日本電産リード株式会社

基本情報

法人番号

1130001025049

法人名称/商号

日本電産リード株式会社

法人名称/商号（カナ）

ニホンデンサンリード

法人名称/商号（英語）

-

所在地

〒6150854
京都府京都市右京区西京極堤外町１０番地

代表者

代表取締役社長執行役員　 大塚 俊之

資本金

-

従業員数

353人

営業品目

-

事業概要

1.　半導体パッケージ検査装置 2.　プリント基板検査装置 3.　検査用治具 4.　光学式外観検査装置 5.　FPD関連検査装置 6.　その他各種自動計測機器、特殊検査装置 上記に関わるハード・ソフトの開発・設計、製造、販売

ウェブサイト

https://www.nidec-read.com/

設立年月日

-

創業年

-

データ最終更新日

2018年04月11日

表彰情報

• 女性の活躍推進企業

  府省

  厚生労働省

特許情報

• 商標　2014042045

  2014年05月26日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＮＲ－ＦＥＩＳ

• 商標　2014055281

  2014年07月02日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＮＲＦＥＩＳ

• 特許　2014028211

  2014年02月18日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置

• 特許　2014028211

  2014年02月18日

  特許分類

  G06F 3/041 380H
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置

• 特許　2014028211

  2014年02月18日

  特許分類

  G06F 3/044
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置

• 特許　2014028211

  2014年02月18日

  特許分類

  G06F 3/044 E
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置

• 特許　2014028781

  2014年02月18日

  特許分類

  G01R 31/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  シングルレイヤー型検査対象物の検査装置及び検査方法

• 特許　2014028781

  2014年02月18日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  シングルレイヤー型検査対象物の検査装置及び検査方法

• 特許　2014028781

  2014年02月18日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  シングルレイヤー型検査対象物の検査装置及び検査方法

• 特許　2014028781

  2014年02月18日

  特許分類

  G06F 3/041 380A
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  シングルレイヤー型検査対象物の検査装置及び検査方法

• 特許　2014028781

  2014年02月18日

  特許分類

  G06F 3/044
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  シングルレイヤー型検査対象物の検査装置及び検査方法

• 特許　2014028781

  2014年02月18日

  特許分類

  G06F 3/044 E
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  シングルレイヤー型検査対象物の検査装置及び検査方法

• 特許　2014033595

  2014年02月25日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法、基板検査装置、検査治具、及び検査治具セット

• 特許　2014033595

  2014年02月25日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法、基板検査装置、検査治具、及び検査治具セット

• 特許　2014033595

  2014年02月25日

  特許分類

  H05K 3/00 U
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法、基板検査装置、検査治具、及び検査治具セット

• 特許　2014039566

  2014年02月28日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  可撓性回路基板を対象とする検査装置及び検査方法

• 特許　2014039566

  2014年02月28日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  可撓性回路基板を対象とする検査装置及び検査方法

• 特許　2014039566

  2014年02月28日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  可撓性回路基板を対象とする検査装置及び検査方法

• 特許　2014039566

  2014年02月28日

  特許分類

  H05K 3/00 X
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  可撓性回路基板を対象とする検査装置及び検査方法

• 特許　2014058637

  2014年03月20日

  特許分類

  G01N 21/84
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  可撓性基板検査装置

• 特許　2014058637

  2014年03月20日

  特許分類

  G01N 21/84 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  可撓性基板検査装置

• 特許　2014058637

  2014年03月20日

  特許分類

  G01N 21/956
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  可撓性基板検査装置

• 特許　2014058637

  2014年03月20日

  特許分類

  G01N 21/956 B
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  可撓性基板検査装置

• 特許　2014058637

  2014年03月20日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  可撓性基板検査装置

• 特許　2014058637

  2014年03月20日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  可撓性基板検査装置

• 特許　2014058637

  2014年03月20日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  可撓性基板検査装置

• 特許　2014063041

  2014年03月26日

  特許分類

  G01R 27/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  抵抗測定装置、基板検査装置、検査方法、及び検査用治具のメンテナンス方法

• 特許　2014063041

  2014年03月26日

  特許分類

  G01R 27/02 R
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  抵抗測定装置、基板検査装置、検査方法、及び検査用治具のメンテナンス方法

• 特許　2014063041

  2014年03月26日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  抵抗測定装置、基板検査装置、検査方法、及び検査用治具のメンテナンス方法

• 特許　2014071979

  2014年03月31日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置及び検査方法

• 特許　2014071979

  2014年03月31日

  特許分類

  G06F 3/041 660
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置及び検査方法

• 特許　2014071979

  2014年03月31日

  特許分類

  G06F 3/044
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置及び検査方法

• 特許　2014071979

  2014年03月31日

  特許分類

  G06F 3/044 120
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置及び検査方法

• 特許　2014086151

  2014年04月18日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置、及びタッチパネル検査方法

• 特許　2014086151

  2014年04月18日

  特許分類

  G06F 3/041 660
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置、及びタッチパネル検査方法

• 特許　2014086151

  2014年04月18日

  特許分類

  G06F 3/044
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置、及びタッチパネル検査方法

• 特許　2014086151

  2014年04月18日

  特許分類

  G06F 3/044 Z
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置、及びタッチパネル検査方法

• 特許　2014087052

  2014年04月21日

  特許分類

  G01R 27/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014087052

  2014年04月21日

  特許分類

  G01R 27/26 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014087052

  2014年04月21日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014087052

  2014年04月21日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014087052

  2014年04月21日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014087052

  2014年04月21日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014087052

  2014年04月21日

  特許分類

  H05K 3/46
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014087052

  2014年04月21日

  特許分類

  H05K 3/46 W
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014090004

  2014年04月24日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査治具設計方法

• 特許　2014090004

  2014年04月24日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査治具設計方法

• 特許　2014090004

  2014年04月24日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査治具設計方法

• 特許　2014090399

  2014年04月24日

  特許分類

  G01R 1/06
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  電極構造体、検査治具、及び電極構造体の製造方法

• 特許　2014090399

  2014年04月24日

  特許分類

  G01R 1/06 G
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  電極構造体、検査治具、及び電極構造体の製造方法

• 特許　2014090399

  2014年04月24日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  電極構造体、検査治具、及び電極構造体の製造方法

• 特許　2014090399

  2014年04月24日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  電極構造体、検査治具、及び電極構造体の製造方法

• 特許　2014111527

  2014年05月29日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び検査治具

• 特許　2014111527

  2014年05月29日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び検査治具

• 特許　2014111527

  2014年05月29日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び検査治具

• 特許　2014111528

  2014年05月29日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び検査治具

• 特許　2014111528

  2014年05月29日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び検査治具

• 特許　2014111528

  2014年05月29日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び検査治具

• 特許　2014113969

  2014年06月02日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014113969

  2014年06月02日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014113969

  2014年06月02日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2014114958

  2014年06月03日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置

• 特許　2014114958

  2014年06月03日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置

• 特許　2014114958

  2014年06月03日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置

• 特許　2014206975

  2014年10月08日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法及び基板検査装置

• 特許　2014206975

  2014年10月08日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法及び基板検査装置

• 特許　2014206975

  2014年10月08日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法及び基板検査装置

• 商標　2015105832

  2015年10月30日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＩｒｉＳｈｏｔ

• 特許　2015002747

  2015年01月09日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、基板検査方法及び基板検査用治具

• 特許　2015002747

  2015年01月09日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、基板検査方法及び基板検査用治具

• 特許　2015002747

  2015年01月09日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、基板検査方法及び基板検査用治具

• 特許　2015025955

  2015年02月13日

  特許分類

  H01R 13/24
  基本的電気素子

  テーマコード

  5E019

  発明の名称

  中継コネクタ、及び基板検査装置

• 特許　2015025955

  2015年02月13日

  特許分類

  H01R 13/652
  基本的電気素子

  テーマコード

  5E019

  発明の名称

  中継コネクタ、及び基板検査装置

• 特許　2015025955

  2015年02月13日

  特許分類

  H01R 43/00
  基本的電気素子

  テーマコード

  5E019

  発明の名称

  中継コネクタ、及び基板検査装置

• 特許　2015025955

  2015年02月13日

  特許分類

  H01R 43/00 Z
  基本的電気素子

  テーマコード

  5E019

  発明の名称

  中継コネクタ、及び基板検査装置

• 特許　2015025955

  2015年02月13日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  5E019

  発明の名称

  中継コネクタ、及び基板検査装置

• 特許　2015025955

  2015年02月13日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  5E019

  発明の名称

  中継コネクタ、及び基板検査装置

• 特許　2015067100

  2015年03月27日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び検査治具の製造方法

• 特許　2015067100

  2015年03月27日

  特許分類

  G01R 1/073 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び検査治具の製造方法

• 特許　2015067100

  2015年03月27日

  特許分類

  G01R 1/073 D
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び検査治具の製造方法

• 特許　2015229518

  2015年11月25日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2015229518

  2015年11月25日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2015229518

  2015年11月25日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2015229518

  2015年11月25日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2015229518

  2015年11月25日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2015241866

  2015年12月11日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  接続検査装置

• 特許　2015241866

  2015年12月11日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  接続検査装置

• 特許　2015241866

  2015年12月11日

  特許分類

  G06F 3/041 512
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  接続検査装置

• 特許　2015241866

  2015年12月11日

  特許分類

  G06F 3/041 520
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  接続検査装置

• 特許　2015241866

  2015年12月11日

  特許分類

  G06F 3/044
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  接続検査装置

• 特許　2015241866

  2015年12月11日

  特許分類

  G06F 3/044 122
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  接続検査装置

• 特許　2015546748

  2014年03月27日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査装置および絶縁検査方法

• 特許　2015546748

  2014年03月27日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査装置および絶縁検査方法

• 特許　2015546748

  2014年03月27日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査装置および絶縁検査方法

• 特許　2016002938

  2016年01月08日

  特許分類

  E05B 49/00
  錠; 鍵（かぎ）; 窓または戸の付属品;金庫

  テーマコード

  2E250

  発明の名称

  扉用虹彩認証装置、及び虹彩認証システム

• 特許　2016002938

  2016年01月08日

  特許分類

  E05B 49/00 R
  錠; 鍵（かぎ）; 窓または戸の付属品;金庫

  テーマコード

  2E250

  発明の名称

  扉用虹彩認証装置、及び虹彩認証システム

• 特許　2016002938

  2016年01月08日

  特許分類

  E05B 57/00
  錠; 鍵（かぎ）; 窓または戸の付属品;金庫

  テーマコード

  2E250

  発明の名称

  扉用虹彩認証装置、及び虹彩認証システム

• 特許　2016002938

  2016年01月08日

  特許分類

  G06T 7/00
  計算; 計数

  テーマコード

  2E250

  発明の名称

  扉用虹彩認証装置、及び虹彩認証システム

• 特許　2016002938

  2016年01月08日

  特許分類

  G06T 7/00 510D
  計算; 計数

  テーマコード

  2E250

  発明の名称

  扉用虹彩認証装置、及び虹彩認証システム

• 特許　2016244683

  2016年12月16日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  コンタクトプローブ及び電気接続治具

• 特許　2016244683

  2016年12月16日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  コンタクトプローブ及び電気接続治具

• 特許　2016244683

  2016年12月16日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  コンタクトプローブ及び電気接続治具

• 特許　2016244683

  2016年12月16日

  特許分類

  G01R 1/073 B
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  コンタクトプローブ及び電気接続治具

• 特許　2016556404

  2015年08月07日

  特許分類

  G01R 27/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2016556404

  2015年08月07日

  特許分類

  G01R 27/02 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2016556404

  2015年08月07日

  特許分類

  G01R 31/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2016556404

  2015年08月07日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2016556404

  2015年08月07日

  特許分類

  G06F 3/041 660
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2016556404

  2015年08月07日

  特許分類

  G06F 3/044
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2016556404

  2015年08月07日

  特許分類

  G06F 3/044 126
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  G01N 27/04
  測定; 試験

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  G01N 27/04 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  G01R 27/02
  測定; 試験

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  G01R 27/02 R
  測定; 試験

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  H01M 2/26
  基本的電気素子

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  H01M 2/26 A
  基本的電気素子

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  H01M 4/04
  基本的電気素子

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  H01M 4/04 Z
  基本的電気素子

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 特許　2017182528

  2017年09月22日

  特許分類

  H01M 4/139
  基本的電気素子

  テーマコード

  4F211

  発明の名称

  溶着状態検出方法及び溶着状態検出装置

• 商標　2018013709

  2018年02月02日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＮＲＭ

• 商標　2018013709

  2018年02月02日

  商標コード

  17
  電気絶縁用、断熱用又は防音用の材料及び材料用のプラスチック

  表示用商標

  ＮＲＭ

• 意匠　2018010759

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 意匠　2018010760

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 意匠　2018010761

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 意匠　2018010762

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 意匠　2018010763

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 意匠　2018010764

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 意匠　2018010765

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 意匠　2018010766

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 意匠　2018010767

  2018年05月16日

  意匠分類

  J193
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電気的特性測定用プローブ

• 特許　2018528807

  2017年11月28日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触端子、検査治具、及び検査装置

• 特許　2018528807

  2017年11月28日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触端子、検査治具、及び検査装置

• 特許　2018528807

  2017年11月28日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触端子、検査治具、及び検査装置

• 特許　2018528807

  2017年11月28日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触端子、検査治具、及び検査装置

• 特許　2018528807

  2017年11月28日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触端子、検査治具、及び検査装置

• 特許　2018528807

  2017年11月28日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触端子、検査治具、及び検査装置

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  B81C 5/00
  マイクロ構造技術

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  B81C 99/00
  マイクロ構造技術

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  C23F 1/02
  金属質材料への被覆; 金属質材料による材料への被覆; 化学的表面処理; 金属質材料の拡散処理; 真空蒸着, スパッタリング, イオン注入法, または化学蒸着による被覆一般; 金属質材料の防食または鉱皮の抑制一般

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  C25D 1/00
  電気分解または電気泳動方法; そのための装置

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  C25D 1/00 381
  電気分解または電気泳動方法; そのための装置

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  C25D 1/02
  電気分解または電気泳動方法; そのための装置

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  F16F 1/06
  機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  F16F 1/06 A
  機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010029354

  2010年02月12日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  4K023

  発明の名称

  通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具

• 特許　2010092008

  2010年04月13日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2010092008

  2010年04月13日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2010092008

  2010年04月13日

  特許分類

  G06F 3/041 330Z
  計算; 計数

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2010096671

  2010年04月20日

  特許分類

  G01R 1/06
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  基板検査装置及び基板検査方法

• 特許　2010096671

  2010年04月20日

  特許分類

  G01R 1/06 E
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  基板検査装置及び基板検査方法

• 特許　2010096671

  2010年04月20日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  基板検査装置及び基板検査方法

• 特許　2010096671

  2010年04月20日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  基板検査装置及び基板検査方法

• 特許　2010096671

  2010年04月20日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  基板検査装置及び基板検査方法

• 特許　2010096671

  2010年04月20日

  特許分類

  H05K 3/00 L
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  基板検査装置及び基板検査方法

• 特許　2010096671

  2010年04月20日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  基板検査装置及び基板検査方法

• 特許　2010171763

  2010年07月30日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子、接続治具及び接触子の製造方法

• 特許　2010171763

  2010年07月30日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子、接続治具及び接触子の製造方法

• 特許　2010171763

  2010年07月30日

  特許分類

  G01R 1/067 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子、接続治具及び接触子の製造方法

• 特許　2010226164

  2010年10月06日

  特許分類

  G01B 11/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ウェーハバンプの高さ測定装置

• 特許　2010226164

  2010年10月06日

  特許分類

  G01B 11/02 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ウェーハバンプの高さ測定装置

• 特許　2010226164

  2010年10月06日

  特許分類

  H01L 21/60
  基本的電気素子

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ウェーハバンプの高さ測定装置

• 特許　2010226164

  2010年10月06日

  特許分類

  H01L 21/92 604T
  基本的電気素子

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ウェーハバンプの高さ測定装置

• 商標　2011044842

  2011年06月28日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＮＩＮＪＡ

• 商標　2011070815

  2011年10月04日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＭＥＭＳ　ＳＰＩＮ　ＰＲＯＢＥ

• 商標　2011070816

  2011年10月04日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＭＥＭＳ　ＳＰＩＲＡＬ　ＰＲＯＢＥ

• 商標　2011070817

  2011年10月04日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＳＰＩＮ　ＭＯＮＧＯＯＳＥ　ＰＲＯＢＥ

• 特許　2011011899

  2011年01月24日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2011011899

  2011年01月24日

  特許分類

  G01R 1/073 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2011098619

  2011年04月26日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子及び検査用治具

• 特許　2011098619

  2011年04月26日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子及び検査用治具

• 特許　2011098619

  2011年04月26日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子及び検査用治具

• 特許　2011098619

  2011年04月26日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子及び検査用治具

• 特許　2011098619

  2011年04月26日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子及び検査用治具

• 特許　2011098619

  2011年04月26日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接触子及び検査用治具

• 特許　2011159519

  2011年07月21日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2011159519

  2011年07月21日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2011159519

  2011年07月21日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2011159519

  2011年07月21日

  特許分類

  G01R 1/073 D
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2011159519

  2011年07月21日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2011159519

  2011年07月21日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2011159519

  2011年07月21日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2011159519

  2011年07月21日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2011192422

  2011年09月05日

  特許分類

  G01R 1/06
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2011192422

  2011年09月05日

  特許分類

  G01R 1/06 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2011192422

  2011年09月05日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2011192422

  2011年09月05日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2011192422

  2011年09月05日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2011192422

  2011年09月05日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2011192422

  2011年09月05日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2011192422

  2011年09月05日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2011198327

  2010年11月30日

  特許分類

  G01R 1/06
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続端子の製造方法

• 特許　2011198327

  2010年11月30日

  特許分類

  G01R 1/06 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続端子の製造方法

• 特許　2011198327

  2010年11月30日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続端子の製造方法

• 特許　2011198327

  2010年11月30日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続端子の製造方法

• 特許　2011221571

  2011年10月06日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置

• 特許　2011221571

  2011年10月06日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置

• 特許　2011221571

  2011年10月06日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置

• 特許　2011256169

  2011年11月24日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査用治具の位置合わせ方法

• 特許　2011256169

  2011年11月24日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査用治具の位置合わせ方法

• 特許　2011256169

  2011年11月24日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査用治具の位置合わせ方法

• 特許　2011535812

  2011年03月14日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び検査用治具

• 特許　2011535812

  2011年03月14日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び検査用治具

• 特許　2011535812

  2011年03月14日

  特許分類

  G01R 1/067 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び検査用治具

• 特許　2011535812

  2011年03月14日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び検査用治具

• 特許　2011535812

  2011年03月14日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び検査用治具

• 特許　2011537780

  2011年05月23日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2011537780

  2011年05月23日

  特許分類

  G01R 1/073 D
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2011537780

  2011年05月23日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2011537780

  2011年05月23日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 商標　2012079925

  2012年10月03日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＦＬＥＸ

• 特許　2012003773

  2011年05月23日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2012003773

  2011年05月23日

  特許分類

  G01R 1/073 D
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2012003773

  2011年05月23日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2012003773

  2011年05月23日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2012012167

  2012年01月24日

  特許分類

  G01R 27/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査装置及び絶縁検査方法

• 特許　2012012167

  2012年01月24日

  特許分類

  G01R 27/02 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査装置及び絶縁検査方法

• 特許　2012012167

  2012年01月24日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査装置及び絶縁検査方法

• 特許　2012012167

  2012年01月24日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査装置及び絶縁検査方法

• 特許　2012012167

  2012年01月24日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査装置及び絶縁検査方法

• 特許　2012014141

  2012年01月26日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  プローブ及び接続治具

• 特許　2012014141

  2012年01月26日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  プローブ及び接続治具

• 特許　2012014141

  2012年01月26日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  プローブ及び接続治具

• 特許　2012014141

  2012年01月26日

  特許分類

  G01R 1/073 E
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  プローブ及び接続治具

• 特許　2012014141

  2012年01月26日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  プローブ及び接続治具

• 特許　2012014141

  2012年01月26日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  プローブ及び接続治具

• 特許　2012014141

  2012年01月26日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  プローブ及び接続治具

• 特許　2012014141

  2012年01月26日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  プローブ及び接続治具

• 特許　2012041028

  2012年02月28日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2012041028

  2012年02月28日

  特許分類

  G01R 1/067 D
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2012041028

  2012年02月28日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2012041028

  2012年02月28日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2012041028

  2012年02月28日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2012041028

  2012年02月28日

  特許分類

  H05K 3/46
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2012041028

  2012年02月28日

  特許分類

  H05K 3/46 Q
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2012041028

  2012年02月28日

  特許分類

  H05K 3/46 W
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査用治具

• 特許　2012089321

  2012年04月10日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  部品内蔵基板の検査方法

• 特許　2012089321

  2012年04月10日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  部品内蔵基板の検査方法

• 特許　2012089321

  2012年04月10日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  部品内蔵基板の検査方法

• 特許　2012089321

  2012年04月10日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  部品内蔵基板の検査方法

• 特許　2012089321

  2012年04月10日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  部品内蔵基板の検査方法

• 特許　2012106843

  2012年05月08日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査方法及び絶縁検査装置

• 特許　2012106843

  2012年05月08日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査方法及び絶縁検査装置

• 特許　2012106843

  2012年05月08日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査方法及び絶縁検査装置

• 特許　2012130578

  2012年06月08日

  特許分類

  G01R 27/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  電気特性検出方法及び検出装置

• 特許　2012130578

  2012年06月08日

  特許分類

  G01R 27/02 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  電気特性検出方法及び検出装置

• 特許　2012130578

  2012年06月08日

  特許分類

  G01R 27/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  電気特性検出方法及び検出装置

• 特許　2012130578

  2012年06月08日

  特許分類

  G01R 27/26 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  電気特性検出方法及び検出装置

• 特許　2012132018

  2012年06月11日

  特許分類

  G01R 27/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  電気特性検出装置

• 特許　2012132018

  2012年06月11日

  特許分類

  G01R 27/02 R
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  電気特性検出装置

• 特許　2012150413

  2012年07月04日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  配線構造及び基板検査装置

• 特許　2012150413

  2012年07月04日

  特許分類

  G01R 1/073 D
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  配線構造及び基板検査装置

• 特許　2012150413

  2012年07月04日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  配線構造及び基板検査装置

• 特許　2012150413

  2012年07月04日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  配線構造及び基板検査装置

• 特許　2012150413

  2012年07月04日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  配線構造及び基板検査装置

• 特許　2012177110

  2011年03月14日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2012177110

  2011年03月14日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2012177110

  2011年03月14日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2012177110

  2011年03月14日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  接続端子及び接続治具

• 特許　2012231219

  2012年10月18日

  特許分類

  G01R 27/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  インピーダンス測定装置

• 特許　2012231219

  2012年10月18日

  特許分類

  G01R 27/02 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  インピーダンス測定装置

• 特許　2012265717

  2012年12月04日

  特許分類

  H05K 13/04
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  5E353

  発明の名称

  搬送装置及び接触子組立装置

• 特許　2012265717

  2012年12月04日

  特許分類

  H05K 13/04 C
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  5E353

  発明の名称

  搬送装置及び接触子組立装置

• 特許　2012289142

  2012年12月28日

  特許分類

  C25D 1/00
  電気分解または電気泳動方法; そのための装置

  テーマコード

  5F146

  発明の名称

  チャック及び処理装置

• 特許　2012289142

  2012年12月28日

  特許分類

  C25D 1/00 381
  電気分解または電気泳動方法; そのための装置

  テーマコード

  5F146

  発明の名称

  チャック及び処理装置

• 特許　2012289142

  2012年12月28日

  特許分類

  H01L 21/027
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F146

  発明の名称

  チャック及び処理装置

• 特許　2012289142

  2012年12月28日

  特許分類

  H01L 21/30 503C
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F146

  発明の名称

  チャック及び処理装置

• 特許　2012511637

  2011年04月15日

  特許分類

  G01R 1/067
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2012511637

  2011年04月15日

  特許分類

  G01R 1/067 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2012511637

  2011年04月15日

  特許分類

  H01L 21/66
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2012511637

  2011年04月15日

  特許分類

  H01L 21/66 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用接触子及び検査用治具

• 特許　2013055987

  2013年03月19日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査方法及び絶縁検査装置

• 特許　2013055987

  2013年03月19日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査方法及び絶縁検査装置

• 特許　2013055987

  2013年03月19日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  絶縁検査方法及び絶縁検査装置

• 特許　2013081279

  2013年04月09日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置及び検査方法

• 特許　2013081279

  2013年04月09日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置及び検査方法

• 特許　2013081279

  2013年04月09日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置及び検査方法

• 特許　2013094352

  2013年04月26日

  特許分類

  G01R 27/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2013094352

  2013年04月26日

  特許分類

  G01R 27/02 R
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2013094352

  2013年04月26日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2013094352

  2013年04月26日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2013094352

  2013年04月26日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査装置、及び基板検査方法

• 特許　2013105984

  2013年05月20日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法

• 特許　2013105984

  2013年05月20日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法

• 特許　2013105984

  2013年05月20日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法

• 特許　2013117746

  2013年06月04日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  基板検査方法、及び基板検査装置

• 特許　2013117746

  2013年06月04日

  特許分類

  G01R 1/073 E
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  基板検査方法、及び基板検査装置

• 特許　2013117746

  2013年06月04日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  基板検査方法、及び基板検査装置

• 特許　2013117746

  2013年06月04日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  基板検査方法、及び基板検査装置

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G01R 27/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G01R 27/26 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G01R 31/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G01R 35/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G01R 35/00 L
  測定; 試験

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G06F 3/041 330D
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G06F 3/044
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013120772

  2013年06月07日

  特許分類

  G06F 3/044 E
  計算; 計数

  テーマコード

  2G036

  発明の名称

  検査装置、検査装置のキャリブレーション方法及び検査方法

• 特許　2013176093

  2013年08月27日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2013176093

  2013年08月27日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2013176093

  2013年08月27日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2013176094

  2013年08月27日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2013176094

  2013年08月27日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2013176094

  2013年08月27日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  検査装置

• 特許　2013194980

  2013年09月20日

  特許分類

  G01R 31/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法及び基板検査装置

• 特許　2013194980

  2013年09月20日

  特許分類

  H05K 3/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法及び基板検査装置

• 特許　2013194980

  2013年09月20日

  特許分類

  H05K 3/00 T
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G014

  発明の名称

  基板検査方法及び基板検査装置

• 特許　2013211000

  2013年10月08日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用治具及び検査用治具の製造方法

• 特許　2013211000

  2013年10月08日

  特許分類

  G01R 1/073 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査用治具及び検査用治具の製造方法

• 特許　2013226365

  2013年10月31日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  接触子のメンテナンス方法及び検査装置

• 特許　2013226365

  2013年10月31日

  特許分類

  G01R 31/28 K
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  接触子のメンテナンス方法及び検査装置

• 特許　2013230851

  2013年11月07日

  特許分類

  G01R 1/073
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2013230851

  2013年11月07日

  特許分類

  G01R 1/073 D
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2013230851

  2013年11月07日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2013230851

  2013年11月07日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G011

  発明の名称

  検査治具

• 特許　2013257327

  2013年12月12日

  特許分類

  G06F 3/041
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置

• 特許　2013257327

  2013年12月12日

  特許分類

  G06F 3/041 330D
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置

• 特許　2013257327

  2013年12月12日

  特許分類

  G06F 3/041 350D
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置

• 特許　2013257327

  2013年12月12日

  特許分類

  G06F 3/044
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置

• 特許　2013257327

  2013年12月12日

  特許分類

  G06F 3/044 E
  計算; 計数

  テーマコード

  5B068

  発明の名称

  タッチパネル検査装置

職場情報

平均継続勤務年数

範囲：正社員

男性：10.1

女性：6.8

正社員の平均：-

従業員の平均年齢

-

月平均所定外労働時間

-

女性労働者の割合

範囲：正社員

25.0%

管理職人数

71人

内、女性：3人

役員人数

10人

育児休業取得者

対象者：男性 -人、女性 -人

取得者：男性 -人、女性 -人