIBA AQUA LINKAGE

  • 商標 2015063563

    2015年07月03日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    AQUA LINKAGE

  • 商標 2015063563

    2015年07月03日
    商標コード
    35
    広告、事業の管理又は運営及び事務処理及び小売又は卸売の業務において行われる顧客に対する便益の提供

    表示用商標

    AQUA LINKAGE

  • 商標 2015063563

    2015年07月03日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    AQUA LINKAGE

  • 商標 2015063564

    2015年07月03日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HAL

  • 商標 2015063564

    2015年07月03日
    商標コード
    35
    広告、事業の管理又は運営及び事務処理及び小売又は卸売の業務において行われる顧客に対する便益の提供

    表示用商標

    HAL

  • 商標 2015063564

    2015年07月03日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    HAL

  • 商標 2015067300

    2015年07月15日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    §EBEH

  • 商標 2015074678

    2015年08月04日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    E-ISLAND

  • 商標 2015083113

    2015年08月28日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    E-LAB

  • 商標 2015083113

    2015年08月28日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    E-LAB

  • 商標 2015092615

    2015年09月25日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    E-HARBOR

  • 商標 2015092616

    2015年09月25日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    §EBEH\§HBEH

  • 商標 2015092617

    2015年09月25日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    E-ISLAND

  • 商標 2015122996

    2015年12月15日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    BLI

  • 商標 2015122996

    2015年12月15日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    BLI

  • 意匠 2015007958

    2015年04月08日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    排ガス分析計

  • 意匠 2015007960

    2015年04月08日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    排ガス分析計

  • 意匠 2015007961

    2015年04月08日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    排ガス分析計

  • 意匠 2015013127

    2015年06月12日
    意匠分類
    J151
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    血液分析器

  • 意匠 2015018333

    2015年08月20日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    粒径分布測定計

  • 特許 2015017491

    2015年01月30日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    光学分析用セル及びこれを用いた粒子径分布測定装置

  • 特許 2015017491

    2015年01月30日
    特許分類
    G01N 15/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    光学分析用セル及びこれを用いた粒子径分布測定装置

  • 特許 2015019381

    2015年02月03日
    特許分類
    G08G 1/16
    信号
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車載装置、車載装置用プログラム及び速度警告システム

  • 特許 2015019381

    2015年02月03日
    特許分類
    G08G 1/16 A
    信号
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車載装置、車載装置用プログラム及び速度警告システム

  • 特許 2015058695

    2015年03月20日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2015058695

    2015年03月20日
    特許分類
    G01N 1/00 101T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2015058695

    2015年03月20日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2015058695

    2015年03月20日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2015073780

    2015年03月31日
    特許分類
    C12M 1/00
    生化学; ビ-ル; 酒精; ぶどう酒; 酢;微生物学; 酵素学; 突然変異または遺伝子工学
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極、その比較電極を用いた測定方法及び測定システム、複合電極、液体分析計

  • 特許 2015073780

    2015年03月31日
    特許分類
    C12M 1/00 D
    生化学; ビ-ル; 酒精; ぶどう酒; 酢;微生物学; 酵素学; 突然変異または遺伝子工学
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極、その比較電極を用いた測定方法及び測定システム、複合電極、液体分析計

  • 特許 2015073780

    2015年03月31日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極、その比較電極を用いた測定方法及び測定システム、複合電極、液体分析計

  • 特許 2015073780

    2015年03月31日
    特許分類
    G01N 27/30 313B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極、その比較電極を用いた測定方法及び測定システム、複合電極、液体分析計

  • 特許 2015073780

    2015年03月31日
    特許分類
    G01N 27/30 315
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極、その比較電極を用いた測定方法及び測定システム、複合電極、液体分析計

  • 特許 2015073780

    2015年03月31日
    特許分類
    G01N 27/401
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極、その比較電極を用いた測定方法及び測定システム、複合電極、液体分析計

  • 特許 2015087592

    2015年04月22日
    特許分類
    G01N 15/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    オイルミスト検出装置、オイルミスト検出方法

  • 特許 2015087592

    2015年04月22日
    特許分類
    G01N 15/06 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    オイルミスト検出装置、オイルミスト検出方法

  • 特許 2015087592

    2015年04月22日
    特許分類
    G01N 21/53
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    オイルミスト検出装置、オイルミスト検出方法

  • 特許 2015087592

    2015年04月22日
    特許分類
    G01N 21/53 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    オイルミスト検出装置、オイルミスト検出方法

  • 特許 2015088548

    2015年04月23日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2015088548

    2015年04月23日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2015088548

    2015年04月23日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2015088548

    2015年04月23日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2015088548

    2015年04月23日
    特許分類
    G01T 7/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出器及び放射線検出装置

  • 特許 2015088549

    2015年04月23日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出装置及び放射線検出器

  • 特許 2015088549

    2015年04月23日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出装置及び放射線検出器

  • 特許 2015088549

    2015年04月23日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出装置及び放射線検出器

  • 特許 2015088549

    2015年04月23日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出装置及び放射線検出器

  • 特許 2015088549

    2015年04月23日
    特許分類
    G01T 7/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出装置及び放射線検出器

  • 特許 2015090980

    2015年04月28日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    検証用システム

  • 特許 2015090980

    2015年04月28日
    特許分類
    G01N 1/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    検証用システム

  • 特許 2015090980

    2015年04月28日
    特許分類
    G01N 1/00 101T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    検証用システム

  • 特許 2015090980

    2015年04月28日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    検証用システム

  • 特許 2015090980

    2015年04月28日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    検証用システム

  • 特許 2015093666

    2015年04月30日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2015093666

    2015年04月30日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2015093666

    2015年04月30日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2015093666

    2015年04月30日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2015094179

    2015年05月01日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    路上走行試験装置

  • 特許 2015094179

    2015年05月01日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    路上走行試験装置

  • 特許 2015097090

    2015年05月12日
    特許分類
    G01M 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験管理装置、試験管理プログラム及び車両試験方法

  • 特許 2015097090

    2015年05月12日
    特許分類
    G01M 17/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験管理装置、試験管理プログラム及び車両試験方法

  • 特許 2015097090

    2015年05月12日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験管理装置、試験管理プログラム及び車両試験方法

  • 特許 2015097090

    2015年05月12日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験管理装置、試験管理プログラム及び車両試験方法

  • 特許 2015097090

    2015年05月12日
    特許分類
    G09B 29/00
    教育; 暗号方法; 表示; 広告; シ-ル
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験管理装置、試験管理プログラム及び車両試験方法

  • 特許 2015097090

    2015年05月12日
    特許分類
    G09B 29/00 A
    教育; 暗号方法; 表示; 広告; シ-ル
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム、試験管理装置、試験管理プログラム及び車両試験方法

  • 特許 2015099704

    2015年05月15日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取機構及び排ガス分析装置

  • 特許 2015099704

    2015年05月15日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取機構及び排ガス分析装置

  • 特許 2015099704

    2015年05月15日
    特許分類
    G01N 1/22 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取機構及び排ガス分析装置

  • 特許 2015101046

    2015年05月18日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム

  • 特許 2015101046

    2015年05月18日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験システム

  • 特許 2015114147

    2015年06月04日
    特許分類
    G01N 21/3504
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    CO2濃度計用ゼロガス精製器及びCO2濃度計測システム

  • 特許 2015122263

    2015年06月17日
    特許分類
    G01N 21/67
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    グロー放電発光分析装置、試料ホルダ及びグロー放電発生方法

  • 特許 2015122263

    2015年06月17日
    特許分類
    G01N 21/67 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    グロー放電発光分析装置、試料ホルダ及びグロー放電発生方法

  • 特許 2015131175

    2015年06月30日
    特許分類
    G01T 1/167
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定ユニット及び放射能濃度測定装置

  • 特許 2015131175

    2015年06月30日
    特許分類
    G01T 1/167 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定ユニット及び放射能濃度測定装置

  • 特許 2015142206

    2015年07月16日
    特許分類
    G01N 15/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス成分検出装置

  • 特許 2015142206

    2015年07月16日
    特許分類
    G01N 15/06 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス成分検出装置

  • 特許 2015142206

    2015年07月16日
    特許分類
    G01N 15/06 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス成分検出装置

  • 特許 2015142206

    2015年07月16日
    特許分類
    G01N 21/53
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス成分検出装置

  • 特許 2015142206

    2015年07月16日
    特許分類
    G01N 21/53 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス成分検出装置

  • 特許 2015146359

    2015年07月24日
    特許分類
    G01J 3/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法

  • 特許 2015146359

    2015年07月24日
    特許分類
    G01J 3/02 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法

  • 特許 2015146359

    2015年07月24日
    特許分類
    G01J 3/45
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法

  • 特許 2015158666

    2015年08月11日
    特許分類
    G01C 5/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    高度検出装置、負荷・駆動装置および高度検出方法

  • 特許 2015158666

    2015年08月11日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    高度検出装置、負荷・駆動装置および高度検出方法

  • 特許 2015158666

    2015年08月11日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    高度検出装置、負荷・駆動装置および高度検出方法

  • 特許 2015158666

    2015年08月11日
    特許分類
    G01S 19/42
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    高度検出装置、負荷・駆動装置および高度検出方法

  • 特許 2015168351

    2015年08月27日
    特許分類
    G01T 1/16
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム

  • 特許 2015168351

    2015年08月27日
    特許分類
    G01T 1/16 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム

  • 特許 2015168351

    2015年08月27日
    特許分類
    G01T 1/17
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム

  • 特許 2015168351

    2015年08月27日
    特許分類
    G01T 1/17 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム

  • 特許 2015168351

    2015年08月27日
    特許分類
    G01T 1/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム

  • 特許 2015168351

    2015年08月27日
    特許分類
    G01T 1/20 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム

  • 特許 2015169328

    2015年08月28日
    特許分類
    F16C 13/00
    機械要素または単位;機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    シャシダイナモ装置

  • 特許 2015169328

    2015年08月28日
    特許分類
    F16C 13/00 Z
    機械要素または単位;機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    シャシダイナモ装置

  • 特許 2015169328

    2015年08月28日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    シャシダイナモ装置

  • 特許 2015169328

    2015年08月28日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    シャシダイナモ装置

  • 特許 2015169328

    2015年08月28日
    特許分類
    H05B 6/10
    他に分類されない電気技術
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    シャシダイナモ装置

  • 特許 2015169328

    2015年08月28日
    特許分類
    H05B 6/10 331
    他に分類されない電気技術
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    シャシダイナモ装置

  • 特許 2015169375

    2015年08月28日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    低濃度BHF溶液の濃度測定装置及び測定方法

  • 特許 2015169375

    2015年08月28日
    特許分類
    G01N 27/46 351K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    低濃度BHF溶液の濃度測定装置及び測定方法

  • 特許 2015169375

    2015年08月28日
    特許分類
    G01N 27/46 353Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    低濃度BHF溶液の濃度測定装置及び測定方法

  • 特許 2015172229

    2015年09月01日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    蛍光X線分析装置、蛍光X線分析方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2015207619

    2015年10月22日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    移動体搭載型の排ガス分析システム

  • 特許 2015207619

    2015年10月22日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    移動体搭載型の排ガス分析システム

  • 特許 2015242108

    2015年12月11日
    特許分類
    G01T 1/167
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2015242108

    2015年12月11日
    特許分類
    G01T 1/167 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2015242108

    2015年12月11日
    特許分類
    G21F 9/04
    核物理; 核工学
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2015242108

    2015年12月11日
    特許分類
    G21F 9/04 D
    核物理; 核工学
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2015242527

    2015年12月11日
    特許分類
    G01N 1/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置、分析方法、及びプログラム

  • 特許 2015242527

    2015年12月11日
    特許分類
    G01N 1/02 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置、分析方法、及びプログラム

  • 特許 2015242527

    2015年12月11日
    特許分類
    G01N 1/02 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置、分析方法、及びプログラム

  • 特許 2015242527

    2015年12月11日
    特許分類
    G01N 23/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置、分析方法、及びプログラム

  • 特許 2015242527

    2015年12月11日
    特許分類
    G01N 23/22 310
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置、分析方法、及びプログラム

  • 特許 2015242527

    2015年12月11日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析装置、分析方法、及びプログラム

  • 特許 2015243568

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    吸光度計

  • 特許 2015243568

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 21/27 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    吸光度計

  • 特許 2015243581

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2015243581

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 27/46 353
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2015243581

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 27/46 356
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2015243583

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 27/30 301A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2015243583

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 27/30 301B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2015243583

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 27/30 301C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2015243583

    2015年12月14日
    特許分類
    G01N 27/414
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2015243838

    2015年12月15日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験装置及び車両試験装置に用いられる模擬車輪

  • 特許 2015243838

    2015年12月15日
    特許分類
    G01M 17/00 R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験装置及び車両試験装置に用いられる模擬車輪

  • 特許 2015243838

    2015年12月15日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両試験装置及び車両試験装置に用いられる模擬車輪

  • 特許 2015243842

    2015年12月15日
    特許分類
    G01M 17/00 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    燃料タンク温調装置及び蒸散ガス測定システム

  • 特許 2015243842

    2015年12月15日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    燃料タンク温調装置及び蒸散ガス測定システム

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    F27B 5/04
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    F27D 17/00
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    F27D 17/00 104A
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    G01N 31/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    G01N 31/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    G01N 31/00 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    G01N 31/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    G01N 31/12 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    H05B 6/10
    他に分類されない電気技術
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539089

    2014年09月10日
    特許分類
    H05B 6/10 331
    他に分類されない電気技術
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置及び分析方法

  • 特許 2015539234

    2014年09月24日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    運転モード表示装置、運転モード表示用プログラム及び車両試験システム

  • 特許 2015539234

    2014年09月24日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    運転モード表示装置、運転モード表示用プログラム及び車両試験システム

  • 特許 2015545263

    2014年10月29日
    特許分類
    F27B 14/06
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2015545263

    2014年10月29日
    特許分類
    F27D 17/00
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2015545263

    2014年10月29日
    特許分類
    F27D 17/00 104G
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2015545263

    2014年10月29日
    特許分類
    F27D 17/00 105A
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2015545263

    2014年10月29日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2015545263

    2014年10月29日
    特許分類
    G01N 1/00 101X
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2015545263

    2014年10月29日
    特許分類
    G01N 31/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2015545263

    2014年10月29日
    特許分類
    G01N 31/12 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 商標 2016005512

    2016年01月20日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    HORIBA MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005512

    2016年01月20日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HORIBA MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005512

    2016年01月20日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    HORIBA MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005512

    2016年01月20日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    HORIBA MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005512

    2016年01月20日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    HORIBA MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005516

    2016年01月20日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005516

    2016年01月20日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005516

    2016年01月20日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005516

    2016年01月20日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016005516

    2016年01月20日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    MEDISIDE LINKAGE

  • 商標 2016043522

    2016年04月15日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ITFM

  • 商標 2016054504

    2016年05月19日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    FLEET CONNECT

  • 商標 2016054504

    2016年05月19日
    商標コード
    35
    広告、事業の管理又は運営及び事務処理及び小売又は卸売の業務において行われる顧客に対する便益の提供

    表示用商標

    FLEET CONNECT

  • 商標 2016054504

    2016年05月19日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    FLEET CONNECT

  • 商標 2016054504

    2016年05月19日
    商標コード
    39
    輸送、こん包及び保管並びに旅行の手配

    表示用商標

    FLEET CONNECT

  • 商標 2016054504

    2016年05月19日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    FLEET CONNECT

  • 商標 2016054504

    2016年05月19日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    FLEET CONNECT

  • 商標 2016055839

    2016年05月24日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    PFS

  • 商標 2016055839

    2016年05月24日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    PFS

  • 商標 2016055839

    2016年05月24日
    商標コード
    12
    乗物その他移動用の装置

    表示用商標

    PFS

  • 商標 2016059949

    2016年06月02日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    HORIBA FLEET LINKAGE

  • 商標 2016059950

    2016年06月02日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    FLEET LINKAGE

  • 商標 2016059951

    2016年06月02日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    §S

  • 商標 2016059952

    2016年06月02日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    HORIBA AQUA LINKAGE

  • 商標 2016059953

    2016年06月02日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    AQUA LINKAGE

  • 商標 2016059954

    2016年06月02日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    HAL

  • 商標 2016068738

    2016年06月24日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    §HELQ

  • 商標 2016068738

    2016年06月24日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    §HELQ

  • 商標 2016068738

    2016年06月24日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    §HELQ

  • 商標 2016068738

    2016年06月24日
    商標コード
    35
    広告、事業の管理又は運営及び事務処理及び小売又は卸売の業務において行われる顧客に対する便益の提供

    表示用商標

    §HELQ

  • 商標 2016068738

    2016年06月24日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    §HELQ

  • 商標 2016068738

    2016年06月24日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    §HELQ

  • 商標 2016091868

    2016年08月23日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    Imaging CL

  • 商標 2016097793

    2016年09月07日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    はかるLAB

  • 商標 2016097793

    2016年09月07日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    はかるLAB

  • 商標 2016097793

    2016年09月07日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    はかるLAB

  • 商標 2016097793

    2016年09月07日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    はかるLAB

  • 商標 2016097793

    2016年09月07日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    はかるLAB

  • 意匠 2016009117

    2016年04月26日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    元素分析計

  • 特許 2016011005

    2016年01月22日
    特許分類
    G01N 15/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置、粒子分析方法及び粒子分析プログラム

  • 特許 2016011005

    2016年01月22日
    特許分類
    G01N 15/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置、粒子分析方法及び粒子分析プログラム

  • 特許 2016011005

    2016年01月22日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置、粒子分析方法及び粒子分析プログラム

  • 特許 2016011005

    2016年01月22日
    特許分類
    G01N 15/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置、粒子分析方法及び粒子分析プログラム

  • 特許 2016038933

    2016年03月01日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス計測装置及び排ガス計測方法

  • 特許 2016038933

    2016年03月01日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス計測装置及び排ガス計測方法

  • 特許 2016038933

    2016年03月01日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス計測装置及び排ガス計測方法

  • 特許 2016074604

    2016年04月01日
    特許分類
    G01N 21/03
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    多重反射型セル及び分析装置

  • 特許 2016074604

    2016年04月01日
    特許分類
    G01N 21/03 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    多重反射型セル及び分析装置

  • 特許 2016074604

    2016年04月01日
    特許分類
    G01N 21/3504
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    多重反射型セル及び分析装置

  • 特許 2016103451

    2016年05月24日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法

  • 特許 2016103451

    2016年05月24日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法

  • 特許 2016103451

    2016年05月24日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法

  • 特許 2016103451

    2016年05月24日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法

  • 特許 2016103451

    2016年05月24日
    特許分類
    G01N 1/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法

  • 特許 2016103451

    2016年05月24日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法

  • 特許 2016103451

    2016年05月24日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法

  • 特許 2016132771

    2016年07月04日
    特許分類
    G01J 1/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G066

    発明の名称

    放射温度計

  • 特許 2016132771

    2016年07月04日
    特許分類
    G01J 1/02 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G066

    発明の名称

    放射温度計

  • 特許 2016132771

    2016年07月04日
    特許分類
    G01J 5/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G066

    発明の名称

    放射温度計

  • 特許 2016194149

    2016年09月30日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両速度パターン表示装置、この装置に用いられるプログラム、走行試験方法、及び自動運転装置

  • 特許 2016194149

    2016年09月30日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両速度パターン表示装置、この装置に用いられるプログラム、走行試験方法、及び自動運転装置

  • 特許 2016229218

    2016年11月25日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス計測システム

  • 特許 2016229218

    2016年11月25日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス計測システム

  • 特許 2016229218

    2016年11月25日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス計測システム

  • 特許 2016229218

    2016年11月25日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス計測システム

  • 特許 2016231183

    2016年11月29日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス測定装置、排ガス測定装置に搭載されるプログラム及び排ガス測定装置の制御方法

  • 特許 2016231183

    2016年11月29日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス測定装置、排ガス測定装置に搭載されるプログラム及び排ガス測定装置の制御方法

  • 特許 2016231183

    2016年11月29日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス測定装置、排ガス測定装置に搭載されるプログラム及び排ガス測定装置の制御方法

  • 特許 2016231183

    2016年11月29日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス測定装置、排ガス測定装置に搭載されるプログラム及び排ガス測定装置の制御方法

  • 特許 2016231183

    2016年11月29日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス測定装置、排ガス測定装置に搭載されるプログラム及び排ガス測定装置の制御方法

  • 特許 2016231230

    2016年11月29日
    特許分類
    G01N 21/03
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    多重反射型セル、分析装置、排ガス分析装置、及び、光の入射方法

  • 特許 2016231230

    2016年11月29日
    特許分類
    G01N 21/03 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    多重反射型セル、分析装置、排ガス分析装置、及び、光の入射方法

  • 特許 2016231230

    2016年11月29日
    特許分類
    G01N 21/3504
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    多重反射型セル、分析装置、排ガス分析装置、及び、光の入射方法

  • 特許 2016504020

    2015年02月04日
    特許分類
    G01N 23/203
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器及び電子検出装置

  • 特許 2016504020

    2015年02月04日
    特許分類
    G01N 23/207
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器及び電子検出装置

  • 特許 2016504020

    2015年02月04日
    特許分類
    G01N 23/207 320
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器及び電子検出装置

  • 特許 2016504020

    2015年02月04日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器及び電子検出装置

  • 特許 2016504020

    2015年02月04日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器及び電子検出装置

  • 特許 2016504020

    2015年02月04日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器及び電子検出装置

  • 特許 2016504020

    2015年02月04日
    特許分類
    G01T 7/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器及び電子検出装置

  • 特許 2016504020

    2015年02月04日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器及び電子検出装置

  • 特許 2016504021

    2015年02月04日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置及びコンピュータプログラム

  • 特許 2016504021

    2015年02月04日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置及びコンピュータプログラム

  • 特許 2016504021

    2015年02月04日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置及びコンピュータプログラム

  • 特許 2016513785

    2015年04月14日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    試料分散装置、試料分散方法

  • 特許 2016513785

    2015年04月14日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    試料分散装置、試料分散方法

  • 特許 2016513785

    2015年04月14日
    特許分類
    G01N 15/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    試料分散装置、試料分散方法

  • 特許 2016513785

    2015年04月14日
    特許分類
    G01N 15/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    試料分散装置、試料分散方法

  • 特許 2016513785

    2015年04月14日
    特許分類
    G01N 15/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    試料分散装置、試料分散方法

  • 特許 2016513785

    2015年04月14日
    特許分類
    G02B 21/34
    光学
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    試料分散装置、試料分散方法

  • 特許 2016546418

    2015年08月21日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電動モータ試験システム

  • 特許 2016546418

    2015年08月21日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電動モータ試験システム

  • 特許 2016546418

    2015年08月21日
    特許分類
    H02K 15/02
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電動モータ試験システム

  • 特許 2016546418

    2015年08月21日
    特許分類
    H02K 15/02 A
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電動モータ試験システム

  • 特許 2016554035

    2015年09月30日
    特許分類
    G01N 21/3504
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2016554035

    2015年09月30日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2016561941

    2015年11月26日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計、液体分析システム

  • 特許 2016561941

    2015年11月26日
    特許分類
    G01N 27/26 391Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計、液体分析システム

  • 特許 2016561941

    2015年11月26日
    特許分類
    G01N 27/333
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計、液体分析システム

  • 特許 2016561941

    2015年11月26日
    特許分類
    G01N 27/333 331Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計、液体分析システム

  • 特許 2016561941

    2015年11月26日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計、液体分析システム

  • 特許 2016561941

    2015年11月26日
    特許分類
    G01N 27/416 351A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計、液体分析システム

  • 特許 2016561941

    2015年11月26日
    特許分類
    G01N 27/416 351B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体分析計、液体分析システム

  • 商標 2017068295

    2017年05月19日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    RDE+

  • 商標 2017068295

    2017年05月19日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    RDE+

  • 商標 2017068295

    2017年05月19日
    商標コード
    12
    乗物その他移動用の装置

    表示用商標

    RDE+

  • 商標 2017068295

    2017年05月19日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    RDE+

  • 商標 2017068295

    2017年05月19日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    RDE+

  • 商標 2017111366

    2017年08月24日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    EMIA―Step

  • 商標 2017117787

    2017年09月06日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    i―CLUE

  • 商標 2017117788

    2017年09月06日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    F―CLUE

  • 商標 2017117789

    2017年09月06日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    H―CLUE

  • 商標 2017117790

    2017年09月06日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    R―CLUE

  • 商標 2017120902

    2017年09月12日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    IRLAM

  • 商標 2017120902

    2017年09月12日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    IRLAM

  • 商標 2017120902

    2017年09月12日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    IRLAM

  • 意匠 2017019981

    2017年09月13日
    意匠分類
    J151
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    血液分析器

  • 特許 2017193620

    2017年10月03日
    特許分類
    G01N 21/3504
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法

  • 特許 2017193620

    2017年10月03日
    特許分類
    G01N 21/39
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法

  • 特許 2017504948

    2016年02月22日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    模擬運転システム及び制御装置

  • 特許 2017504948

    2016年02月22日
    特許分類
    G01M 17/007 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    模擬運転システム及び制御装置

  • 特許 2017504948

    2016年02月22日
    特許分類
    G01M 17/007 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    模擬運転システム及び制御装置

  • 特許 2017538123

    2016年09月02日
    特許分類
    G01N 21/65
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    ラマン散乱光測定装置

  • 特許 2017555096

    2016年12月07日
    特許分類
    F27B 14/06
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2017555096

    2016年12月07日
    特許分類
    F27D 17/00
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2017555096

    2016年12月07日
    特許分類
    F27D 17/00 104G
    炉, キルン, 窯(かま); レトルト
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2017555096

    2016年12月07日
    特許分類
    G01N 31/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2017555096

    2016年12月07日
    特許分類
    G01N 31/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2017555096

    2016年12月07日
    特許分類
    G01N 31/00 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2017555096

    2016年12月07日
    特許分類
    G01N 31/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2017555096

    2016年12月07日
    特許分類
    G01N 31/12 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2017556068

    2016年12月13日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    5C014

    発明の名称

    X線管、及び、X線分析装置

  • 特許 2017556068

    2016年12月13日
    特許分類
    G01N 23/04 330
    測定; 試験
    テーマコード
    5C014

    発明の名称

    X線管、及び、X線分析装置

  • 特許 2017556068

    2016年12月13日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    5C014

    発明の名称

    X線管、及び、X線分析装置

  • 特許 2017556068

    2016年12月13日
    特許分類
    H01J 35/00
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C014

    発明の名称

    X線管、及び、X線分析装置

  • 特許 2017556068

    2016年12月13日
    特許分類
    H01J 35/00 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C014

    発明の名称

    X線管、及び、X線分析装置

  • 特許 2017556068

    2016年12月13日
    特許分類
    H01J 35/08
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C014

    発明の名称

    X線管、及び、X線分析装置

  • 特許 2017556068

    2016年12月13日
    特許分類
    H01J 35/08 F
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C014

    発明の名称

    X線管、及び、X線分析装置

  • 特許 2017556068

    2016年12月13日
    特許分類
    H01J 35/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C014

    発明の名称

    X線管、及び、X線分析装置

  • 商標 2018018894

    2018年02月16日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    スマートID連携

  • 商標 2018018894

    2018年02月16日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    スマートID連携

  • 商標 2018018894

    2018年02月16日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    スマートID連携

  • 商標 2018064839

    2018年05月18日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    Test in the Loop

  • 商標 2018064839

    2018年05月18日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    Test in the Loop

  • 商標 2018064839

    2018年05月18日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    Test in the Loop

  • 商標 2018097787

    2018年07月31日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    FTX

  • 商標 2018097790

    2018年07月31日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    FTX-ONE

  • 商標 2018100804

    2018年08月07日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    TILS

  • 商標 2018100804

    2018年08月07日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    TILS

  • 商標 2018100804

    2018年08月07日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    TILS

  • 意匠 2018002884

    2018年02月13日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    エックス線分析計

  • 意匠 2018002898

    2018年02月13日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    エックス線分析計

  • 意匠 2018002899

    2018年02月13日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    エックス線分析計

  • 意匠 2018014444

    2018年06月29日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    ガス分析計

  • 特許 2019035313

    2019年02月28日
    特許分類
    G01B 15/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    三次元画像生成装置、及び三次元画像生成装置の係数算出方法

  • 特許 2019035313

    2019年02月28日
    特許分類
    G01B 15/04 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    三次元画像生成装置、及び三次元画像生成装置の係数算出方法

  • 特許 2019035313

    2019年02月28日
    特許分類
    G01B 15/04 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    三次元画像生成装置、及び三次元画像生成装置の係数算出方法

  • 商標 2010052378

    2010年07月01日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    CVS

  • 商標 2010056125

    2010年07月15日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HORIBASTEC

  • 商標 2010067517

    2010年08月26日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    VETライズ

  • 商標 2010067518

    2010年08月26日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    VETLYSE

  • 商標 2010069833

    2010年09月03日
    商標コード
    6
    卑金属及びその製品

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069833

    2010年09月03日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069833

    2010年09月03日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069833

    2010年09月03日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069833

    2010年09月03日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069834

    2010年09月03日
    商標コード
    6
    卑金属及びその製品

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069834

    2010年09月03日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069834

    2010年09月03日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069834

    2010年09月03日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 商標 2010069834

    2010年09月03日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    HORIBAMETRON

  • 特許 2010024163

    2010年02月05日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子状物質計測装置

  • 特許 2010024163

    2010年02月05日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子状物質計測装置

  • 特許 2010024163

    2010年02月05日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子状物質計測装置

  • 特許 2010024163

    2010年02月05日
    特許分類
    G01N 15/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子状物質計測装置

  • 特許 2010024163

    2010年02月05日
    特許分類
    G01N 15/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子状物質計測装置

  • 特許 2010024163

    2010年02月05日
    特許分類
    G01N 15/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子状物質計測装置

  • 特許 2010024163

    2010年02月05日
    特許分類
    G01N 15/06 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子状物質計測装置

  • 特許 2010042315

    2010年02月26日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒度分布測定装置

  • 特許 2010042315

    2010年02月26日
    特許分類
    G01N 15/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒度分布測定装置

  • 特許 2010084253

    2010年03月31日
    特許分類
    G01N 27/36
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ガラス電極

  • 特許 2010084253

    2010年03月31日
    特許分類
    G01N 27/36 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ガラス電極

  • 特許 2010084253

    2010年03月31日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ガラス電極

  • 特許 2010084253

    2010年03月31日
    特許分類
    G01N 27/46 353Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ガラス電極

  • 特許 2010088595

    2010年04月07日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計測システム

  • 特許 2010088595

    2010年04月07日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計測システム

  • 特許 2010088595

    2010年04月07日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計測システム

  • 特許 2010088595

    2010年04月07日
    特許分類
    G01N 15/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計測システム

  • 特許 2010088595

    2010年04月07日
    特許分類
    G01N 15/06 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計測システム

  • 特許 2010140836

    2010年06月21日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    蛍光X線分析装置及びコンピュータプログラム

  • 特許 2010143543

    2010年06月24日
    特許分類
    G02B 21/06
    光学
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡装置

  • 特許 2010143543

    2010年06月24日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡装置

  • 特許 2010143543

    2010年06月24日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡装置

  • 特許 2010143543

    2010年06月24日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡装置

  • 特許 2010148331

    2010年06月29日
    特許分類
    G01T 1/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器

  • 特許 2010148331

    2010年06月29日
    特許分類
    G01T 1/20 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器

  • 特許 2010148331

    2010年06月29日
    特許分類
    G01T 1/20 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    A01N 43/54
    農業; 林業; 畜産; 狩猟; 捕獲; 漁業
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    A01N 43/54 A
    農業; 林業; 畜産; 狩猟; 捕獲; 漁業
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    A01P 3/00
    農業; 林業; 畜産; 狩猟; 捕獲; 漁業
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    C07D239/52
    有機化学
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    C07K 16/44
    有機化学
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    C12N 5/00 102
    生化学; ビ-ル; 酒精; ぶどう酒; 酢;微生物学; 酵素学; 突然変異または遺伝子工学
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    C12N 5/10
    生化学; ビ-ル; 酒精; ぶどう酒; 酢;微生物学; 酵素学; 突然変異または遺伝子工学
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    C12P 21/08
    生化学; ビ-ル; 酒精; ぶどう酒; 酢;微生物学; 酵素学; 突然変異または遺伝子工学
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    G01N 33/53
    測定; 試験
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010149812

    2010年06月30日
    特許分類
    G01N 33/53 S
    測定; 試験
    テーマコード
    4C020

    発明の名称

    アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法

  • 特許 2010151853

    2010年07月02日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子線装置、及び電子顕微鏡を用いた試料の観察方法

  • 特許 2010151853

    2010年07月02日
    特許分類
    H01J 37/22 502A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子線装置、及び電子顕微鏡を用いた試料の観察方法

  • 特許 2010151853

    2010年07月02日
    特許分類
    H01J 37/22 502L
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子線装置、及び電子顕微鏡を用いた試料の観察方法

  • 特許 2010151853

    2010年07月02日
    特許分類
    H01J 37/24
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子線装置、及び電子顕微鏡を用いた試料の観察方法

  • 特許 2010151853

    2010年07月02日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子線装置、及び電子顕微鏡を用いた試料の観察方法

  • 特許 2010151853

    2010年07月02日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子線装置、及び電子顕微鏡を用いた試料の観察方法

  • 特許 2010162715

    2010年07月20日
    特許分類
    G01N 21/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    集光器装置

  • 特許 2010162715

    2010年07月20日
    特許分類
    G01N 21/62 A
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    集光器装置

  • 特許 2010162715

    2010年07月20日
    特許分類
    H01J 37/285
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    集光器装置

  • 特許 2010166435

    2010年07月23日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2010166435

    2010年07月23日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2010186258

    2010年08月23日
    特許分類
    G01N 15/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    細胞分析用カートリッジ

  • 特許 2010186258

    2010年08月23日
    特許分類
    G01N 15/12 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    細胞分析用カートリッジ

  • 特許 2010186258

    2010年08月23日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    細胞分析用カートリッジ

  • 特許 2010186258

    2010年08月23日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    細胞分析用カートリッジ

  • 特許 2010186258

    2010年08月23日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    細胞分析用カートリッジ

  • 特許 2010186258

    2010年08月23日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    細胞分析用カートリッジ

  • 特許 2010191535

    2010年08月27日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2010191535

    2010年08月27日
    特許分類
    G01N 27/30 311C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2010191535

    2010年08月27日
    特許分類
    G01N 27/30 311D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2010191537

    2010年08月27日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2010191537

    2010年08月27日
    特許分類
    G01N 27/30 311C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2010191537

    2010年08月27日
    特許分類
    G01N 27/30 311D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2010191537

    2010年08月27日
    特許分類
    G01N 27/30 311Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2010191686

    2010年08月30日
    特許分類
    G01K 1/14
    測定; 試験
    テーマコード
    2F056

    発明の名称

    流体温度測定装置

  • 特許 2010191686

    2010年08月30日
    特許分類
    G01K 1/14 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2F056

    発明の名称

    流体温度測定装置

  • 特許 2010193665

    2010年08月31日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    粒子物性測定セル及び粒子物性測定装置

  • 特許 2010193665

    2010年08月31日
    特許分類
    G01N 27/26 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    粒子物性測定セル及び粒子物性測定装置

  • 特許 2010193665

    2010年08月31日
    特許分類
    G01N 27/26 331B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    粒子物性測定セル及び粒子物性測定装置

  • 特許 2010193665

    2010年08月31日
    特許分類
    G01N 27/447
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    粒子物性測定セル及び粒子物性測定装置

  • 特許 2010225848

    2010年10月05日
    特許分類
    G01F 13/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料液計量装置

  • 特許 2010225848

    2010年10月05日
    特許分類
    G01F 13/00 321L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料液計量装置

  • 特許 2010225848

    2010年10月05日
    特許分類
    G01N 27/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料液計量装置

  • 特許 2010225848

    2010年10月05日
    特許分類
    G01N 27/22 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料液計量装置

  • 特許 2010232214

    2010年10月15日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    触媒を用いた分析装置

  • 特許 2010232214

    2010年10月15日
    特許分類
    G01N 1/00 101S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    触媒を用いた分析装置

  • 特許 2010232214

    2010年10月15日
    特許分類
    G01N 31/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    触媒を用いた分析装置

  • 特許 2010232214

    2010年10月15日
    特許分類
    G01N 31/00 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    触媒を用いた分析装置

  • 特許 2010232214

    2010年10月15日
    特許分類
    G01N 31/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    触媒を用いた分析装置

  • 特許 2010232215

    2010年10月15日
    特許分類
    B01D 53/36 B
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G169

    発明の名称

    触媒装置

  • 特許 2010232215

    2010年10月15日
    特許分類
    B01D 53/86
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G169

    発明の名称

    触媒装置

  • 特許 2010232215

    2010年10月15日
    特許分類
    B01J 23/88
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G169

    発明の名称

    触媒装置

  • 特許 2010232215

    2010年10月15日
    特許分類
    B01J 23/88 M
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G169

    発明の名称

    触媒装置

  • 特許 2010232215

    2010年10月15日
    特許分類
    G01N 31/10
    測定; 試験
    テーマコード
    4G169

    発明の名称

    触媒装置

  • 特許 2010260682

    2010年11月22日
    特許分類
    B01J 19/18
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽及びその反応槽を用いた測定装置

  • 特許 2010260682

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽及びその反応槽を用いた測定装置

  • 特許 2010260682

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽及びその反応槽を用いた測定装置

  • 特許 2010260682

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽及びその反応槽を用いた測定装置

  • 特許 2010260682

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽及びその反応槽を用いた測定装置

  • 特許 2010260682

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/02 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽及びその反応槽を用いた測定装置

  • 特許 2010260683

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽

  • 特許 2010260683

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽

  • 特許 2010260683

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/00 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽

  • 特許 2010260683

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽

  • 特許 2010260683

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/02 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    反応槽

  • 特許 2010260684

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 31/16
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    滴定装置

  • 特許 2010260684

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 31/16 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    滴定装置

  • 特許 2010260684

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    滴定装置

  • 特許 2010260684

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/00 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    滴定装置

  • 特許 2010260684

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/06 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    滴定装置

  • 特許 2010260684

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    滴定装置

  • 特許 2010260685

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極体及びその電極体を用いた測定装置

  • 特許 2010260685

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 27/26 341Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極体及びその電極体を用いた測定装置

  • 特許 2010260685

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 33/18
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極体及びその電極体を用いた測定装置

  • 特許 2010260685

    2010年11月22日
    特許分類
    G01N 33/18 104
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極体及びその電極体を用いた測定装置

  • 特許 2010265659

    2010年11月29日
    特許分類
    G01N 21/21
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    旋光計

  • 特許 2010265659

    2010年11月29日
    特許分類
    G01N 21/21 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    旋光計

  • 特許 2010277838

    2010年12月14日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップおよびそれを用いた検査または分析方法

  • 特許 2010277838

    2010年12月14日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップおよびそれを用いた検査または分析方法

  • 特許 2010277839

    2010年12月14日
    特許分類
    B01J 19/00
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    3C081

    発明の名称

    マイクロチップの製造方法およびマイクロチップ

  • 特許 2010277839

    2010年12月14日
    特許分類
    B01J 19/00 321
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    3C081

    発明の名称

    マイクロチップの製造方法およびマイクロチップ

  • 特許 2010277839

    2010年12月14日
    特許分類
    B01J 19/24
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    3C081

    発明の名称

    マイクロチップの製造方法およびマイクロチップ

  • 特許 2010277839

    2010年12月14日
    特許分類
    B01J 19/24 Z
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    3C081

    発明の名称

    マイクロチップの製造方法およびマイクロチップ

  • 特許 2010277839

    2010年12月14日
    特許分類
    B81C 3/00
    マイクロ構造技術
    テーマコード
    3C081

    発明の名称

    マイクロチップの製造方法およびマイクロチップ

  • 特許 2010277839

    2010年12月14日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    3C081

    発明の名称

    マイクロチップの製造方法およびマイクロチップ

  • 特許 2010277839

    2010年12月14日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    3C081

    発明の名称

    マイクロチップの製造方法およびマイクロチップ

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 21/59
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 21/59 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 33/48
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 33/48 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 33/483
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 33/483 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 33/53
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 33/53 X
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 33/72
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010281969

    2010年12月17日
    特許分類
    G01N 33/72 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置及び血液分析方法

  • 特許 2010287860

    2010年12月24日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    光学分析装置

  • 特許 2010287860

    2010年12月24日
    特許分類
    G01N 21/27 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    光学分析装置

  • 特許 2010547910

    2010年12月07日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2010547910

    2010年12月07日
    特許分類
    G01N 1/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2010547910

    2010年12月07日
    特許分類
    G01N 1/00 101Q
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2010547910

    2010年12月07日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2010547910

    2010年12月07日
    特許分類
    G01N 1/00 101S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2010549362

    2010年12月15日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体特性分析装置

  • 特許 2010549362

    2010年12月15日
    特許分類
    G01N 27/26 371G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体特性分析装置

  • 特許 2010549362

    2010年12月15日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体特性分析装置

  • 特許 2010549362

    2010年12月15日
    特許分類
    G01N 27/46 353G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液体特性分析装置

  • 商標 2011003338

    2011年01月20日
    商標コード
    1
    工業用、科学用又は農業用の化学品

    表示用商標

    VETLYSE

  • 商標 2011003339

    2011年01月20日
    商標コード
    1
    工業用、科学用又は農業用の化学品

    表示用商標

    VETライズ

  • 商標 2011008679

    2011年02月09日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    LAQUA

  • 商標 2011020102

    2011年03月22日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HSSE

  • 商標 2011020102

    2011年03月22日
    商標コード
    35
    広告、事業の管理又は運営及び事務処理及び小売又は卸売の業務において行われる顧客に対する便益の提供

    表示用商標

    HSSE

  • 商標 2011020102

    2011年03月22日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    HSSE

  • 商標 2011020102

    2011年03月22日
    商標コード
    39
    輸送、こん包及び保管並びに旅行の手配

    表示用商標

    HSSE

  • 商標 2011020102

    2011年03月22日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    HSSE

  • 商標 2011020102

    2011年03月22日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    HSSE

  • 商標 2011046836

    2011年07月05日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    OZGU

  • 商標 2011086194

    2011年11月30日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HORIBA\SYSTEm\ONE

  • 商標 2011092212

    2011年12月21日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ¢ROSELINK

  • 商標 2011092212

    2011年12月21日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ¢ROSELINK

  • 特許 2011026338

    2011年02月09日
    特許分類
    G06F 17/60 234E
    計算; 計数
    テーマコード
    5B055

    発明の名称

    保険料算出システム及び運行配置決定システム

  • 特許 2011026338

    2011年02月09日
    特許分類
    G06Q 40/00
    計算; 計数
    テーマコード
    5B055

    発明の名称

    保険料算出システム及び運行配置決定システム

  • 特許 2011026338

    2011年02月09日
    特許分類
    G08G 1/00
    信号
    テーマコード
    5B055

    発明の名称

    保険料算出システム及び運行配置決定システム

  • 特許 2011026338

    2011年02月09日
    特許分類
    G08G 1/00 D
    信号
    テーマコード
    5B055

    発明の名称

    保険料算出システム及び運行配置決定システム

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/06 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26 381A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26 381Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 341N
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 346
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 353F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046925

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 35/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046965

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G028

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046965

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/06 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G028

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046965

    2011年03月03日
    特許分類
    G01R 27/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G028

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011046965

    2011年03月03日
    特許分類
    G01R 27/22 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G028

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047007

    2011年03月03日
    特許分類
    G01J 1/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G065

    発明の名称

    熱型赤外線センサ

  • 特許 2011047007

    2011年03月03日
    特許分類
    G01J 1/02 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G065

    発明の名称

    熱型赤外線センサ

  • 特許 2011047008

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047008

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26 381A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047008

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26 381Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047008

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047008

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 341M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047008

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 346
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047008

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 353Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01D 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01D 7/00 302M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/06 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26 371Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 341
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 346
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 353F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 35/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047026

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 35/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01D 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01D 7/00 302Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/06 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/26 371Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 306
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 341
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 346
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/46 353F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 27/49
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 35/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011047027

    2011年03月03日
    特許分類
    G01N 35/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    測定装置

  • 特許 2011052090

    2011年03月09日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    吸着性ガス分析装置

  • 特許 2011052090

    2011年03月09日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    吸着性ガス分析装置

  • 特許 2011052090

    2011年03月09日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    吸着性ガス分析装置

  • 特許 2011052090

    2011年03月09日
    特許分類
    G01N 1/28 K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    吸着性ガス分析装置

  • 特許 2011052090

    2011年03月09日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    吸着性ガス分析装置

  • 特許 2011052090

    2011年03月09日
    特許分類
    G01N 21/27 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    吸着性ガス分析装置

  • 特許 2011052090

    2011年03月09日
    特許分類
    G01N 21/39
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    吸着性ガス分析装置

  • 特許 2011064490

    2011年03月23日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011064490

    2011年03月23日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011064490

    2011年03月23日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011064490

    2011年03月23日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011064490

    2011年03月23日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011064490

    2011年03月23日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011081080

    2011年03月31日
    特許分類
    G01N 27/30 301U
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極体

  • 特許 2011081080

    2011年03月31日
    特許分類
    G01N 27/414
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電極体

  • 特許 2011081979

    2011年04月01日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011081979

    2011年04月01日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011081979

    2011年04月01日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011081979

    2011年04月01日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011081979

    2011年04月01日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011081979

    2011年04月01日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2011095413

    2011年04月21日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011095413

    2011年04月21日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011095413

    2011年04月21日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011095413

    2011年04月21日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011097579

    2011年04月25日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    蛍光X線検出装置及び蛍光X線検出方法

  • 特許 2011098227

    2011年04月26日
    特許分類
    B01J 19/00
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011098227

    2011年04月26日
    特許分類
    B01J 19/00 321
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011098227

    2011年04月26日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011098227

    2011年04月26日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011098227

    2011年04月26日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011098227

    2011年04月26日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2011105972

    2011年05月11日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置

  • 特許 2011105972

    2011年05月11日
    特許分類
    G01N 27/30 301U
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置

  • 特許 2011105972

    2011年05月11日
    特許分類
    G01N 27/30 311D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置

  • 特許 2011105972

    2011年05月11日
    特許分類
    G01N 27/30 313A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置

  • 特許 2011105972

    2011年05月11日
    特許分類
    G01N 27/401
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置

  • 特許 2011105972

    2011年05月11日
    特許分類
    G01N 27/414
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置

  • 特許 2011105972

    2011年05月11日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置

  • 特許 2011105972

    2011年05月11日
    特許分類
    G01N 27/46 353Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置

  • 特許 2011108163

    2011年05月13日
    特許分類
    B29C 65/02
    プラスチックの加工; 可塑状態の物質の加工一般
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップおよびその製造方法

  • 特許 2011108163

    2011年05月13日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップおよびその製造方法

  • 特許 2011108163

    2011年05月13日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップおよびその製造方法

  • 特許 2011108163

    2011年05月13日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップおよびその製造方法

  • 特許 2011108163

    2011年05月13日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップおよびその製造方法

  • 特許 2011110692

    2011年05月17日
    特許分類
    G01N 21/03
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    光学測定装置

  • 特許 2011110692

    2011年05月17日
    特許分類
    G01N 21/03 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    光学測定装置

  • 特許 2011110692

    2011年05月17日
    特許分類
    G01N 21/05
    測定; 試験
    テーマコード
    2G057

    発明の名称

    光学測定装置

  • 特許 2011113072

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 27/30 301E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ISFETセンサ

  • 特許 2011113072

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 27/30 301U
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ISFETセンサ

  • 特許 2011113072

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 27/414
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ISFETセンサ

  • 特許 2011113072

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ISFETセンサ

  • 特許 2011113072

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 27/46 353Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ISFETセンサ

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 33/543
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 33/543 581B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 33/545
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 33/545 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 33/553
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 33/569
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 33/569 L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011113587

    2011年05月20日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ、ならびに、それを用いた測定システムおよび測定方法

  • 特許 2011136643

    2011年06月20日
    特許分類
    G01L 25/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2F049

    発明の名称

    トルク自動検量装置

  • 特許 2011136643

    2011年06月20日
    特許分類
    G01L 25/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2F049

    発明の名称

    トルク自動検量装置

  • 特許 2011171188

    2011年08月04日
    特許分類
    G01N 21/01
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析用プローブ

  • 特許 2011171188

    2011年08月04日
    特許分類
    G01N 21/01 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析用プローブ

  • 特許 2011171188

    2011年08月04日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析用プローブ

  • 特許 2011171188

    2011年08月04日
    特許分類
    G01N 21/35 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析用プローブ

  • 特許 2011175644

    2011年08月11日
    特許分類
    G01T 1/16
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器

  • 特許 2011175644

    2011年08月11日
    特許分類
    G01T 1/16 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器

  • 特許 2011175644

    2011年08月11日
    特許分類
    G01T 1/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器

  • 特許 2011175644

    2011年08月11日
    特許分類
    G01T 1/20 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器

  • 特許 2011175644

    2011年08月11日
    特許分類
    G01T 1/20 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器

  • 特許 2011175644

    2011年08月11日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器

  • 特許 2011175644

    2011年08月11日
    特許分類
    G01T 7/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 1/22 R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/64
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/64 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/78
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/78 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 31/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 31/00 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 31/00 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 33/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177183

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 33/20 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177184

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177184

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/35 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177184

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/64
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177184

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/64 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    分析方法及び分析装置

  • 特許 2011177185

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/64
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    銑鉄中の硫黄の分析方法

  • 特許 2011177185

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 21/64 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    銑鉄中の硫黄の分析方法

  • 特許 2011177185

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 31/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    銑鉄中の硫黄の分析方法

  • 特許 2011177185

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 31/00 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    銑鉄中の硫黄の分析方法

  • 特許 2011177185

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 31/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    銑鉄中の硫黄の分析方法

  • 特許 2011177185

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 31/12 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    銑鉄中の硫黄の分析方法

  • 特許 2011177185

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 33/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    銑鉄中の硫黄の分析方法

  • 特許 2011177185

    2011年08月12日
    特許分類
    G01N 33/20 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    銑鉄中の硫黄の分析方法

  • 特許 2011189066

    2011年08月31日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血免疫測定装置及び全血免疫測定方法

  • 特許 2011189066

    2011年08月31日
    特許分類
    G01N 21/27 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血免疫測定装置及び全血免疫測定方法

  • 特許 2011189066

    2011年08月31日
    特許分類
    G01N 33/53
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血免疫測定装置及び全血免疫測定方法

  • 特許 2011189066

    2011年08月31日
    特許分類
    G01N 33/53 X
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血免疫測定装置及び全血免疫測定方法

  • 特許 2011189066

    2011年08月31日
    特許分類
    G01N 33/72
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血免疫測定装置及び全血免疫測定方法

  • 特許 2011189066

    2011年08月31日
    特許分類
    G01N 33/72 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血免疫測定装置及び全血免疫測定方法

  • 特許 2011191304

    2011年09月02日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2011191304

    2011年09月02日
    特許分類
    G01N 27/30 311D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2011191304

    2011年09月02日
    特許分類
    G01N 27/30 311Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2011206800

    2011年09月22日
    特許分類
    G01N 21/67
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    有機またはポリマー固体試料の放電発光分光分析による測定方法

  • 特許 2011206800

    2011年09月22日
    特許分類
    G01N 21/67 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    有機またはポリマー固体試料の放電発光分光分析による測定方法

  • 特許 2011206800

    2011年09月22日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    有機またはポリマー固体試料の放電発光分光分析による測定方法

  • 特許 2011206800

    2011年09月22日
    特許分類
    G01N 27/62 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    有機またはポリマー固体試料の放電発光分光分析による測定方法

  • 特許 2011232741

    2011年10月24日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体試薬内蔵型マイクロチップ

  • 特許 2011232741

    2011年10月24日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体試薬内蔵型マイクロチップ

  • 特許 2011232741

    2011年10月24日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体試薬内蔵型マイクロチップ

  • 特許 2011232741

    2011年10月24日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体試薬内蔵型マイクロチップ

  • 特許 2011232741

    2011年10月24日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体試薬内蔵型マイクロチップ

  • 特許 2011232741

    2011年10月24日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体試薬内蔵型マイクロチップ

  • 特許 2011246281

    2011年11月10日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置、排ガス分析装置用管理装置及び排ガス分析装置用管理プログラム

  • 特許 2011246281

    2011年11月10日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置、排ガス分析装置用管理装置及び排ガス分析装置用管理プログラム

  • 特許 2011246281

    2011年11月10日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置、排ガス分析装置用管理装置及び排ガス分析装置用管理プログラム

  • 特許 2011246281

    2011年11月10日
    特許分類
    G01N 35/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置、排ガス分析装置用管理装置及び排ガス分析装置用管理プログラム

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    B01D 53/36 101A
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    B01D 53/94
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    F01N 3/00
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    F01N 3/00 G
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    F01N 3/24
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    F01N 3/24 L
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011246867

    2011年11月10日
    特許分類
    G01N 1/00 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011247098

    2011年11月11日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス測定装置及び排ガス測定装置用プログラム

  • 特許 2011252078

    2011年11月17日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス濃度測定装置

  • 特許 2011252078

    2011年11月17日
    特許分類
    G01N 21/35 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス濃度測定装置

  • 特許 2011252078

    2011年11月17日
    特許分類
    G01N 21/35 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス濃度測定装置

  • 特許 2011252078

    2011年11月17日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス濃度測定装置

  • 特許 2011268123

    2011年12月07日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2011268123

    2011年12月07日
    特許分類
    G01N 27/30 311B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2011268123

    2011年12月07日
    特許分類
    G01N 27/30 311C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2011268123

    2011年12月07日
    特許分類
    G01N 27/30 313E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2011268123

    2011年12月07日
    特許分類
    G01N 27/30 313F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2011268123

    2011年12月07日
    特許分類
    G01N 27/30 371L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2011268123

    2011年12月07日
    特許分類
    G01N 27/401
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2011268123

    2011年12月07日
    特許分類
    G01N 27/403
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    参照電極

  • 特許 2011280640

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    試料ガス分析装置及び試料ガス分析装置用プログラム

  • 特許 2011280640

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/35 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    試料ガス分析装置及び試料ガス分析装置用プログラム

  • 特許 2011281170

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    水分濃度測定装置の校正方法及び校正装置

  • 特許 2011281170

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/35 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    水分濃度測定装置の校正方法及び校正装置

  • 特許 2011281170

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/39
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    水分濃度測定装置の校正方法及び校正装置

  • 特許 2011281515

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2011282102

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 15/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計数装置

  • 特許 2011282102

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 15/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計数装置

  • 特許 2011282102

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 15/14
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計数装置

  • 特許 2011282102

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 15/14 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子数計数装置

  • 特許 2011284574

    2011年12月26日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両自動運転装置、エンジンダイナモ制御装置及び各装置に用いられる運転プログラム

  • 特許 2011284574

    2011年12月26日
    特許分類
    G01M 17/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両自動運転装置、エンジンダイナモ制御装置及び各装置に用いられる運転プログラム

  • 特許 2011284574

    2011年12月26日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両自動運転装置、エンジンダイナモ制御装置及び各装置に用いられる運転プログラム

  • 特許 2011284885

    2011年12月27日
    特許分類
    B01D 53/36 101A
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011284885

    2011年12月27日
    特許分類
    B01D 53/94
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011284885

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011284885

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00 101S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011284885

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00 102D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2011286647

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2011286665

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    多段希釈機構に用いられる臨界オリフィス型定流量器の特性測定方法

  • 特許 2011286665

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    多段希釈機構に用いられる臨界オリフィス型定流量器の特性測定方法

  • 特許 2011286665

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00 101T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    多段希釈機構に用いられる臨界オリフィス型定流量器の特性測定方法

  • 特許 2011286665

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    多段希釈機構に用いられる臨界オリフィス型定流量器の特性測定方法

  • 特許 2011286665

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    多段希釈機構に用いられる臨界オリフィス型定流量器の特性測定方法

  • 特許 2011286665

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    多段希釈機構に用いられる臨界オリフィス型定流量器の特性測定方法

  • 特許 2011286706

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2011286706

    2011年12月27日
    特許分類
    G01N 21/35 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2011287801

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 331C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液膜型イオン選択性電極

  • 特許 2011287801

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/333
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液膜型イオン選択性電極

  • 特許 2011287801

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液膜型イオン選択性電極

  • 特許 2011287801

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/46 351B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    液膜型イオン選択性電極

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/26 381A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/26 381D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 311A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 311C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 311D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 331A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 331H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 331K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 371Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/333
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/403
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287803

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 27/46 351B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    校正液

  • 特許 2011287811

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置及びドレンセパレータ

  • 特許 2011287811

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置及びドレンセパレータ

  • 特許 2011287811

    2011年12月28日
    特許分類
    G01N 1/22 S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置及びドレンセパレータ

  • 特許 2011500541

    2010年01月07日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    試料分析装置

  • 特許 2011500541

    2010年01月07日
    特許分類
    G01N 21/27 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    試料分析装置

  • 特許 2011524798

    2010年07月27日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング分析システム

  • 特許 2011524798

    2010年07月27日
    特許分類
    G01N 1/00 101T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング分析システム

  • 特許 2011524798

    2010年07月27日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング分析システム

  • 特許 2011524798

    2010年07月27日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング分析システム

  • 特許 2011543396

    2011年09月13日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析プログラム

  • 特許 2011543396

    2011年09月13日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析プログラム

  • 特許 2011543396

    2011年09月13日
    特許分類
    G01N 15/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析プログラム

  • 特許 2011543396

    2011年09月13日
    特許分類
    G01N 15/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析プログラム

  • 特許 2011543396

    2011年09月13日
    特許分類
    G01N 15/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析プログラム

  • 特許 2011543396

    2011年09月13日
    特許分類
    G01N 15/06 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析プログラム

  • 特許 2011545961

    2011年07月28日
    特許分類
    B60R 1/00
    車両一般
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2011545961

    2011年07月28日
    特許分類
    B60R 1/00 A
    車両一般
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2011545961

    2011年07月28日
    特許分類
    B60R 21/00
    車両一般
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2011545961

    2011年07月28日
    特許分類
    B60R 21/00 624C
    車両一般
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2011545961

    2011年07月28日
    特許分類
    G08G 1/00
    信号
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2011545961

    2011年07月28日
    特許分類
    G08G 1/00 D
    信号
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2011545961

    2011年07月28日
    特許分類
    H04N 7/18
    電気通信技術
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2011545961

    2011年07月28日
    特許分類
    H04N 7/18 K
    電気通信技術
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 商標 2012004900

    2012年01月26日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    RadiLog

  • 商標 2012051486

    2012年06月26日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    DRT

  • 商標 2012053398

    2012年07月02日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HORIBA\ONE\PLATFORM

  • 商標 2012062520

    2012年08月01日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    §LAQUAtwin

  • 商標 2012065259

    2012年08月10日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    B-analyst

  • 商標 2012065259

    2012年08月10日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    B-analyst

  • 商標 2012090832

    2012年11月08日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    SENSORIUM

  • 商標 2012095571

    2012年11月26日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    With Heart

  • 意匠 2012002642

    2012年02月08日
    意匠分類
    J1500 W
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    放射線測定器

  • 意匠 2012002643

    2012年02月08日
    意匠分類
    J1500 W
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    放射線測定器

  • 意匠 2012002644

    2012年02月08日
    意匠分類
    J1500 W
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    放射線測定器用補器

  • 意匠 2012002645

    2012年02月08日
    意匠分類
    J1500 W
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    放射線測定器用補器

  • 意匠 2012008790

    2012年04月13日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    試料分析計

  • 意匠 2012008823

    2012年04月13日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    試料分析計

  • 意匠 2012008824

    2012年04月13日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    試料分析計

  • 特許 2012001165

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2012001165

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2012001165

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2012001165

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2012001165

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2012001165

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    円盤型分析チップ

  • 特許 2012015220

    2012年01月27日
    特許分類
    B01J 19/00
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    包材入り液体試薬内蔵型マイクロチップおよびその使用方法

  • 特許 2012015220

    2012年01月27日
    特許分類
    B01J 19/00 321
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    包材入り液体試薬内蔵型マイクロチップおよびその使用方法

  • 特許 2012015220

    2012年01月27日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    包材入り液体試薬内蔵型マイクロチップおよびその使用方法

  • 特許 2012015220

    2012年01月27日
    特許分類
    G01N 35/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    包材入り液体試薬内蔵型マイクロチップおよびその使用方法

  • 特許 2012015220

    2012年01月27日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    包材入り液体試薬内蔵型マイクロチップおよびその使用方法

  • 特許 2012015220

    2012年01月27日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    包材入り液体試薬内蔵型マイクロチップおよびその使用方法

  • 特許 2012015220

    2012年01月27日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    包材入り液体試薬内蔵型マイクロチップおよびその使用方法

  • 特許 2012015220

    2012年01月27日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    包材入り液体試薬内蔵型マイクロチップおよびその使用方法

  • 特許 2012026005

    2012年02月09日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012026005

    2012年02月09日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012026005

    2012年02月09日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012026005

    2012年02月09日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012029921

    2012年02月14日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2012029921

    2012年02月14日
    特許分類
    G01N 1/22 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2012029921

    2012年02月14日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2012032161

    2012年02月16日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2012032161

    2012年02月16日
    特許分類
    G01N 15/02 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2012032161

    2012年02月16日
    特許分類
    G01N 15/14
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2012032161

    2012年02月16日
    特許分類
    G01N 15/14 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2012032161

    2012年02月16日
    特許分類
    G01N 15/14 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子分析装置

  • 特許 2012032162

    2012年02月16日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒径分布測定装置

  • 特許 2012032162

    2012年02月16日
    特許分類
    G01N 15/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒径分布測定装置

  • 特許 2012064754

    2012年03月22日
    特許分類
    G01M 17/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両固定装置及び車両性能試験装置

  • 特許 2012064754

    2012年03月22日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両固定装置及び車両性能試験装置

  • 特許 2012086589

    2012年04月05日
    特許分類
    B60K 6/22
    車両一般
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電気自動車又はハイブリッド電気自動車用試験システム

  • 特許 2012086589

    2012年04月05日
    特許分類
    B60L 3/00
    車両一般
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電気自動車又はハイブリッド電気自動車用試験システム

  • 特許 2012086589

    2012年04月05日
    特許分類
    B60L 3/00 L
    車両一般
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電気自動車又はハイブリッド電気自動車用試験システム

  • 特許 2012086589

    2012年04月05日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電気自動車又はハイブリッド電気自動車用試験システム

  • 特許 2012086589

    2012年04月05日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電気自動車又はハイブリッド電気自動車用試験システム

  • 特許 2012086589

    2012年04月05日
    特許分類
    H02J 7/00
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電気自動車又はハイブリッド電気自動車用試験システム

  • 特許 2012086589

    2012年04月05日
    特許分類
    H02J 7/00 P
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    電気自動車又はハイブリッド電気自動車用試験システム

  • 特許 2012091311

    2012年04月12日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線検出装置

  • 特許 2012091312

    2012年04月12日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線検出装置

  • 特許 2012104984

    2012年05月01日
    特許分類
    F16D 25/14 640K
    機械要素または単位;機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    3J057

    発明の名称

    速度制御装置及び速度制御装置用プログラム

  • 特許 2012104984

    2012年05月01日
    特許分類
    F16D 48/02
    機械要素または単位;機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    3J057

    発明の名称

    速度制御装置及び速度制御装置用プログラム

  • 特許 2012117042

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012117042

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012117042

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012117042

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012117043

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析計校正システム及び排ガス分析システム

  • 特許 2012117043

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析計校正システム及び排ガス分析システム

  • 特許 2012117043

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/00 102D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    分析計校正システム及び排ガス分析システム

  • 特許 2012117044

    2012年05月22日
    特許分類
    G01M 3/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012117044

    2012年05月22日
    特許分類
    G01M 3/28 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012117044

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012117044

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012117044

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012117044

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012118092

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118092

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118092

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118093

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G024

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118093

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G024

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118093

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 99/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G024

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118093

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 99/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G024

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118094

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/00 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012118094

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012118094

    2012年05月23日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012118094

    2012年05月23日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    排ガス分析システム

  • 特許 2012118095

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118095

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118095

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118096

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012118096

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012118096

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012118096

    2012年05月23日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012118096

    2012年05月23日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2012118097

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両性能試験システム

  • 特許 2012118097

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両性能試験システム

  • 特許 2012118097

    2012年05月23日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    車両性能試験システム

  • 特許 2012118183

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118183

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118183

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118183

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118183

    2012年05月24日
    特許分類
    H04L 13/00 307A
    電気通信技術
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118183

    2012年05月24日
    特許分類
    H04L 29/08
    電気通信技術
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118184

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118184

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118184

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118184

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118185

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118185

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118186

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118186

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012118186

    2012年05月24日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    試験システム

  • 特許 2012122719

    2012年05月30日
    特許分類
    G01N 31/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    元素分析装置

  • 特許 2012122719

    2012年05月30日
    特許分類
    G01N 31/00 K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    元素分析装置

  • 特許 2012122719

    2012年05月30日
    特許分類
    G01N 31/00 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    元素分析装置

  • 特許 2012122719

    2012年05月30日
    特許分類
    G01N 31/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    元素分析装置

  • 特許 2012122719

    2012年05月30日
    特許分類
    G01N 31/12 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    元素分析装置

  • 特許 2012131792

    2012年06月11日
    特許分類
    G01T 1/167
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線又は放射能を測定するための測定装置及び測定方法

  • 特許 2012131792

    2012年06月11日
    特許分類
    G01T 1/167 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線又は放射能を測定するための測定装置及び測定方法

  • 特許 2012134619

    2012年06月14日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    水素炎イオン化型排ガス分析計

  • 特許 2012134619

    2012年06月14日
    特許分類
    G01N 27/62 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    水素炎イオン化型排ガス分析計

  • 特許 2012138125

    2012年06月19日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2012138125

    2012年06月19日
    特許分類
    G01N 21/35 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2012161753

    2012年07月20日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器

  • 特許 2012161753

    2012年07月20日
    特許分類
    G01T 1/24
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器

  • 特許 2012163152

    2012年07月23日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2012163152

    2012年07月23日
    特許分類
    G01N 27/30 311Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2012163152

    2012年07月23日
    特許分類
    G01N 27/30 313Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2012163152

    2012年07月23日
    特許分類
    G01N 27/401
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    比較電極

  • 特許 2012163164

    2012年07月23日
    特許分類
    G01N 27/30 331K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオン電極

  • 特許 2012163164

    2012年07月23日
    特許分類
    G01N 27/333
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオン電極

  • 特許 2012163164

    2012年07月23日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオン電極

  • 特許 2012163164

    2012年07月23日
    特許分類
    G01N 27/46 351A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    イオン電極

  • 特許 2012172332

    2012年08月02日
    特許分類
    H03F 3/08
    基本電子回路
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2012172332

    2012年08月02日
    特許分類
    H03F 3/34
    基本電子回路
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2012172332

    2012年08月02日
    特許分類
    H03F 3/34 Z
    基本電子回路
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2012173896

    2012年08月06日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス希釈装置及びPM測定システム

  • 特許 2012173896

    2012年08月06日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス希釈装置及びPM測定システム

  • 特許 2012173896

    2012年08月06日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス希釈装置及びPM測定システム

  • 特許 2012180571

    2012年08月16日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2012180571

    2012年08月16日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2012222297

    2012年10月04日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    試料ホルダ、試料室及びX線分析装置

  • 特許 2012222297

    2012年10月04日
    特許分類
    G01N 1/28 W
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    試料ホルダ、試料室及びX線分析装置

  • 特許 2012222297

    2012年10月04日
    特許分類
    G01N 21/65
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    試料ホルダ、試料室及びX線分析装置

  • 特許 2012222297

    2012年10月04日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    試料ホルダ、試料室及びX線分析装置

  • 特許 2012242927

    2012年11月02日
    特許分類
    G01T 1/24
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器、放射線検出装置、及びX線分析装置

  • 特許 2012243111

    2012年11月02日
    特許分類
    G01F 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2F035

    発明の名称

    燃料測定システム

  • 特許 2012243111

    2012年11月02日
    特許分類
    G01F 1/00 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2F035

    発明の名称

    燃料測定システム

  • 特許 2012243111

    2012年11月02日
    特許分類
    G01F 1/84
    測定; 試験
    テーマコード
    2F035

    発明の名称

    燃料測定システム

  • 特許 2012243111

    2012年11月02日
    特許分類
    G01F 9/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2F035

    発明の名称

    燃料測定システム

  • 特許 2012243111

    2012年11月02日
    特許分類
    G01F 9/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2F035

    発明の名称

    燃料測定システム

  • 特許 2012243172

    2012年11月02日
    特許分類
    B01D 53/36 ZABB
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    3G091

    発明の名称

    流体加熱装置及び触媒評価試験装置

  • 特許 2012243172

    2012年11月02日
    特許分類
    B01D 53/86 ZAB
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    3G091

    発明の名称

    流体加熱装置及び触媒評価試験装置

  • 特許 2012243172

    2012年11月02日
    特許分類
    F01N 3/00
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    3G091

    発明の名称

    流体加熱装置及び触媒評価試験装置

  • 特許 2012243172

    2012年11月02日
    特許分類
    F01N 3/00 G
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    3G091

    発明の名称

    流体加熱装置及び触媒評価試験装置

  • 特許 2012243172

    2012年11月02日
    特許分類
    F01N 13/08
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    3G091

    発明の名称

    流体加熱装置及び触媒評価試験装置

  • 特許 2012243172

    2012年11月02日
    特許分類
    F01N 13/08 B
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    3G091

    発明の名称

    流体加熱装置及び触媒評価試験装置

  • 特許 2012243173

    2012年11月02日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析システム及び当該システム用プログラム

  • 特許 2012243173

    2012年11月02日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析システム及び当該システム用プログラム

  • 特許 2012243173

    2012年11月02日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス分析システム及び当該システム用プログラム

  • 特許 2012244284

    2012年11月06日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及びその動作方法

  • 特許 2012244284

    2012年11月06日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及びその動作方法

  • 特許 2012244284

    2012年11月06日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及びその動作方法

  • 特許 2012244284

    2012年11月06日
    特許分類
    G01N 1/28 K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及びその動作方法

  • 特許 2012245083

    2012年11月07日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    5B017

    発明の名称

    分析システム及び管理装置

  • 特許 2012245083

    2012年11月07日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5B017

    発明の名称

    分析システム及び管理装置

  • 特許 2012245083

    2012年11月07日
    特許分類
    G06F 21/20 131A
    計算; 計数
    テーマコード
    5B017

    発明の名称

    分析システム及び管理装置

  • 特許 2012245083

    2012年11月07日
    特許分類
    G06F 21/24 165C
    計算; 計数
    テーマコード
    5B017

    発明の名称

    分析システム及び管理装置

  • 特許 2012245083

    2012年11月07日
    特許分類
    G06F 21/31
    計算; 計数
    テーマコード
    5B017

    発明の名称

    分析システム及び管理装置

  • 特許 2012245083

    2012年11月07日
    特許分類
    G06F 21/62
    計算; 計数
    テーマコード
    5B017

    発明の名称

    分析システム及び管理装置

  • 特許 2012246267

    2012年11月08日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    分析システム、情報処理装置及びプログラム

  • 特許 2012247393

    2012年11月09日
    特許分類
    G01J 3/45
    測定; 試験
    テーマコード
    5H303

    発明の名称

    干渉計、分光分析装置及び干渉計の制御プログラム

  • 特許 2012247393

    2012年11月09日
    特許分類
    G05D 3/00
    制御; 調整
    テーマコード
    5H303

    発明の名称

    干渉計、分光分析装置及び干渉計の制御プログラム

  • 特許 2012247393

    2012年11月09日
    特許分類
    G05D 3/00 S
    制御; 調整
    テーマコード
    5H303

    発明の名称

    干渉計、分光分析装置及び干渉計の制御プログラム

  • 特許 2012250469

    2012年11月14日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    着色剤同定方法、及び着色剤同定装置

  • 特許 2012250469

    2012年11月14日
    特許分類
    G01N 21/27 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    着色剤同定方法、及び着色剤同定装置

  • 特許 2012250469

    2012年11月14日
    特許分類
    G01N 21/64
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    着色剤同定方法、及び着色剤同定装置

  • 特許 2012250469

    2012年11月14日
    特許分類
    G01N 21/64 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    着色剤同定方法、及び着色剤同定装置

  • 特許 2012250469

    2012年11月14日
    特許分類
    G01N 21/65
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    着色剤同定方法、及び着色剤同定装置

  • 特許 2012260394

    2012年11月28日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    光学分析装置

  • 特許 2012260394

    2012年11月28日
    特許分類
    G01N 21/27 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    光学分析装置

  • 特許 2012261096

    2012年11月29日
    特許分類
    G01T 1/167
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射能濃度測定装置、及び、放射能濃度の測定方法

  • 特許 2012261096

    2012年11月29日
    特許分類
    G01T 1/167 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射能濃度測定装置、及び、放射能濃度の測定方法

  • 特許 2012274006

    2012年12月14日
    特許分類
    G07C 5/00
    チェック装置
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運転状態記録装置

  • 特許 2012274006

    2012年12月14日
    特許分類
    G07C 5/00 Z
    チェック装置
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運転状態記録装置

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    B01J 19/00
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    B01J 19/00 321
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    B81B 1/00
    マイクロ構造技術
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285111

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2012285524

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分光分析方法及び分光分析装置

  • 特許 2012285524

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 21/27 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分光分析方法及び分光分析装置

  • 特許 2012285524

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 21/59
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分光分析方法及び分光分析装置

  • 特許 2012285524

    2012年12月27日
    特許分類
    G01N 21/59 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分光分析方法及び分光分析装置

  • 特許 2012286716

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電気化学的分析方法、電気化学的分析装置及び試薬セット

  • 特許 2012286716

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 27/30 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電気化学的分析方法、電気化学的分析装置及び試薬セット

  • 特許 2012286716

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 27/48
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電気化学的分析方法、電気化学的分析装置及び試薬セット

  • 特許 2012286716

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 27/48 301
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    電気化学的分析方法、電気化学的分析装置及び試薬セット

  • 商標 2013027761

    2013年04月15日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HOP

  • 商標 2013049365

    2013年06月26日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    LAQUAact

  • 商標 2013049366

    2013年06月26日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    READOUT

  • 商標 2013049366

    2013年06月26日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    READOUT

  • 商標 2013049366

    2013年06月26日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    READOUT

  • 商標 2013055701

    2013年07月18日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    Antsense DUO

  • 商標 2013074362

    2013年09月24日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    HORIBA FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074362

    2013年09月24日
    商標コード
    35
    広告、事業の管理又は運営及び事務処理及び小売又は卸売の業務において行われる顧客に対する便益の提供

    表示用商標

    HORIBA FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074362

    2013年09月24日
    商標コード
    39
    輸送、こん包及び保管並びに旅行の手配

    表示用商標

    HORIBA FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074362

    2013年09月24日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    HORIBA FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074362

    2013年09月24日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    HORIBA FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074363

    2013年09月24日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074363

    2013年09月24日
    商標コード
    35
    広告、事業の管理又は運営及び事務処理及び小売又は卸売の業務において行われる顧客に対する便益の提供

    表示用商標

    FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074363

    2013年09月24日
    商標コード
    39
    輸送、こん包及び保管並びに旅行の手配

    表示用商標

    FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074363

    2013年09月24日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    FLEET LINKAGE

  • 商標 2013074363

    2013年09月24日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    FLEET LINKAGE

  • 意匠 2013010934

    2013年05月17日
    意匠分類
    J151
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    液体含有成分濃度計

  • 特許 2013001129

    2013年01月08日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013001129

    2013年01月08日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013001129

    2013年01月08日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013001129

    2013年01月08日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013001129

    2013年01月08日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013001129

    2013年01月08日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013021808

    2013年02月06日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013021808

    2013年02月06日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013021808

    2013年02月06日
    特許分類
    G01N 1/22 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013021808

    2013年02月06日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013042250

    2013年03月04日
    特許分類
    G01T 1/16
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定装置及び放射線測定プログラム

  • 特許 2013042250

    2013年03月04日
    特許分類
    G01T 1/16 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線測定装置及び放射線測定プログラム

  • 特許 2013043040

    2013年03月05日
    特許分類
    B04B 5/02
    物理的または化学的工程を行なうための遠心装置または機械
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ用遠心力印加装置

  • 特許 2013043040

    2013年03月05日
    特許分類
    B04B 5/02 Z
    物理的または化学的工程を行なうための遠心装置または機械
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ用遠心力印加装置

  • 特許 2013043040

    2013年03月05日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ用遠心力印加装置

  • 特許 2013043040

    2013年03月05日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ用遠心力印加装置

  • 特許 2013043040

    2013年03月05日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ用遠心力印加装置

  • 特許 2013043040

    2013年03月05日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ用遠心力印加装置

  • 特許 2013044940

    2013年03月07日
    特許分類
    F01N 3/00
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013044940

    2013年03月07日
    特許分類
    F01N 3/00 G
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013044940

    2013年03月07日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013044940

    2013年03月07日
    特許分類
    G01N 1/00 101T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013044940

    2013年03月07日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013044940

    2013年03月07日
    特許分類
    G01N 1/22 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013044940

    2013年03月07日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013048341

    2013年03月11日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2013048341

    2013年03月11日
    特許分類
    G01N 1/22 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2013048341

    2013年03月11日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2013048341

    2013年03月11日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    排ガス分析装置

  • 特許 2013048342

    2013年03月11日
    特許分類
    G01M 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    内燃機関試験システム

  • 特許 2013048342

    2013年03月11日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    内燃機関試験システム

  • 特許 2013048342

    2013年03月11日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    内燃機関試験システム

  • 特許 2013048342

    2013年03月11日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    内燃機関試験システム

  • 特許 2013058416

    2013年03月21日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    温度計

  • 特許 2013058416

    2013年03月21日
    特許分類
    G01N 21/27 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    温度計

  • 特許 2013061777

    2013年03月25日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    製造処理プロセスで用いられる濃度測定装置

  • 特許 2013061777

    2013年03月25日
    特許分類
    G01N 21/27 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    製造処理プロセスで用いられる濃度測定装置

  • 特許 2013061777

    2013年03月25日
    特許分類
    G01N 21/27 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    製造処理プロセスで用いられる濃度測定装置

  • 特許 2013073200

    2013年03月29日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置及び排ガスサンプリング方法

  • 特許 2013073200

    2013年03月29日
    特許分類
    G01N 1/00 101T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置及び排ガスサンプリング方法

  • 特許 2013073200

    2013年03月29日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置及び排ガスサンプリング方法

  • 特許 2013073200

    2013年03月29日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置及び排ガスサンプリング方法

  • 特許 2013073200

    2013年03月29日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置及び排ガスサンプリング方法

  • 特許 2013074767

    2013年03月29日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス混合器及び定容量サンプリング装置

  • 特許 2013074767

    2013年03月29日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス混合器及び定容量サンプリング装置

  • 特許 2013074767

    2013年03月29日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス混合器及び定容量サンプリング装置

  • 特許 2013080230

    2013年04月08日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2013080230

    2013年04月08日
    特許分類
    G01N 21/27 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2013080230

    2013年04月08日
    特許分類
    G01N 21/35
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2013080230

    2013年04月08日
    特許分類
    G01N 21/35 104
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    分析装置

  • 特許 2013087320

    2013年04月18日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013087320

    2013年04月18日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013087320

    2013年04月18日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013087320

    2013年04月18日
    特許分類
    G01N 35/02 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    マイクロチップ

  • 特許 2013090601

    2013年04月23日
    特許分類
    G01T 1/24
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器、放射線検出方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2013090601

    2013年04月23日
    特許分類
    H01L 31/00 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器、放射線検出方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2013090601

    2013年04月23日
    特許分類
    H01L 31/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器、放射線検出方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2013093773

    2013年04月26日
    特許分類
    G01N 33/49
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013093773

    2013年04月26日
    特許分類
    G01N 33/49 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013093773

    2013年04月26日
    特許分類
    G01N 33/53
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013093773

    2013年04月26日
    特許分類
    G01N 33/53 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013100186

    2013年05月10日
    特許分類
    G07C 5/08
    チェック装置
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析システム、車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2013100186

    2013年05月10日
    特許分類
    G08G 1/00
    信号
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析システム、車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2013100186

    2013年05月10日
    特許分類
    G08G 1/00 D
    信号
    テーマコード
    5H181

    発明の名称

    車両挙動解析システム、車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム

  • 特許 2013100604

    2013年05月10日
    特許分類
    G01T 1/17
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法

  • 特許 2013100604

    2013年05月10日
    特許分類
    G01T 1/17 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法

  • 特許 2013100604

    2013年05月10日
    特許分類
    G01T 1/17 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法

  • 特許 2013100604

    2013年05月10日
    特許分類
    G01T 1/36
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法

  • 特許 2013100604

    2013年05月10日
    特許分類
    G01T 1/36 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法

  • 特許 2013100604

    2013年05月10日
    特許分類
    G01T 1/36 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法

  • 特許 2013103435

    2013年05月15日
    特許分類
    G01N 21/65
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    ラマン散乱を用いた心臓組織の識別方法及び装置

  • 特許 2013104028

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 33/49
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013104028

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 33/49 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013104028

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 33/53
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013104028

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 33/53 X
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013104028

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 35/06 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013104028

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    全血血球免疫測定装置

  • 特許 2013104434

    2013年05月16日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス流量計及び排ガス分析システム

  • 特許 2013104434

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス流量計及び排ガス分析システム

  • 特許 2013104434

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス流量計及び排ガス分析システム

  • 特許 2013104434

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス流量計及び排ガス分析システム

  • 特許 2013104434

    2013年05月16日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス流量計及び排ガス分析システム

  • 特許 2013104753

    2013年05月17日
    特許分類
    F01N 3/00
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス採取装置、及び、排ガス漏れ検知方法

  • 特許 2013104753

    2013年05月17日
    特許分類
    F01N 3/00 G
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス採取装置、及び、排ガス漏れ検知方法

  • 特許 2013104753

    2013年05月17日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス採取装置、及び、排ガス漏れ検知方法

  • 特許 2013104753

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス採取装置、及び、排ガス漏れ検知方法

  • 特許 2013104753

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス採取装置、及び、排ガス漏れ検知方法

  • 特許 2013104753

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス採取装置、及び、排ガス漏れ検知方法

  • 特許 2013104753

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム、排ガス採取装置、及び、排ガス漏れ検知方法

  • 特許 2013105519

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 33/48
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置

  • 特許 2013105519

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 33/48 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置

  • 特許 2013105519

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 33/49
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置

  • 特許 2013105519

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 33/49 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置

  • 特許 2013105519

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 33/49 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G045

    発明の名称

    血液分析装置

  • 特許 2013107472

    2013年05月21日
    特許分類
    G01F 1/84
    測定; 試験
    テーマコード
    2F043

    発明の名称

    分析機器用架台

  • 特許 2013107472

    2013年05月21日
    特許分類
    G01F 25/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2F043

    発明の名称

    分析機器用架台

  • 特許 2013107472

    2013年05月21日
    特許分類
    G01F 25/00 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2F043

    発明の名称

    分析機器用架台

  • 特許 2013117262

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013117262

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013117262

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガスサンプリング装置

  • 特許 2013117329

    2013年06月03日
    特許分類
    G07C 5/00
    チェック装置
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行管理システム及び運行記録装置

  • 特許 2013117329

    2013年06月03日
    特許分類
    G07C 5/00 Z
    チェック装置
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行管理システム及び運行記録装置

  • 特許 2013117329

    2013年06月03日
    特許分類
    G08G 1/00
    信号
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行管理システム及び運行記録装置

  • 特許 2013117329

    2013年06月03日
    特許分類
    G08G 1/00 D
    信号
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行管理システム及び運行記録装置

  • 特許 2013117741

    2013年06月04日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    模擬ガス供給装置

  • 特許 2013126911

    2013年06月17日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子径分布測定装置

  • 特許 2013126911

    2013年06月17日
    特許分類
    G01N 15/02 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子径分布測定装置

  • 特許 2013132140

    2013年06月24日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子径分布測定装置

  • 特許 2013132140

    2013年06月24日
    特許分類
    G01N 15/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子径分布測定装置

  • 特許 2013132141

    2013年06月24日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子径分布測定装置

  • 特許 2013132141

    2013年06月24日
    特許分類
    G01N 15/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子径分布測定装置

  • 特許 2013146959

    2013年07月12日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    濃度測定装置

  • 特許 2013146959

    2013年07月12日
    特許分類
    G01N 27/26 381A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    濃度測定装置

  • 特許 2013146959

    2013年07月12日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    濃度測定装置

  • 特許 2013146959

    2013年07月12日
    特許分類
    G01N 27/46 336B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    濃度測定装置

  • 特許 2013154939

    2013年07月25日
    特許分類
    G01T 1/17
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス処理装置及び放射線検出装置

  • 特許 2013154939

    2013年07月25日
    特許分類
    G01T 1/17 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス処理装置及び放射線検出装置

  • 特許 2013154939

    2013年07月25日
    特許分類
    G01T 1/17 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    パルス処理装置及び放射線検出装置

  • 特許 2013157069

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 33/18
    測定; 試験
    テーマコード
    2G055

    発明の名称

    水質分析装置及び水質分析方法

  • 特許 2013157069

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 33/18 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G055

    発明の名称

    水質分析装置及び水質分析方法

  • 特許 2013157070

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 1/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    液体計量装置及び水質分析装置

  • 特許 2013157070

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 1/10 N
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    液体計量装置及び水質分析装置

  • 特許 2013157070

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 1/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    液体計量装置及び水質分析装置

  • 特許 2013157070

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 1/20 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    液体計量装置及び水質分析装置

  • 特許 2013157207

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体分析装置

  • 特許 2013157207

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 35/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体分析装置

  • 特許 2013157207

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体分析装置

  • 特許 2013157207

    2013年07月29日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体分析装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    F02D 45/00
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    F02D 45/00 364N
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    F02D 45/00 368F
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    G01F 1/66
    測定; 試験
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    G01F 1/66 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    G01F 9/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    G01F 9/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    G01N 27/411
    測定; 試験
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167302

    2013年08月12日
    特許分類
    G01N 27/58 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167426

    2013年08月12日
    特許分類
    G01F 9/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量演算装置、燃料消費量演算プログラム及び燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167426

    2013年08月12日
    特許分類
    G01F 9/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2F030

    発明の名称

    燃料消費量演算装置、燃料消費量演算プログラム及び燃料消費量測定装置

  • 特許 2013167901

    2013年08月12日
    特許分類
    B60R 21/00
    車両一般
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行記録装置

  • 特許 2013167901

    2013年08月12日
    特許分類
    B60R 21/00 630F
    車両一般
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行記録装置

  • 特許 2013167901

    2013年08月12日
    特許分類
    G07C 5/00
    チェック装置
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行記録装置

  • 特許 2013167901

    2013年08月12日
    特許分類
    G07C 5/00 Z
    チェック装置
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行記録装置

  • 特許 2013167901

    2013年08月12日
    特許分類
    G08G 1/00
    信号
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行記録装置

  • 特許 2013167901

    2013年08月12日
    特許分類
    G08G 1/00 D
    信号
    テーマコード
    3E138

    発明の名称

    運行記録装置

  • 特許 2013173312

    2013年08月23日
    特許分類
    C12M 1/34
    生化学; ビ-ル; 酒精; ぶどう酒; 酢;微生物学; 酵素学; 突然変異または遺伝子工学
    テーマコード
    4B063

    発明の名称

    プログラム、情報処理装置及び情報処理方法

  • 特許 2013173312

    2013年08月23日
    特許分類
    C12M 1/34 B
    生化学; ビ-ル; 酒精; ぶどう酒; 酢;微生物学; 酵素学; 突然変異または遺伝子工学
    テーマコード
    4B063

    発明の名称

    プログラム、情報処理装置及び情報処理方法

  • 特許 2013173312

    2013年08月23日
    特許分類
    C12Q 1/02
    生化学; ビ-ル; 酒精; ぶどう酒; 酢;微生物学; 酵素学; 突然変異または遺伝子工学
    テーマコード
    4B063

    発明の名称

    プログラム、情報処理装置及び情報処理方法

  • 特許 2013180920

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 27/30 371
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ガラス電極の応答ガラス用洗浄キット及びガラス電極の応答ガラス洗浄方法

  • 特許 2013180920

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 27/38
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ガラス電極の応答ガラス用洗浄キット及びガラス電極の応答ガラス洗浄方法

  • 特許 2013180920

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 27/38 301
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ガラス電極の応答ガラス用洗浄キット及びガラス電極の応答ガラス洗浄方法

  • 特許 2013180920

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 27/403
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    ガラス電極の応答ガラス用洗浄キット及びガラス電極の応答ガラス洗浄方法

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 1/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 1/10 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 1/16
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 1/16 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 21/01
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 21/01 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 21/03
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 21/03 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 21/59
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 21/59 K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 33/18
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013181657

    2013年09月02日
    特許分類
    G01N 33/18 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    油分測定装置

  • 特許 2013187504

    2011年09月22日
    特許分類
    G01N 21/67
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    固体試料の放電発光分光分析による測定方法

  • 特許 2013187504

    2011年09月22日
    特許分類
    G01N 21/67 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    固体試料の放電発光分光分析による測定方法

  • 特許 2013191364

    2013年09月17日
    特許分類
    G01N 27/26
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    マルチイオンセンサ

  • 特許 2013191364

    2013年09月17日
    特許分類
    G01N 27/26 371B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    マルチイオンセンサ

  • 特許 2013191364

    2013年09月17日
    特許分類
    G01N 27/26 381A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    マルチイオンセンサ

  • 特許 2013191364

    2013年09月17日
    特許分類
    G01N 27/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    マルチイオンセンサ

  • 特許 2013191364

    2013年09月17日
    特許分類
    G01N 27/28 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    マルチイオンセンサ

  • 特許 2013191364

    2013年09月17日
    特許分類
    G01N 27/416
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    マルチイオンセンサ

  • 特許 2013191364

    2013年09月17日
    特許分類
    G01N 27/46 351B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G056

    発明の名称

    マルチイオンセンサ

  • 特許 2013196446

    2013年09月24日
    特許分類
    G01M 17/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    運転モード表示装置及び車両モード表示用プログラム

  • 特許 2013196446

    2013年09月24日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    運転モード表示装置及び車両モード表示用プログラム

  • 特許 2013196446

    2013年09月24日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G069

    発明の名称

    運転モード表示装置及び車両モード表示用プログラム

  • 特許 2013218793

    2013年10月22日
    特許分類
    F01N 13/08
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取装置及び排ガス分析システム

  • 特許 2013218793

    2013年10月22日
    特許分類
    F01N 13/08 Z
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取装置及び排ガス分析システム

  • 特許 2013218793

    2013年10月22日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取装置及び排ガス分析システム

  • 特許 2013218793

    2013年10月22日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取装置及び排ガス分析システム

  • 特許 2013218793

    2013年10月22日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取装置及び排ガス分析システム

  • 特許 2013218793

    2013年10月22日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス採取装置及び排ガス分析システム

  • 特許 2013246491

    2013年11月28日
    特許分類
    F02D 45/00
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス測定装置及び排ガス測定プログラム

  • 特許 2013246491

    2013年11月28日
    特許分類
    F02D 45/00 364N
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス測定装置及び排ガス測定プログラム

  • 特許 2013246491

    2013年11月28日
    特許分類
    F02D 45/00 368G
    燃焼機関; 熱ガスまたは燃焼生成物を利用する機関設備
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス測定装置及び排ガス測定プログラム

  • 特許 2013246491

    2013年11月28日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G087

    発明の名称

    排ガス測定装置及び排ガス測定プログラム

  • 特許 2013248023

    2011年09月22日
    特許分類
    G01N 21/67
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    固体試料の放電発光分光分析による測定装置

  • 特許 2013248023

    2011年09月22日
    特許分類
    G01N 21/67 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    固体試料の放電発光分光分析による測定装置

  • 特許 2013264588

    2013年12月20日
    特許分類
    G01J 3/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    分光装置

  • 特許 2013264588

    2013年12月20日
    特許分類
    G01J 3/02 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G020

    発明の名称

    分光装置

  • 特許 2013272744

    2013年12月27日
    特許分類
    G01M 13/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G024

    発明の名称

    車両駆動系試験装置

  • 特許 2013272744

    2013年12月27日
    特許分類
    G01M 17/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G024

    発明の名称

    車両駆動系試験装置

  • 特許 2013272744

    2013年12月27日
    特許分類
    G01M 17/007
    測定; 試験
    テーマコード
    2G024

    発明の名称

    車両駆動系試験装置

  • 特許 2013273215

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 31/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G042

    発明の名称

    触媒評価装置

  • 特許 2013273310

    2013年12月27日
    特許分類
    B01D 53/36 B
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4D048

    発明の名称

    触媒評価装置

  • 特許 2013273310

    2013年12月27日
    特許分類
    B01D 53/86
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4D048

    発明の名称

    触媒評価装置

  • 特許 2013273310

    2013年12月27日
    特許分類
    F01N 3/00 ZAB
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    4D048

    発明の名称

    触媒評価装置

  • 特許 2013273310

    2013年12月27日
    特許分類
    F01N 3/00 ZABG
    機械または機関一般; 機関設備一般;蒸気機関
    テーマコード
    4D048

    発明の名称

    触媒評価装置

  • 特許 2013273310

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    4D048

    発明の名称

    触媒評価装置

  • 特許 2013273310

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22 D
    測定; 試験
    テーマコード
    4D048

    発明の名称

    触媒評価装置

  • 特許 2013273310

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    4D048

    発明の名称

    触媒評価装置

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 21/77
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 21/77 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 31/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 31/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 31/00 N
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 31/00 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 31/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 31/22 122
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 35/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273328

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 35/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    分析装置及び試薬劣化度算出方法

  • 特許 2013273411

    2013年12月27日
    特許分類
    G01N 21/76
    測定; 試験
    テーマコード
    2G054

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013503424

    2012年02月09日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013503424

    2012年02月09日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013503424

    2012年02月09日
    特許分類
    G01N 1/00 101X
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013516321

    2012年05月17日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    測定ユニットおよびガス分析装置

  • 特許 2013529947

    2012年08月02日
    特許分類
    G01N 21/65
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2013529947

    2012年08月02日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2013529947

    2012年08月02日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2013538474

    2012年09月03日
    特許分類
    G01M 15/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013538474

    2012年09月03日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013538474

    2012年09月03日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013538474

    2012年09月03日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013538474

    2012年09月03日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013538474

    2012年09月03日
    特許分類
    G01N 1/22 R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2013548253

    2012年12月05日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2013548254

    2012年12月05日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2013548254

    2012年12月05日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2013548254

    2012年12月05日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2013548254

    2012年12月05日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2013548254

    2012年12月05日
    特許分類
    H01J 37/28 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2013557575

    2013年02月07日
    特許分類
    G06T 11/60
    計算; 計数
    テーマコード
    2C032

    発明の名称

    測定データ表示装置

  • 特許 2013557575

    2013年02月07日
    特許分類
    G06T 11/60 300
    計算; 計数
    テーマコード
    2C032

    発明の名称

    測定データ表示装置

  • 特許 2013557575

    2013年02月07日
    特許分類
    G09B 29/00
    教育; 暗号方法; 表示; 広告; シ-ル
    テーマコード
    2C032

    発明の名称

    測定データ表示装置

  • 特許 2013557575

    2013年02月07日
    特許分類
    G09B 29/00 A
    教育; 暗号方法; 表示; 広告; シ-ル
    テーマコード
    2C032

    発明の名称

    測定データ表示装置

  • 特許 2013557575

    2013年02月07日
    特許分類
    G09B 29/00 F
    教育; 暗号方法; 表示; 広告; シ-ル
    テーマコード
    2C032

    発明の名称

    測定データ表示装置

  • 特許 2013557575

    2013年02月07日
    特許分類
    G09B 29/10
    教育; 暗号方法; 表示; 広告; シ-ル
    テーマコード
    2C032

    発明の名称

    測定データ表示装置

  • 特許 2013557575

    2013年02月07日
    特許分類
    G09B 29/10 A
    教育; 暗号方法; 表示; 広告; シ-ル
    テーマコード
    2C032

    発明の名称

    測定データ表示装置

  • 特許 2014256666

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014256666

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00 101S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014256666

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014256666

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014256666

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2014518336

    2013年04月17日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス希釈装置

  • 特許 2014518336

    2013年04月17日
    特許分類
    G01N 1/00 101T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス希釈装置

  • 特許 2014518336

    2013年04月17日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス希釈装置

  • 特許 2014518336

    2013年04月17日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス希釈装置

  • 特許 2014518336

    2013年04月17日
    特許分類
    G01N 1/22 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス希釈装置

  • 特許 2014522519

    2013年06月11日
    特許分類
    G01N 15/06
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    光透過性粒子測定方法及び光透過性粒子測定装置

  • 特許 2014522519

    2013年06月11日
    特許分類
    G01N 15/06 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    光透過性粒子測定方法及び光透過性粒子測定装置

  • 特許 2014522519

    2013年06月11日
    特許分類
    G01N 15/06 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    光透過性粒子測定方法及び光透過性粒子測定装置

  • 特許 2014528184

    2013年07月31日
    特許分類
    G01T 1/17
    測定; 試験
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2014528184

    2013年07月31日
    特許分類
    G01T 1/17 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2014528184

    2013年07月31日
    特許分類
    G01T 1/17 H
    測定; 試験
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2014528184

    2013年07月31日
    特許分類
    G01T 1/36
    測定; 試験
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2014528184

    2013年07月31日
    特許分類
    G01T 1/36 D
    測定; 試験
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2014528184

    2013年07月31日
    特許分類
    H03F 1/26
    基本電子回路
    テーマコード
    5J500

    発明の名称

    増幅器及び放射線検出器

  • 特許 2014171704

    2010年03月19日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    回転式分析チップおよび測定システム

  • 特許 2014171704

    2010年03月19日
    特許分類
    G01N 35/00 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    回転式分析チップおよび測定システム

  • 特許 2014171704

    2010年03月19日
    特許分類
    G01N 35/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    回転式分析チップおよび測定システム

  • 特許 2014171704

    2010年03月19日
    特許分類
    G01N 35/08 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    回転式分析チップおよび測定システム

  • 特許 2014171704

    2010年03月19日
    特許分類
    G01N 37/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    回転式分析チップおよび測定システム

  • 特許 2014171704

    2010年03月19日
    特許分類
    G01N 37/00 101
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    回転式分析チップおよび測定システム

  • 特許 2016026399

    2010年02月26日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒度分布測定装置

  • 特許 2016026399

    2010年02月26日
    特許分類
    G01N 15/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒度分布測定装置

  • 特許 2016215730

    2012年08月02日
    特許分類
    G01N 21/65
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2016215730

    2012年08月02日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2016215730

    2012年08月02日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2016215730

    2012年08月02日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム

  • 特許 2016229773

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2016229773

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00 101R
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2016229773

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/00 101S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2016229773

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2016229773

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 1/22 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    排ガス分析システム及び排ガス分析方法

  • 特許 2017047769

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/03
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2017047769

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/03 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2017047769

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/15
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2017047769

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/3504
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2017047769

    2011年12月22日
    特許分類
    G01N 21/61
    測定; 試験
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2017047769

    2011年12月22日
    特許分類
    G02B 5/122
    光学
    テーマコード
    2G059

    発明の名称

    ガス分析装置

  • 特許 2017115313

    2012年12月05日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2017115313

    2012年12月05日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2017115313

    2012年12月05日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2017115313

    2012年12月05日
    特許分類
    G01T 1/24
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    X線分析装置

  • 特許 2017214108

    2013年06月24日
    特許分類
    G01N 15/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子径分布測定装置

  • 特許 2017214108

    2013年06月24日
    特許分類
    G01N 15/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G049

    発明の名称

    粒子径分布測定装置

財務情報

  • 事業年度
  • 回次
  • 売上高
  • 営業収益
  • 営業収入
  • 営業総収入
  • 経常収益
  • 正味収入保険料
  • 経常利益
    又は経常損失
  • 当期純利益
    又は当期純損失
  • 資本金
  • 純資産額
  • 総資産額
  • 従業員数
  • 大株主

第83期(自 2020年1月1日 至 2020年12月31日)

0

50,085,000,000 円

-

-

-

-

-

8,228,000,000 円

7,258,000,000 円

12,011,000,000 円

114,661,000,000 円

214,207,000,000 円

1,623人

  • 日本マスタートラスト信託銀行株式会社(信託口):8.21%
  • 株式会社日本カストディ銀行(信託口):7.22%
  • 全国共済農業協同組合連合会 (常任代理人 日本マスタートラスト信託銀行株式会社) :3.99%
  • 堀場  厚:2.47%
  • 京都中央信用金庫:1.97%

第83期(自 2020年1月1日 至 2020年12月31日)

1

64,029,000,000 円

-

-

-

-

-

13,695,000,000 円

11,816,000,000 円

12,011,000,000 円

111,940,000,000 円

207,503,000,000 円

1,702人

第83期(自 2020年1月1日 至 2020年12月31日)

2

63,702,000,000 円

-

-

-

-

-

13,507,000,000 円

12,059,000,000 円

12,011,000,000 円

104,657,000,000 円

172,136,000,000 円

1,656人

第83期(自 2020年1月1日 至 2020年12月31日)

3

62,869,000,000 円

-

-

-

-

-

10,300,000,000 円

9,092,000,000 円

12,011,000,000 円

99,586,000,000 円

169,101,000,000 円

1,574人

第83期(自 2020年1月1日 至 2020年12月31日)

4

59,087,000,000 円

-

-

-

-

-

9,251,000,000 円

7,667,000,000 円

12,011,000,000 円

92,896,000,000 円

154,157,000,000 円

1,575人

職場情報

平均継続勤務年数

範囲:正社員

男性:13.9

女性:11.9

正社員の平均:-

従業員の平均年齢
-
月平均所定外労働時間
-
女性労働者の割合

範囲:その他

28.5%

管理職人数

259人

内、女性:27人

役員人数

-

育児休業取得者

対象者:男性 -人、女性 -人

取得者:男性 -人、女性 -人