株式会社アドバンテスト

基本情報

法人番号

9011601000379

法人名称/商号

株式会社アドバンテスト

法人名称/商号（カナ）

アドバンテスト

法人名称/商号（英語）

ADVANTEST CORPORATION

所在地

〒1000005
東京都千代田区丸の内１丁目６番２号

代表者

代表取締役兼執行役員社長　 吉田　芳明

資本金

32,363,000,000円

従業員数

2,398人

営業品目

電気・通信用機器類 、 電子計算機 、 精密機器類 、 医療用機器 、 電気・通信用機器類 、 電子計算機 、 精密機器類 、 医療用機器 、 調査・研究 、 情報処理 、 防衛用装備品類の整備

事業概要

半導体・部品テストシステム事業、メカトロニクス関連事業、サービス他

ウェブサイト

http://www.advantest.co.jp/

設立年月日

1946年12月16日

創業年

-

データ最終更新日

2019年07月17日

表彰情報

• 環境人づくり企業大賞２０１８

  2019年05月27日

  部門

  大企業

  府省

  環境省

• えるぼし－認定

  府省

  厚生労働省

• 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定

  部門

  ２０２１

  府省

  厚生労働省

特許情報

• 特許　2014003927

  2014年01月14日

  特許分類

  G03F 7/20
  写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  電子ビーム露光装置

• 特許　2014003927

  2014年01月14日

  特許分類

  G03F 7/20 521
  写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  電子ビーム露光装置

• 特許　2014003927

  2014年01月14日

  特許分類

  H01J 37/12
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  電子ビーム露光装置

• 特許　2014003927

  2014年01月14日

  特許分類

  H01J 37/305
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  電子ビーム露光装置

• 特許　2014003927

  2014年01月14日

  特許分類

  H01J 37/305 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  電子ビーム露光装置

• 特許　2014003927

  2014年01月14日

  特許分類

  H01L 21/027
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  電子ビーム露光装置

• 特許　2014003927

  2014年01月14日

  特許分類

  H01L 21/30 541S
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  電子ビーム露光装置

• 特許　2014035755

  2014年02月26日

  特許分類

  G03F 7/20
  写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  半導体装置の製造方法

• 特許　2014035755

  2014年02月26日

  特許分類

  G03F 7/20 504
  写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  半導体装置の製造方法

• 特許　2014035755

  2014年02月26日

  特許分類

  H01J 37/305
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  半導体装置の製造方法

• 特許　2014035755

  2014年02月26日

  特許分類

  H01J 37/305 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  半導体装置の製造方法

• 特許　2014035755

  2014年02月26日

  特許分類

  H01L 21/027
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  半導体装置の製造方法

• 特許　2014035755

  2014年02月26日

  特許分類

  H01L 21/30 541M
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  半導体装置の製造方法

• 特許　2014035755

  2014年02月26日

  特許分類

  H01L 21/30 541W
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  半導体装置の製造方法

• 特許　2014047238

  2014年03月11日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  試験装置および接続ユニット

• 特許　2014047238

  2014年03月11日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  試験装置および接続ユニット

• 特許　2014063986

  2014年03月26日

  特許分類

  H01J 37/20
  基本的電気素子

  テーマコード

  5C001

  発明の名称

  ステージ装置および電子線装置

• 特許　2014063986

  2014年03月26日

  特許分類

  H01J 37/20 A
  基本的電気素子

  テーマコード

  5C001

  発明の名称

  ステージ装置および電子線装置

• 特許　2014063986

  2014年03月26日

  特許分類

  H01J 37/20 D
  基本的電気素子

  テーマコード

  5C001

  発明の名称

  ステージ装置および電子線装置

• 特許　2014063986

  2014年03月26日

  特許分類

  H01J 37/20 G
  基本的電気素子

  テーマコード

  5C001

  発明の名称

  ステージ装置および電子線装置

• 特許　2014063986

  2014年03月26日

  特許分類

  H01J 37/20 H
  基本的電気素子

  テーマコード

  5C001

  発明の名称

  ステージ装置および電子線装置

• 特許　2014089169

  2014年04月23日

  特許分類

  H01P 1/00
  基本的電気素子

  テーマコード

  5K046

  発明の名称

  補償回路、情報処理装置、補償方法、およびプログラム

• 特許　2014089169

  2014年04月23日

  特許分類

  H01P 1/00 A
  基本的電気素子

  テーマコード

  5K046

  発明の名称

  補償回路、情報処理装置、補償方法、およびプログラム

• 特許　2014089169

  2014年04月23日

  特許分類

  H04B 3/02
  電気通信技術

  テーマコード

  5K046

  発明の名称

  補償回路、情報処理装置、補償方法、およびプログラム

• 特許　2014137364

  2014年07月03日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  試験用キャリア

• 特許　2014137364

  2014年07月03日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  試験用キャリア

• 特許　2014146017

  2014年07月16日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  5J055

  発明の名称

  半導体スイッチおよびそれを用いた試験装置

• 特許　2014146017

  2014年07月16日

  特許分類

  G01R 31/28 H
  測定; 試験

  テーマコード

  5J055

  発明の名称

  半導体スイッチおよびそれを用いた試験装置

• 特許　2014146017

  2014年07月16日

  特許分類

  H03K 17/00
  基本電子回路

  テーマコード

  5J055

  発明の名称

  半導体スイッチおよびそれを用いた試験装置

• 特許　2014146017

  2014年07月16日

  特許分類

  H03K 17/00 B
  基本電子回路

  テーマコード

  5J055

  発明の名称

  半導体スイッチおよびそれを用いた試験装置

• 特許　2014147519

  2014年07月18日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  テストスライスとトレイとの間の高速テスタ通信インターフェイス

• 特許　2014147519

  2014年07月18日

  特許分類

  G01R 31/26 G
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  テストスライスとトレイとの間の高速テスタ通信インターフェイス

• 特許　2014147519

  2014年07月18日

  特許分類

  G01R 31/26 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  テストスライスとトレイとの間の高速テスタ通信インターフェイス

• 特許　2014147519

  2014年07月18日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  テストスライスとトレイとの間の高速テスタ通信インターフェイス

• 特許　2014147519

  2014年07月18日

  特許分類

  G01R 31/28 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  テストスライスとトレイとの間の高速テスタ通信インターフェイス

• 特許　2014172302

  2014年08月27日

  特許分類

  H01J 37/244
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  露光装置

• 特許　2014172302

  2014年08月27日

  特許分類

  H01J 37/305
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  露光装置

• 特許　2014172302

  2014年08月27日

  特許分類

  H01J 37/305 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  露光装置

• 特許　2014172302

  2014年08月27日

  特許分類

  H01L 21/027
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  露光装置

• 特許　2014172302

  2014年08月27日

  特許分類

  H01L 21/30 541B
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  露光装置

• 特許　2014184941

  2014年09月11日

  特許分類

  G01B 15/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2F067

  発明の名称

  パターン高さ測定装置及びパターン高さ測定方法

• 特許　2014184941

  2014年09月11日

  特許分類

  G01B 15/00 B
  測定; 試験

  テーマコード

  2F067

  発明の名称

  パターン高さ測定装置及びパターン高さ測定方法

• 特許　2014189659

  2014年09月18日

  特許分類

  H01H 57/00
  基本的電気素子

  テーマコード

  5G037

  発明の名称

  電子デバイス

• 特許　2014194214

  2014年09月24日

  特許分類

  A61B 5/02 310M
  医学または獣医学; 衛生学

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194214

  2014年09月24日

  特許分類

  A61B 5/02 321C
  医学または獣医学; 衛生学

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194214

  2014年09月24日

  特許分類

  A61B 5/0245
  医学または獣医学; 衛生学

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194214

  2014年09月24日

  特許分類

  G01L 9/00
  測定; 試験

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194214

  2014年09月24日

  特許分類

  G01L 9/00 303M
  測定; 試験

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194214

  2014年09月24日

  特許分類

  G01L 9/00 303N
  測定; 試験

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194219

  2014年09月24日

  特許分類

  A61B 5/02 310M
  医学または獣医学; 衛生学

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194219

  2014年09月24日

  特許分類

  A61B 5/02 321C
  医学または獣医学; 衛生学

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194219

  2014年09月24日

  特許分類

  A61B 5/0245
  医学または獣医学; 衛生学

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194219

  2014年09月24日

  特許分類

  G01L 9/00
  測定; 試験

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014194219

  2014年09月24日

  特許分類

  G01L 9/00 303N
  測定; 試験

  テーマコード

  4C017

  発明の名称

  脈波センサユニット

• 特許　2014222709

  2014年10月31日

  特許分類

  G06F 21/31
  計算; 計数

  テーマコード

  5J104

  発明の名称

  認証システム、認証方法およびサービス提供システム

• 特許　2014222709

  2014年10月31日

  特許分類

  G06F 21/32
  計算; 計数

  テーマコード

  5J104

  発明の名称

  認証システム、認証方法およびサービス提供システム

• 特許　2014222709

  2014年10月31日

  特許分類

  H04L 9/00 621Z
  電気通信技術

  テーマコード

  5J104

  発明の名称

  認証システム、認証方法およびサービス提供システム

• 特許　2014222709

  2014年10月31日

  特許分類

  H04L 9/00 673D
  電気通信技術

  テーマコード

  5J104

  発明の名称

  認証システム、認証方法およびサービス提供システム

• 特許　2014222709

  2014年10月31日

  特許分類

  H04L 9/10
  電気通信技術

  テーマコード

  5J104

  発明の名称

  認証システム、認証方法およびサービス提供システム

• 特許　2014222709

  2014年10月31日

  特許分類

  H04L 9/32
  電気通信技術

  テーマコード

  5J104

  発明の名称

  認証システム、認証方法およびサービス提供システム

• 特許　2014229726

  2014年11月12日

  特許分類

  G03F 7/20
  写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法

• 特許　2014229726

  2014年11月12日

  特許分類

  G03F 7/20 521
  写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法

• 特許　2014229726

  2014年11月12日

  特許分類

  H01J 37/305
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法

• 特許　2014229726

  2014年11月12日

  特許分類

  H01J 37/305 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法

• 特許　2014229726

  2014年11月12日

  特許分類

  H01L 21/027
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法

• 特許　2014229726

  2014年11月12日

  特許分類

  H01L 21/30 541J
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法

• 特許　2014229726

  2014年11月12日

  特許分類

  H01L 21/30 541W
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F056

  発明の名称

  荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法

• 特許　2014242019

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G035

  発明の名称

  電流測定回路および塩基配列解析装置

• 特許　2014242019

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G035

  発明の名称

  電流測定回路および塩基配列解析装置

• 特許　2014242019

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G035

  発明の名称

  電流測定回路および塩基配列解析装置

• 特許　2014242019

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G035

  発明の名称

  電流測定回路および塩基配列解析装置

• 特許　2014242019

  2014年11月28日

  特許分類

  H03F 1/42
  基本電子回路

  テーマコード

  2G035

  発明の名称

  電流測定回路および塩基配列解析装置

• 特許　2014242019

  2014年11月28日

  特許分類

  H03F 3/34
  基本電子回路

  テーマコード

  2G035

  発明の名称

  電流測定回路および塩基配列解析装置

• 特許　2014242019

  2014年11月28日

  特許分類

  H03F 3/34 Z
  基本電子回路

  テーマコード

  2G035

  発明の名称

  電流測定回路および塩基配列解析装置

• 特許　2014242020

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2014242020

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2014242021

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ

• 特許　2014242021

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ

• 特許　2014242021

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ

• 特許　2014242021

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ

• 特許　2014242021

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00 E
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ

• 特許　2014242021

  2014年11月28日

  特許分類

  H03F 3/34
  基本電子回路

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ

• 特許　2014242021

  2014年11月28日

  特許分類

  H03F 3/34 Z
  基本電子回路

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ

• 特許　2014242022

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2014242022

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2014242022

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2014242022

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2014242023

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2014242023

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 商標　2015077393

  2015年08月11日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  Ｈａｄａｔｏｍｏ

• 特許　2015092207

  2015年04月28日

  特許分類

  G01B 11/06
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定

• 特許　2015092207

  2015年04月28日

  特許分類

  G01B 11/06 101Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定

• 特許　2015092207

  2015年04月28日

  特許分類

  G01N 21/3586
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定

• 特許　2015105262

  2015年05月25日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置

• 特許　2015105262

  2015年05月25日

  特許分類

  G01R 31/26 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 21/336
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 21/337
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 21/338
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 27/095
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 27/098
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 29/78
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 29/78 301G
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 29/80 C
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 29/80 E
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 29/80 W
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 29/808
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015111897

  2015年06月02日

  特許分類

  H01L 29/812
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F102

  発明の名称

  半導体装置

• 特許　2015183719

  2015年09月17日

  特許分類

  G01R 27/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体

• 特許　2015183719

  2015年09月17日

  特許分類

  G01R 27/26 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G028

  発明の名称

  測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体

• 特許　2015200330

  2015年10月08日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム

• 特許　2015200330

  2015年10月08日

  特許分類

  G01R 31/28 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム

• 特許　2015200330

  2015年10月08日

  特許分類

  G01R 31/28 Q
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム

• 特許　2015200330

  2015年10月08日

  特許分類

  G01R 31/3183
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム

• 特許　2015200330

  2015年10月08日

  特許分類

  G06F 11/22
  計算; 計数

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム

• 特許　2015200330

  2015年10月08日

  特許分類

  G06F 11/22 310B
  計算; 計数

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム

• 特許　2015200330

  2015年10月08日

  特許分類

  G06F 11/22 310V
  計算; 計数

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム

• 特許　2015254442

  2015年12月25日

  特許分類

  G01R 31/26
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  デバイス測定用治具

• 特許　2015254442

  2015年12月25日

  特許分類

  G01R 31/26 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G003

  発明の名称

  デバイス測定用治具

• 特許　2016015468

  2016年01月29日

  特許分類

  A61B 5/05
  医学または獣医学; 衛生学

  テーマコード

  2G017

  発明の名称

  磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置

• 特許　2016015468

  2016年01月29日

  特許分類

  A61B 5/05 A
  医学または獣医学; 衛生学

  テーマコード

  2G017

  発明の名称

  磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置

• 特許　2016015468

  2016年01月29日

  特許分類

  G01R 33/02
  測定; 試験

  テーマコード

  2G017

  発明の名称

  磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置

• 特許　2016015468

  2016年01月29日

  特許分類

  G01R 33/02 W
  測定; 試験

  テーマコード

  2G017

  発明の名称

  磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置

• 特許　2016015468

  2016年01月29日

  特許分類

  H05K 9/00
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G017

  発明の名称

  磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置

• 特許　2016015468

  2016年01月29日

  特許分類

  H05K 9/00 H
  他に分類されない電気技術

  テーマコード

  2G017

  発明の名称

  磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置

• 特許　2016025991

  2016年02月15日

  特許分類

  G01R 31/28
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  テストシステム、試験装置

• 特許　2016025991

  2016年02月15日

  特許分類

  G01R 31/28 B
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  テストシステム、試験装置

• 特許　2016025991

  2016年02月15日

  特許分類

  G01R 31/28 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  テストシステム、試験装置

• 特許　2016025991

  2016年02月15日

  特許分類

  G11C 29/00 655S
  情報記憶

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  テストシステム、試験装置

• 特許　2016025991

  2016年02月15日

  特許分類

  G11C 29/56
  情報記憶

  テーマコード

  2G132

  発明の名称

  テストシステム、試験装置

• 特許　2016067774

  2016年03月30日

  特許分類

  H04L 27/00
  電気通信技術

  テーマコード

  5K004

  発明の名称

  ＲＦ信号生成装置およびＲＦ信号解析装置

• 特許　2016067774

  2016年03月30日

  特許分類

  H04L 27/00 A
  電気通信技術

  テーマコード

  5K004

  発明の名称

  ＲＦ信号生成装置およびＲＦ信号解析装置

• 特許　2016514934

  2015年04月21日

  特許分類

  G01N 21/3581
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体

• 特許　2016514935

  2015年04月21日

  特許分類

  G01N 21/3581
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体

• 意匠　2017009411

  2017年04月28日

  意匠分類

  J159
  計量器、測定機械器具及び測量機械器具

  意匠に係る物品

  電子部品試験装置用キャリア

• 特許　2017536078

  2015年08月21日

  特許分類

  H01H 1/04
  基本的電気素子

  テーマコード

  5G050

  発明の名称

  接点装置および製造方法

• 特許　2017536078

  2015年08月21日

  特許分類

  H01H 1/04 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  5G050

  発明の名称

  接点装置および製造方法

• 特許　2017536078

  2015年08月21日

  特許分類

  H01H 11/04
  基本的電気素子

  テーマコード

  5G050

  発明の名称

  接点装置および製造方法

• 特許　2017536078

  2015年08月21日

  特許分類

  H01H 11/04 B
  基本的電気素子

  テーマコード

  5G050

  発明の名称

  接点装置および製造方法

• 商標　2018133092

  2018年10月25日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  §Ａｉｒ＼Ｌｏｇｇｅｒ

• 特許　2018085354

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2018085354

  2014年11月28日

  特許分類

  G01N 27/00 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2018085354

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2018085354

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 19/00 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 特許　2018085354

  2014年11月28日

  特許分類

  G01R 31/04
  測定; 試験

  テーマコード

  2G060

  発明の名称

  測定装置

• 商標　2019052420

  2019年04月15日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＵｍａｉＴ－ｅｓｔ

• 商標　2010024233

  2010年03月29日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＰＭＲＥＶＩＥＷ

• 商標　2010024234

  2010年03月29日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＰＭＧＵＩＤＥ

• 商標　2010035711

  2010年05月07日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＣｌｏｕｄＴｅｓｔｅｒ

• 商標　2010035711

  2010年05月07日

  商標コード

  37
  建設、設置工事及び修理

  表示用商標

  ＣｌｏｕｄＴｅｓｔｅｒ

• 商標　2010035711

  2010年05月07日

  商標コード

  42
  科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

  表示用商標

  ＣｌｏｕｄＴｅｓｔｅｒ

• 商標　2010035713

  2010年05月07日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＣｌｏｕｄＴｅｓｔｉｎｇ

• 商標　2010035713

  2010年05月07日

  商標コード

  37
  建設、設置工事及び修理

  表示用商標

  ＣｌｏｕｄＴｅｓｔｉｎｇ

• 商標　2010035713

  2010年05月07日

  商標コード

  42
  科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

  表示用商標

  ＣｌｏｕｄＴｅｓｔｉｎｇ

• 商標　2010035745

  2010年05月07日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010035745

  2010年05月07日

  商標コード

  37
  建設、設置工事及び修理

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010035745

  2010年05月07日

  商標コード

  39
  輸送、こん包及び保管並びに旅行の手配

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010035745

  2010年05月07日

  商標コード

  42
  科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010035745

  2010年05月07日

  商標コード

  45
  冠婚葬祭に係る役務その他の個人の需要に応じて提供する役務(他の類に属するものを除く。)、警備及び法律事務

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010073700

  2010年09月17日

  商標コード

  7
  加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010073700

  2010年09月17日

  商標コード

  10
  医療用機械器具及び医療用品

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010073700

  2010年09月17日

  商標コード

  11
  照明用、加熱用、蒸気発生用、調理用、冷却用、乾燥用、換気用、給水用又は衛生用の装置

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010073700

  2010年09月17日

  商標コード

  12
  乗物その他移動用の装置

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010073700

  2010年09月17日

  商標コード

  15
  楽器

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2010073700

  2010年09月17日

  商標コード

  28
  がん具、遊戯用具及び運動用具

  表示用商標

  ＡｉｒＴａｐ

• 商標　2011026364

  2011年04月14日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  Ｃｒｏｓｓ　Ｄｏｍａｉｎ　Ａｎａｌｙｚｅｒ

• 商標　2012003627

  2012年01月23日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＭＶＭ－ＳＥＭ

• 商標　2012100335

  2012年12月11日

  商標コード

  42
  科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

  表示用商標

  §ＣＴＳ∞Ｃｌｏｕｄ＼Ｔｅｓｔｉｎｇ＼Ｓｅｒｖｉｃｅ

• 特許　2013211352

  2013年10月08日

  特許分類

  H03K 17/00
  基本電子回路

  テーマコード

  5J055

  発明の名称

  スイッチ装置および試験装置

• 特許　2013211352

  2013年10月08日

  特許分類

  H03K 17/00 B
  基本電子回路

  テーマコード

  5J055

  発明の名称

  スイッチ装置および試験装置

• 特許　2013211352

  2013年10月08日

  特許分類

  H03K 17/687
  基本電子回路

  テーマコード

  5J055

  発明の名称

  スイッチ装置および試験装置

• 特許　2013211352

  2013年10月08日

  特許分類

  H03K 17/687 G
  基本電子回路

  テーマコード

  5J055

  発明の名称

  スイッチ装置および試験装置

職場情報

平均継続勤務年数

範囲：正社員

男性：21.8

女性：17.8

正社員の平均：-

従業員の平均年齢

-

月平均所定外労働時間

-

女性労働者の割合

範囲：正社員

25.0%

管理職人数

-

役員人数

-

育児休業取得者

対象者：男性 -人、女性 -人

取得者：男性 -人、女性 -人