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日本電子株式会社

法人番号：9012801002438

日本電子株式会社は、 　大井　泉を代表者とする、 東京都昭島市武蔵野３丁目１番２号にある法人です。 1949年に設立されました。

基本情報

法人番号
9012801002438
法人名称/商号
日本電子株式会社
法人名称/商号（カナ）
ニホンデンシ
法人名称/商号（英語）
-
所在地
〒1960021
東京都昭島市武蔵野３丁目１番２号
代表者
代表取締役社長兼COO　 　大井　泉
資本金
10,037,000,000円
従業員数

2,027人

営業品目
精密機器類 、 医療用機器 、 精密機器類 、 医療用機器 、 ソフトウェア開発 、 賃貸借 、 建物管理等各種保守管 、 その他 、 その他
事業概要

高級精密理科学機器（電子光学機器・分析機器）、計測検査機器、半導体関連機器、産業機器、医用機器の製造・販売・開発研究、およびそれに附帯する製品・部品の加工委託、保守・サービス、周辺機器の仕入・販売

ウェブサイト
http://www.jeol.co.jp
設立年月日
1949年05月30日
創業年
-
データ最終更新日
2021年04月09日

表彰情報

  • 両立支援のひろば　一般事業主行動計画公表

    府省
    厚生労働省

  • 女性の活躍推進企業

    府省
    厚生労働省

  • ＧＮＴ企業１００選

    2014年03月17日
    対象
    透過電子顕微鏡
    府省
    経済産業省

  • えるぼし－認定

    府省
    厚生労働省

補助金情報

  • 地域新規産業創造技術開発費補助金

    2004年01月01日

    50,000,000円

    対象
    インライン高感度・高スループットウエハ不純物自動解析ＩＣＰ－ＭＳ装置の開発
    府省
    経済産業省

調達情報

  • 核磁気共鳴装置保守点検

    2020年04月07日

    3,557,400円

    府省
    警察庁

  • 核磁気共鳴装置保守点検

    2016年04月01日

    2,269,080円

    府省
    国家公安委員会（警察庁）

  • 低真空走査型電子顕微鏡用制御装置

    2016年10月21日

    1,652,400円

    府省
    国家公安委員会（警察庁）

  • 核磁気共鳴装置保守点検

    2017年04月03日

    2,447,280円

    府省
    国家公安委員会（警察庁）

  • 電子顕微鏡装置保守業務

    2019年04月01日

    1,357,400円

    府省
    宮内庁

  • 電子顕微鏡装置保守業務

    2020年04月01日

    1,357,400円

    府省
    宮内庁

  • 電子顕微鏡装置保守業務

    2017年04月03日

    1,332,720円

    府省
    宮内庁

  • 電子顕微鏡装置保守業務

    2018年04月02日

    1,332,720円

    府省
    宮内庁

  • 令和元年度ツシマヤマネコ野生順化ステーション雷対策工事

    2019年11月25日

    7,370,000円

    府省
    環境省

  • 令和２年度走査型電子顕微鏡保守業務

    2020年04月01日

    4,598,000円

    府省
    環境省

  • 平成２９年度走査型電子顕微鏡保守業務

    2017年04月01日

    3,445,200円

    府省
    環境省

  • 平成２９年度共同研究事業（火山活動評価のためのマグマ滞留時間の推定手法に関する研究）にかかる日本電子製ＪＸＡ？８２３０／８５３０Ｆ用カソードルミネッセンス検出器の導入

    2017年11月08日

    15,984,000円

    府省
    原子力規制委員会

  • 平成３０年度走査型電子顕微鏡保守業務

    2018年04月02日

    3,445,200円

    府省
    環境省

  • 平成３１年度走査型電子顕微鏡保守業務

    2019年04月01日

    3,769,200円

    府省
    環境省

  • 平成２９年度「高分解能二重収束タンデム型質量分析計（ＪＭＳ－ＭＳ７００Ｔ）」の年間保守契約

    2017年04月01日

    3,456,000円

    府省
    石油天然ガス・金属鉱物資源機構

  • 省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業

    2018年07月04日

    100,240,200円

    府省
    国立研究開発法人新エネルギー・産業技術総合開発機構

  • 臨床化学自動分析システム　定期点検

    2020年04月01日

    2,098,800円

    府省
    防衛省

  • フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備

    2020年04月24日

    4,440,700円

    府省
    防衛省

  • ＧＣ質量分析装置の保守点検整備

    2020年04月24日

    2,988,700円

    府省
    防衛省

  • 超高感度ＦＴ－ＮＭＲ装置

    2016年09月29日

    58,536,000円

    府省
    防衛省

  • 電子顕微鏡年間保守

    2017年04月03日

    8,208,000円

    府省
    防衛省

  • 走査電子顕微鏡修理

    2016年11月15日

    2,538,000円

    府省
    防衛省

  • フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備

    2017年04月27日

    3,956,040円

    府省
    防衛省

  • 臨床化学自動分析システム　定期点検

    2017年06月12日

    1,819,960円

    府省
    防衛省

  • ＧＣ質量分析装置の整備診断後の整備

    2017年06月27日

    6,048,000円

    府省
    防衛省

  • 自動分析装置，生化学用，自動溶血機能付

    2016年12月16日

    14,580,000円

    府省
    防衛省

  • 電子顕微鏡年間保守

    2018年04月02日

    7,668,000円

    府省
    防衛省

  • 磁化特性測定装置年間保守

    2018年04月02日

    5,508,000円

    府省
    防衛省

  • 走査電子顕微鏡点検１式

    2017年10月12日

    1,058,400円

    府省
    防衛省

  • フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備

    2018年05月14日

    3,956,040円

    府省
    防衛省

  • ＧＣ質量分析装置保守点検整備

    2018年07月18日

    2,934,360円

    府省
    防衛省

  • フーリエ変換型核磁気共鳴装置の保守整備

    2019年04月24日

    4,300,560円

    府省
    防衛省

  • ＧＣ質量分析装置の保守点検整備

    2019年04月24日

    2,934,360円

    府省
    防衛省

  • 卓上走査電子顕微鏡

    2018年10月09日

    7,506,000円

    府省
    防衛省

  • オートチェンジャー

    2019年01月10日

    2,138,400円

    府省
    防衛省

  • 電子顕微鏡年間保守

    2019年04月01日

    8,208,000円

    府省
    防衛省

  • 磁化特性測定装置年間保守

    2019年04月01日

    5,508,000円

    府省
    防衛省

  • 走査電子顕微鏡点検

    2018年11月20日

    1,019,005円

    府省
    防衛省

特許情報

  • 商標　2014012541

    2014年02月20日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    ＪＥＯＬ

  • 商標　2014012541

    2014年02月20日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＪＥＯＬ

  • 商標　2014012541

    2014年02月20日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ＪＥＯＬ

  • 商標　2014012897

    2014年02月21日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    ＪＥＯＬ

  • 商標　2014012897

    2014年02月21日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＪＥＯＬ

  • 商標　2014012897

    2014年02月21日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ＪＥＯＬ

  • 特許　2014244674

    2014年12月03日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    成膜方法および集束イオンビーム装置

  • 特許　2014244674

    2014年12月03日
    特許分類
    H01J 37/305 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    成膜方法および集束イオンビーム装置

  • 特許　2014244674

    2014年12月03日
    特許分類
    H01J 37/317
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    成膜方法および集束イオンビーム装置

  • 特許　2014244674

    2014年12月03日
    特許分類
    H01J 37/317 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    成膜方法および集束イオンビーム装置

  • 特許　2014248193

    2014年12月08日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2014248193

    2014年12月08日
    特許分類
    H01J 37/04 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2014248193

    2014年12月08日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2014248193

    2014年12月08日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2014248193

    2014年12月08日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2014248193

    2014年12月08日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2014019310

    2014年02月04日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2014019310

    2014年02月04日
    特許分類
    G01N 27/62 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2014019310

    2014年02月04日
    特許分類
    G01N 27/62 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2014019310

    2014年02月04日
    特許分類
    G01N 27/64
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2014019310

    2014年02月04日
    特許分類
    G01N 27/64 B
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2014019310

    2014年02月04日
    特許分類
    H01J 49/10
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2014019310

    2014年02月04日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2014021126

    2014年02月06日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    粒子解析装置、およびプログラム

  • 特許　2014025291

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズの製造方法、多極子レンズ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014025291

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/141 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズの製造方法、多極子レンズ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014025291

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/141 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズの製造方法、多極子レンズ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014025291

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズの製造方法、多極子レンズ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014025291

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズの製造方法、多極子レンズ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014025291

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/153 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズの製造方法、多極子レンズ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/20 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014025292

    2014年02月13日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2014034116

    2014年02月25日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子線描画装置

  • 特許　2014034116

    2014年02月25日
    特許分類
    H01L 21/30 541L
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子線描画装置

  • 特許　2014034116

    2014年02月25日
    特許分類
    H01L 21/30 541Q
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子線描画装置

  • 特許　2014038089

    2014年02月28日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡

  • 特許　2014038089

    2014年02月28日
    特許分類
    H01J 37/141 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    B22F 3/02
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    B22F 3/02 R
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    B22F 3/105
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    B22F 3/16
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    B29C 67/00
    プラスチックの加工; 可塑状態の物質の加工一般
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    H01J 37/147 E
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014046685

    2014年03月10日
    特許分類
    H01J 37/305 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014047432

    2014年03月11日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び異常検出方法

  • 特許　2014047432

    2014年03月11日
    特許分類
    G01N 35/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び異常検出方法

  • 特許　2014051029

    2014年03月14日
    特許分類
    B29C 67/00
    プラスチックの加工; 可塑状態の物質の加工一般
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム照射装置及び荷電粒子ビーム照射方法

  • 特許　2014051029

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/30
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム照射装置及び荷電粒子ビーム照射方法

  • 特許　2014051029

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/30 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム照射装置及び荷電粒子ビーム照射方法

  • 特許　2014051170

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器および荷電粒子線装置

  • 特許　2014051170

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器および荷電粒子線装置

  • 特許　2014051170

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器および荷電粒子線装置

  • 特許　2014051240

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/21
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法

  • 特許　2014051240

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/21 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法

  • 特許　2014051240

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法

  • 特許　2014051240

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/22 501C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法

  • 特許　2014051240

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/22 501H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法

  • 特許　2014051240

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法

  • 特許　2014051240

    2014年03月14日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡像の表示方法

  • 特許　2014057766

    2014年03月20日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び異常判定方法

  • 特許　2014057766

    2014年03月20日
    特許分類
    G01N 35/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び異常判定方法

  • 特許　2014058292

    2014年03月20日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    試薬容器収容ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2014058292

    2014年03月20日
    特許分類
    G01N 35/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    試薬容器収容ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2014058292

    2014年03月20日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    試薬容器収容ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2014058292

    2014年03月20日
    特許分類
    G01N 35/02 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    試薬容器収容ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2014059558

    2014年03月24日
    特許分類
    G01N 35/06 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析方法

  • 特許　2014059558

    2014年03月24日
    特許分類
    G01N 35/06 K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析方法

  • 特許　2014059558

    2014年03月24日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析方法

  • 特許　2014064034

    2014年03月26日
    特許分類
    B22F 3/105
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4K018

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014064034

    2014年03月26日
    特許分類
    B22F 3/16
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4K018

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014064034

    2014年03月26日
    特許分類
    B22F 5/02
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4K018

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014064034

    2014年03月26日
    特許分類
    B29C 67/00
    プラスチックの加工; 可塑状態の物質の加工一般
    テーマコード
    4K018

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014064311

    2014年03月26日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    ミコール酸分析方法及び装置

  • 特許　2014064311

    2014年03月26日
    特許分類
    G01N 27/62 V
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    ミコール酸分析方法及び装置

  • 特許　2014064311

    2014年03月26日
    特許分類
    G01N 27/62 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    ミコール酸分析方法及び装置

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/04 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/06 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/065
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/248
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/248 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/30
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014071223

    2014年03月31日
    特許分類
    H01J 37/30 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2014072220

    2014年03月31日
    特許分類
    B22F 3/105
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4K018

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014072220

    2014年03月31日
    特許分類
    B22F 3/16
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4K018

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014072220

    2014年03月31日
    特許分類
    B29C 67/00
    プラスチックの加工; 可塑状態の物質の加工一般
    テーマコード
    4K018

    発明の名称

    ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法

  • 特許　2014072274

    2014年03月31日
    特許分類
    B22F 3/105
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4F213

    発明の名称

    三次元積層造形装置

  • 特許　2014072274

    2014年03月31日
    特許分類
    B22F 3/16
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4F213

    発明の名称

    三次元積層造形装置

  • 特許　2014072274

    2014年03月31日
    特許分類
    B29C 67/00
    プラスチックの加工; 可塑状態の物質の加工一般
    テーマコード
    4F213

    発明の名称

    三次元積層造形装置

  • 特許　2014074088

    2014年03月31日
    特許分類
    B22F 3/105
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    3C004

    発明の名称

    ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置

  • 特許　2014074088

    2014年03月31日
    特許分類
    B22F 3/16
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    3C004

    発明の名称

    ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置

  • 特許　2014074088

    2014年03月31日
    特許分類
    B24C 1/00
    研削; 研磨
    テーマコード
    3C004

    発明の名称

    ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置

  • 特許　2014074088

    2014年03月31日
    特許分類
    B24C 1/00 Z
    研削; 研磨
    テーマコード
    3C004

    発明の名称

    ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置

  • 特許　2014074088

    2014年03月31日
    特許分類
    B24C 3/12
    研削; 研磨
    テーマコード
    3C004

    発明の名称

    ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置

  • 特許　2014074088

    2014年03月31日
    特許分類
    B24C 3/22
    研削; 研磨
    テーマコード
    3C004

    発明の名称

    ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置

  • 特許　2014074088

    2014年03月31日
    特許分類
    B24C 9/00
    研削; 研磨
    テーマコード
    3C004

    発明の名称

    ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置

  • 特許　2014074088

    2014年03月31日
    特許分類
    B24C 9/00 J
    研削; 研磨
    テーマコード
    3C004

    発明の名称

    ３次元積層造形装置に用いられるブラスト装置

  • 特許　2014085407

    2014年04月17日
    特許分類
    H01J 37/12
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014085407

    2014年04月17日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014085407

    2014年04月17日
    特許分類
    H01J 37/141 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014085407

    2014年04月17日
    特許分類
    H01J 37/145
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014085407

    2014年04月17日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014085407

    2014年04月17日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014085407

    2014年04月17日
    特許分類
    H01J 37/153 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014085407

    2014年04月17日
    特許分類
    H01J 37/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズ、収差補正装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014085535

    2014年04月17日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2014085535

    2014年04月17日
    特許分類
    G01N 35/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    G01B 15/00
    測定; 試験
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    G01B 15/00 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    G06T 7/20
    計算; 計数
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    G06T 7/20 B
    計算; 計数
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014093429

    2014年04月30日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014096832

    2014年05月08日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計算装置、収差計算方法、画像処理装置、画像処理方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014096832

    2014年05月08日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計算装置、収差計算方法、画像処理装置、画像処理方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014096832

    2014年05月08日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計算装置、収差計算方法、画像処理装置、画像処理方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014096832

    2014年05月08日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計算装置、収差計算方法、画像処理装置、画像処理方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014096832

    2014年05月08日
    特許分類
    H01J 37/24
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計算装置、収差計算方法、画像処理装置、画像処理方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014096832

    2014年05月08日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計算装置、収差計算方法、画像処理装置、画像処理方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014099230

    2014年05月13日
    特許分類
    B08B 3/04
    清掃
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びノズル洗浄方法

  • 特許　2014099230

    2014年05月13日
    特許分類
    B08B 3/04 Z
    清掃
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びノズル洗浄方法

  • 特許　2014099230

    2014年05月13日
    特許分類
    B08B 9/02
    清掃
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びノズル洗浄方法

  • 特許　2014099230

    2014年05月13日
    特許分類
    B08B 9/02 Z
    清掃
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びノズル洗浄方法

  • 特許　2014099230

    2014年05月13日
    特許分類
    G01N 1/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びノズル洗浄方法

  • 特許　2014099230

    2014年05月13日
    特許分類
    G01N 1/00 101N
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びノズル洗浄方法

  • 特許　2014099230

    2014年05月13日
    特許分類
    G01N 35/06 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びノズル洗浄方法

  • 特許　2014099230

    2014年05月13日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びノズル洗浄方法

  • 特許　2014100075

    2014年05月14日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    容器供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2014100075

    2014年05月14日
    特許分類
    G01N 35/04 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    容器供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2014105393

    2014年05月21日
    特許分類
    G01N 23/221
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2014105393

    2014年05月21日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2014105393

    2014年05月21日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2014105393

    2014年05月21日
    特許分類
    H01J 37/252
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2014105393

    2014年05月21日
    特許分類
    H01J 37/252 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2014105393

    2014年05月21日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2014105393

    2014年05月21日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2014108869

    2014年05月27日
    特許分類
    G01N 24/02 510D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    流通分析装置および流通分析方法

  • 特許　2014108869

    2014年05月27日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    流通分析装置および流通分析方法

  • 特許　2014108869

    2014年05月27日
    特許分類
    G01N 24/08 510P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    流通分析装置および流通分析方法

  • 特許　2014108869

    2014年05月27日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    流通分析装置および流通分析方法

  • 特許　2014113973

    2014年06月02日
    特許分類
    G01N 1/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2014125380

    2014年06月18日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計測角度範囲計算装置、収差計測角度範囲計算方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014125380

    2014年06月18日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計測角度範囲計算装置、収差計測角度範囲計算方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014125380

    2014年06月18日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計測角度範囲計算装置、収差計測角度範囲計算方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014125380

    2014年06月18日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計測角度範囲計算装置、収差計測角度範囲計算方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014125380

    2014年06月18日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差計測角度範囲計算装置、収差計測角度範囲計算方法、および電子顕微鏡

  • 特許　2014145259

    2014年07月15日
    特許分類
    G01N 23/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム信号合成回路、ライブタイム信号合成方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014145259

    2014年07月15日
    特許分類
    G01T 1/17
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム信号合成回路、ライブタイム信号合成方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014145259

    2014年07月15日
    特許分類
    G01T 1/17 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム信号合成回路、ライブタイム信号合成方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014145259

    2014年07月15日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム信号合成回路、ライブタイム信号合成方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014145259

    2014年07月15日
    特許分類
    G01T 7/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム信号合成回路、ライブタイム信号合成方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014146829

    2014年07月17日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014146829

    2014年07月17日
    特許分類
    G01T 7/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014146829

    2014年07月17日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014146829

    2014年07月17日
    特許分類
    H01J 37/252
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014146829

    2014年07月17日
    特許分類
    H01J 37/252 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014146829

    2014年07月17日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014146829

    2014年07月17日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014149678

    2014年07月23日
    特許分類
    G01N 24/02 530A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149678

    2014年07月23日
    特許分類
    G01N 24/04 530C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149678

    2014年07月23日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149678

    2014年07月23日
    特許分類
    G01R 33/36
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149862

    2014年07月23日
    特許分類
    A61B 5/05 351
    医学または獣医学; 衛生学
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149862

    2014年07月23日
    特許分類
    A61B 5/055
    医学または獣医学; 衛生学
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149862

    2014年07月23日
    特許分類
    G01N 24/08 520L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149862

    2014年07月23日
    特許分類
    G01N 24/10 520G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149862

    2014年07月23日
    特許分類
    G01R 33/46
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149862

    2014年07月23日
    特許分類
    G01R 33/60
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149863

    2014年07月23日
    特許分類
    A61B 5/05 355
    医学または獣医学; 衛生学
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149863

    2014年07月23日
    特許分類
    A61B 5/055
    医学または獣医学; 衛生学
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149863

    2014年07月23日
    特許分類
    G01N 24/02 530A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149863

    2014年07月23日
    特許分類
    G01R 33/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149863

    2014年07月23日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149863

    2014年07月23日
    特許分類
    H03B 15/00
    基本電子回路
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149864

    2014年07月23日
    特許分類
    G01N 24/04 530A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149864

    2014年07月23日
    特許分類
    G01N 24/04 530Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014149864

    2014年07月23日
    特許分類
    G01R 33/36
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01N 24/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01N 24/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01N 24/08 510Q
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01N 24/08 520Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01N 24/10 520Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01R 33/46
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01R 33/465
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    G01R 33/60
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014150826

    2014年07月24日
    特許分類
    H03K 3/78
    基本電子回路
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2014159598

    2014年08月05日
    特許分類
    G01N 23/227
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    制御装置、及び制御方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/04 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/05
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/24
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014163643

    2014年08月11日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法

  • 特許　2014164667

    2014年08月13日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送ユニット及び自動分析システム

  • 特許　2014164667

    2014年08月13日
    特許分類
    G01N 35/04 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送ユニット及び自動分析システム

  • 特許　2014169248

    2014年08月22日
    特許分類
    F25D 17/02
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    流体循環装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2014169248

    2014年08月22日
    特許分類
    F25D 17/02 304
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    流体循環装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2014169248

    2014年08月22日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    流体循環装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2014169248

    2014年08月22日
    特許分類
    H01J 37/141 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    流体循環装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2014175639

    2014年08月29日
    特許分類
    E05C 1/04
    錠; 鍵（かぎ）; 窓または戸の付属品;金庫
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014175639

    2014年08月29日
    特許分類
    E05C 1/04 A
    錠; 鍵（かぎ）; 窓または戸の付属品;金庫
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014175639

    2014年08月29日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線分析装置

  • 特許　2014175640

    2014年08月29日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ３次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014175640

    2014年08月29日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ３次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014175640

    2014年08月29日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ３次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014175640

    2014年08月29日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ３次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014175640

    2014年08月29日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    ３次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡

  • 特許　2014185312

    2014年09月11日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び異常判定方法

  • 特許　2014185312

    2014年09月11日
    特許分類
    G01N 35/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び異常判定方法

  • 特許　2014185312

    2014年09月11日
    特許分類
    G01N 35/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び異常判定方法

  • 特許　2014191431

    2014年09月19日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014191431

    2014年09月19日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014191431

    2014年09月19日
    特許分類
    G01N 1/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014191431

    2014年09月19日
    特許分類
    G01N 1/32 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014191431

    2014年09月19日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014191431

    2014年09月19日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014192503

    2014年09月22日
    特許分類
    G01N 23/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    情報処理装置、及び情報処理方法

  • 特許　2014193521

    2014年09月24日
    特許分類
    B08B 7/00
    清掃
    テーマコード
    5F004

    発明の名称

    有機化合物除去装置

  • 特許　2014193521

    2014年09月24日
    特許分類
    H01L 21/302
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F004

    発明の名称

    有機化合物除去装置

  • 特許　2014193521

    2014年09月24日
    特許分類
    H01L 21/302 201B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F004

    発明の名称

    有機化合物除去装置

  • 特許　2014197191

    2014年09月26日
    特許分類
    H01J 37/16
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡観察窓用の遮光器および電子顕微鏡

  • 特許　2014197191

    2014年09月26日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡観察窓用の遮光器および電子顕微鏡

  • 特許　2014198554

    2014年09月29日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、および電子顕微鏡

  • 特許　2014198554

    2014年09月29日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、および電子顕微鏡

  • 特許　2014198554

    2014年09月29日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、および電子顕微鏡

  • 特許　2014198554

    2014年09月29日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、および電子顕微鏡

  • 特許　2014203656

    2014年10月02日
    特許分類
    G01N 21/76
    測定; 試験
    テーマコード
    2G054

    発明の名称

    発光計測装置、および自動分析装置

  • 特許　2014203656

    2014年10月02日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G054

    発明の名称

    発光計測装置、および自動分析装置

  • 特許　2014203656

    2014年10月02日
    特許分類
    G01N 35/02 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G054

    発明の名称

    発光計測装置、および自動分析装置

  • 特許　2014203656

    2014年10月02日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G054

    発明の名称

    発光計測装置、および自動分析装置

  • 特許　2014203656

    2014年10月02日
    特許分類
    G01N 35/04 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G054

    発明の名称

    発光計測装置、および自動分析装置

  • 特許　2014205615

    2014年10月06日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    情報処理装置、及び情報処理方法

  • 特許　2014213657

    2014年10月20日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    散布図表示装置、散布図表示方法、および表面分析装置

  • 特許　2014213657

    2014年10月20日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    散布図表示装置、散布図表示方法、および表面分析装置

  • 特許　2014213658

    2014年10月20日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014213658

    2014年10月20日
    特許分類
    G01T 1/17
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014213658

    2014年10月20日
    特許分類
    G01T 1/17 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014213658

    2014年10月20日
    特許分類
    G01T 1/17 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014213658

    2014年10月20日
    特許分類
    G01T 1/17 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014213658

    2014年10月20日
    特許分類
    G01T 1/17 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014213658

    2014年10月20日
    特許分類
    G01T 1/36
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014213658

    2014年10月20日
    特許分類
    G01T 1/36 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    ライブタイム比演算回路、ライブタイム比演算方法、放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    H01J 37/30
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    H01J 37/30 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014215560

    2014年10月22日
    特許分類
    H01J 37/305 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2014217310

    2014年10月24日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び分離洗浄方法

  • 特許　2014217310

    2014年10月24日
    特許分類
    G01N 35/02 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び分離洗浄方法

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    F16C 29/04
    機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    F16H 25/20
    機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    F16H 25/20 E
    機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    F16H 25/24
    機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    F16H 25/24 B
    機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    F16H 25/24 H
    機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    H02K 7/06
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014219944

    2014年10月29日
    特許分類
    H02K 7/06 A
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    3J062

    発明の名称

    アクチュエーター、試料位置決め装置、および荷電粒子線装置

  • 特許　2014227191

    2014年11月07日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像評価方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2014227191

    2014年11月07日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像評価方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2014227191

    2014年11月07日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像評価方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2014227191

    2014年11月07日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像評価方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2014227191

    2014年11月07日
    特許分類
    H01J 37/317
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像評価方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2014227191

    2014年11月07日
    特許分類
    H01J 37/317 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像評価方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2014228704

    2014年11月11日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体吸引具、液体供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2014228704

    2014年11月11日
    特許分類
    G01N 35/10 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    液体吸引具、液体供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2014228920

    2014年11月11日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び動作指定方法

  • 特許　2014228920

    2014年11月11日
    特許分類
    G01N 35/00 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び動作指定方法

  • 特許　2014228920

    2014年11月11日
    特許分類
    G01N 35/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び動作指定方法

  • 特許　2014233615

    2014年11月18日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析装置における棒状部材の昇降動作方法

  • 特許　2014233615

    2014年11月18日
    特許分類
    G01N 35/02 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析装置における棒状部材の昇降動作方法

  • 特許　2014233615

    2014年11月18日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析装置における棒状部材の昇降動作方法

  • 特許　2014233615

    2014年11月18日
    特許分類
    G01N 35/10 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析装置における棒状部材の昇降動作方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    G01N 1/28 W
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    G02B 21/24
    光学
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    H01J 37/20 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    H01J 37/30
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    H01J 37/30 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014234454

    2014年11月19日
    特許分類
    H01J 37/305 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダー、試料作製装置、および位置合わせ方法

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    G01N 23/225 320
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    H01J 37/20 G
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2014236569

    2014年11月21日
    特許分類
    H01J 37/305 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置

  • 商標　2015010374

    2015年02月05日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ｍｓＭｉｃｒｏＩｍａｇｅｒ

  • 商標　2015027277

    2015年03月25日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    ＹＯＫＯＧＵＳＨＩ

  • 商標　2015027277

    2015年03月25日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    ＹＯＫＯＧＵＳＨＩ

  • 商標　2015082861

    2015年08月28日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ｍＴＯＦ

  • 商標　2015082862

    2015年08月28日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＮＥＸＴＯＦ

  • 商標　2015099315

    2015年10月15日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＳＰＥＣＰＯＲＴＥＲ

  • 商標　2015099316

    2015年10月15日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    Ｔｒｉｓｋｅｌｉｏｎ

  • 商標　2015099317

    2015年10月15日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ｍｓＴｒｉｓｋｅｌｉｏｎ

  • 意匠　2015023301

    2015年10月21日
    意匠分類
    J18
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    電子顕微鏡

  • 意匠　2015025227

    2015年11月11日
    意匠分類
    J151
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    生化学分析機

  • 意匠　2015025232

    2015年11月11日
    意匠分類
    J151
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    自動分析機

  • 意匠　2015025233

    2015年11月11日
    意匠分類
    J1519
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    検体搬送機

  • 特許　2015001343

    2015年01月07日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子検出装置および走査電子顕微鏡

  • 特許　2015003094

    2015年01月09日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2015003094

    2015年01月09日
    特許分類
    H01J 37/04 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2015003094

    2015年01月09日
    特許分類
    H01J 37/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2015003094

    2015年01月09日
    特許分類
    H01J 37/06 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2015003094

    2015年01月09日
    特許分類
    H01J 37/063
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2015003094

    2015年01月09日
    特許分類
    H01J 37/302
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法

  • 特許　2015006705

    2015年01月16日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析データ処理装置および質量分析データ処理方法

  • 特許　2015006705

    2015年01月16日
    特許分類
    G01N 27/62 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析データ処理装置および質量分析データ処理方法

  • 特許　2015008293

    2015年01月20日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズおよび荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2015008293

    2015年01月20日
    特許分類
    H01J 37/141 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズおよび荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2015008293

    2015年01月20日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多極子レンズおよび荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2015014502

    2015年01月28日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015014502

    2015年01月28日
    特許分類
    G01N 35/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015014502

    2015年01月28日
    特許分類
    G01N 35/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01N 24/02 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01N 24/02 510C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01N 24/02 510F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01N 24/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01N 24/12 510L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01R 33/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01R 33/31
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015016082

    2015年01月29日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/09 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015019203

    2015年02月03日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差測定方法

  • 特許　2015022651

    2015年02月06日
    特許分類
    G01N 24/04 510F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015022651

    2015年02月06日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015022651

    2015年02月06日
    特許分類
    G01N 24/04 510Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015022651

    2015年02月06日
    特許分類
    G01N 24/04 520H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015022651

    2015年02月06日
    特許分類
    G01N 24/04 530F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015022651

    2015年02月06日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015022651

    2015年02月06日
    特許分類
    G01R 33/34
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015022651

    2015年02月06日
    特許分類
    G01R 33/36
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲプローブ

  • 特許　2015024946

    2015年02月12日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015024946

    2015年02月12日
    特許分類
    G01N 35/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015024946

    2015年02月12日
    特許分類
    G01N 35/00 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015029000

    2015年02月17日
    特許分類
    G01N 24/02 530Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2015029000

    2015年02月17日
    特許分類
    G01N 24/04 530F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2015029000

    2015年02月17日
    特許分類
    G01N 24/04 530H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2015029000

    2015年02月17日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2015029000

    2015年02月17日
    特許分類
    G01R 33/36
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴測定装置

  • 特許　2015029398

    2015年02月18日
    特許分類
    G01N 24/04 520A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2015029398

    2015年02月18日
    特許分類
    G01N 24/06 520Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2015029398

    2015年02月18日
    特許分類
    G01R 33/34
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2015029398

    2015年02月18日
    特許分類
    G01R 33/387
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2015038469

    2015年02月27日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    測定方法および電子顕微鏡

  • 特許　2015038469

    2015年02月27日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    測定方法および電子顕微鏡

  • 特許　2015038469

    2015年02月27日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    測定方法および電子顕微鏡

  • 特許　2015038469

    2015年02月27日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    測定方法および電子顕微鏡

  • 特許　2015038469

    2015年02月27日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    測定方法および電子顕微鏡

  • 特許　2015038469

    2015年02月27日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    測定方法および電子顕微鏡

  • 特許　2015042160

    2015年03月04日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    画像表示装置、画像表示方法、およびプログラム

  • 特許　2015042160

    2015年03月04日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    画像表示装置、画像表示方法、およびプログラム

  • 特許　2015042160

    2015年03月04日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    画像表示装置、画像表示方法、およびプログラム

  • 特許　2015042284

    2015年03月04日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    分析装置、画像処理方法及びビームの軸合わせ方法

  • 特許　2015042284

    2015年03月04日
    特許分類
    H01J 37/04 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    分析装置、画像処理方法及びビームの軸合わせ方法

  • 特許　2015042284

    2015年03月04日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    分析装置、画像処理方法及びビームの軸合わせ方法

  • 特許　2015042284

    2015年03月04日
    特許分類
    H01J 37/22 501B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    分析装置、画像処理方法及びビームの軸合わせ方法

  • 特許　2015042284

    2015年03月04日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    分析装置、画像処理方法及びビームの軸合わせ方法

  • 特許　2015042284

    2015年03月04日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    分析装置、画像処理方法及びビームの軸合わせ方法

  • 特許　2015049438

    2015年03月12日
    特許分類
    G01N 23/227
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    電子分光装置および測定方法

  • 特許　2015049438

    2015年03月12日
    特許分類
    G01N 23/227 310
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    電子分光装置および測定方法

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    F25B 1/00
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    F25B 1/00 101H
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    F25B 1/00 399Y
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    F25B 39/04
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    F25B 39/04 H
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    F25D 17/02
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    F25D 17/02 303
    冷凍または冷却; 加熱と冷凍との組み合わせシステム; ヒ－トポンプシステム; 氷の製造または貯蔵; 気体の液化または固体化
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015053008

    2015年03月17日
    特許分類
    H01J 37/09 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    3L014

    発明の名称

    温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015055736

    2015年03月19日
    特許分類
    H01J 37/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び制御方法

  • 特許　2015090045

    2015年04月27日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    制御装置、制御方法、および分析システム

  • 特許　2015090045

    2015年04月27日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    制御装置、制御方法、および分析システム

  • 特許　2015090045

    2015年04月27日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    制御装置、制御方法、および分析システム

  • 特許　2015093127

    2015年04月30日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2015093127

    2015年04月30日
    特許分類
    G01N 35/00 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2015095415

    2015年05月08日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び多重測定方法

  • 特許　2015095415

    2015年05月08日
    特許分類
    G01N 35/00 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び多重測定方法

  • 特許　2015095781

    2015年05月08日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像処理装置、電子顕微鏡、および画像処理方法

  • 特許　2015095781

    2015年05月08日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像処理装置、電子顕微鏡、および画像処理方法

  • 特許　2015095781

    2015年05月08日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像処理装置、電子顕微鏡、および画像処理方法

  • 特許　2015099377

    2015年05月14日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および測定方法

  • 特許　2015099377

    2015年05月14日
    特許分類
    H01J 37/09 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および測定方法

  • 特許　2015099377

    2015年05月14日
    特許分類
    H01J 37/10
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および測定方法

  • 特許　2015099377

    2015年05月14日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および測定方法

  • 特許　2015099377

    2015年05月14日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および測定方法

  • 特許　2015099377

    2015年05月14日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および測定方法

  • 特許　2015099377

    2015年05月14日
    特許分類
    H01J 37/295
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および測定方法

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    G01N 1/28 L
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    G01N 23/22
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    G01N 23/22 320
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    H01J 37/16
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    H01J 37/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    H01J 37/20 E
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015100252

    2015年05月15日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置

  • 特許　2015118431

    2015年06月11日
    特許分類
    G01T 7/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器およびその製造方法

  • 特許　2015118431

    2015年06月11日
    特許分類
    G01T 7/00 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器およびその製造方法

  • 特許　2015118431

    2015年06月11日
    特許分類
    H01L 31/02
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器およびその製造方法

  • 特許　2015118431

    2015年06月11日
    特許分類
    H01L 31/02 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器およびその製造方法

  • 特許　2015118431

    2015年06月11日
    特許分類
    H01L 35/30
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器およびその製造方法

  • 特許　2015118431

    2015年06月11日
    特許分類
    H01L 35/34
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出器およびその製造方法

  • 特許　2015130715

    2015年06月30日
    特許分類
    H01J 37/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015130715

    2015年06月30日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015130715

    2015年06月30日
    特許分類
    H01J 37/20 G
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015130715

    2015年06月30日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015130715

    2015年06月30日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015130715

    2015年06月30日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015145613

    2015年07月23日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析装置および分析方法

  • 特許　2015145613

    2015年07月23日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析装置および分析方法

  • 特許　2015145613

    2015年07月23日
    特許分類
    G01N 23/225 310
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析装置および分析方法

  • 特許　2015145613

    2015年07月23日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析装置および分析方法

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    G01N 23/225 310
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/252
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/252 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/256
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015146985

    2015年07月24日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡

  • 特許　2015148548

    2015年07月28日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料台および試料加工方法

  • 特許　2015148548

    2015年07月28日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料台および試料加工方法

  • 特許　2015148548

    2015年07月28日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料台および試料加工方法

  • 特許　2015148548

    2015年07月28日
    特許分類
    G01N 1/28 W
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料台および試料加工方法

  • 特許　2015148548

    2015年07月28日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料台および試料加工方法

  • 特許　2015148548

    2015年07月28日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料台および試料加工方法

  • 特許　2015159395

    2015年08月12日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015159395

    2015年08月12日
    特許分類
    H01J 37/20 G
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015159395

    2015年08月12日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015159395

    2015年08月12日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015159395

    2015年08月12日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015159395

    2015年08月12日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015159706

    2015年08月12日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送装置及び自動分析システム

  • 特許　2015159706

    2015年08月12日
    特許分類
    G01N 35/04 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送装置及び自動分析システム

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    G06T 3/00
    計算; 計数
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    G06T 3/00 780
    計算; 計数
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/22 502C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015160081

    2015年08月14日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    画像生成装置及び画像生成方法

  • 特許　2015161864

    2015年08月19日
    特許分類
    H02M 3/28
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    5H730

    発明の名称

    電源回路および荷電粒子放出装置

  • 特許　2015161864

    2015年08月19日
    特許分類
    H02M 3/28 J
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    5H730

    発明の名称

    電源回路および荷電粒子放出装置

  • 特許　2015161864

    2015年08月19日
    特許分類
    H02M 3/28 P
    電力の発電, 変換, 配電
    テーマコード
    5H730

    発明の名称

    電源回路および荷電粒子放出装置

  • 特許　2015165654

    2015年08月25日
    特許分類
    G01N 21/31
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    電子スピン共鳴装置

  • 特許　2015165654

    2015年08月25日
    特許分類
    G01N 24/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    電子スピン共鳴装置

  • 特許　2015165654

    2015年08月25日
    特許分類
    G01N 24/10 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    電子スピン共鳴装置

  • 特許　2015165654

    2015年08月25日
    特許分類
    G01N 24/10 520C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    電子スピン共鳴装置

  • 特許　2015165654

    2015年08月25日
    特許分類
    G01R 33/60
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    電子スピン共鳴装置

  • 特許　2015175704

    2015年09月07日
    特許分類
    G01N 23/227
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析方法およびＸ線光電子分光装置

  • 特許　2015175704

    2015年09月07日
    特許分類
    G01N 23/227 310
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析方法およびＸ線光電子分光装置

  • 特許　2015175704

    2015年09月07日
    特許分類
    G01N 23/227 320
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析方法およびＸ線光電子分光装置

  • 特許　2015175830

    2015年09月07日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015175830

    2015年09月07日
    特許分類
    G01N 35/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015175830

    2015年09月07日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015175830

    2015年09月07日
    特許分類
    G01N 35/02 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及び自動分析方法

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/09 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/147 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175938

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/295
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置

  • 特許　2015175939

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置および測定方法

  • 特許　2015175939

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/147 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置および測定方法

  • 特許　2015175939

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置および測定方法

  • 特許　2015175939

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置および測定方法

  • 特許　2015175939

    2015年09月07日
    特許分類
    H01J 37/295
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子装置および測定方法

  • 特許　2015177174

    2015年09月09日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    加工方法

  • 特許　2015177174

    2015年09月09日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    加工方法

  • 特許　2015177174

    2015年09月09日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    加工方法

  • 特許　2015177174

    2015年09月09日
    特許分類
    G01N 1/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    加工方法

  • 特許　2015177174

    2015年09月09日
    特許分類
    G01N 1/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    加工方法

  • 特許　2015177174

    2015年09月09日
    特許分類
    G01N 1/32 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    加工方法

  • 特許　2015199586

    2015年10月07日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送装置及び自動分析システム

  • 特許　2015199586

    2015年10月07日
    特許分類
    G01N 35/04 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送装置及び自動分析システム

  • 特許　2015199587

    2015年10月07日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    容器供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2015199587

    2015年10月07日
    特許分類
    G01N 35/04 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    容器供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2015208228

    2015年10月22日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    四重極型質量分析計及び質量分析方法

  • 特許　2015208228

    2015年10月22日
    特許分類
    G01N 27/62 B
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    四重極型質量分析計及び質量分析方法

  • 特許　2015208228

    2015年10月22日
    特許分類
    H01J 49/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    四重極型質量分析計及び質量分析方法

  • 特許　2015208732

    2015年10月23日
    特許分類
    G01B 21/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2F069

    発明の名称

    検出装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2015208732

    2015年10月23日
    特許分類
    G01B 21/00 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2F069

    発明の名称

    検出装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2015208732

    2015年10月23日
    特許分類
    G01B 21/22
    測定; 試験
    テーマコード
    2F069

    発明の名称

    検出装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2015208732

    2015年10月23日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    2F069

    発明の名称

    検出装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2015208732

    2015年10月23日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    2F069

    発明の名称

    検出装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/10
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/24
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/252
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/252 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/256
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015216654

    2015年11月04日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2015228335

    2015年11月24日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料加工方法

  • 特許　2015228335

    2015年11月24日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料加工方法

  • 特許　2015228335

    2015年11月24日
    特許分類
    G01N 1/28 N
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料加工方法

  • 特許　2015228335

    2015年11月24日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料加工方法

  • 特許　2015228335

    2015年11月24日
    特許分類
    H01J 37/20 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料加工方法

  • 特許　2015243982

    2015年12月15日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    容器供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2015243982

    2015年12月15日
    特許分類
    G01N 35/02 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    容器供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2015243982

    2015年12月15日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    容器供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2015243982

    2015年12月15日
    特許分類
    G01N 35/04 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    容器供給ユニット及び自動分析装置

  • 特許　2015244843

    2015年12月16日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2015244843

    2015年12月16日
    特許分類
    G01N 35/02 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2015246071

    2015年12月17日
    特許分類
    G01N 23/227
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析方法および分光装置

  • 特許　2015246071

    2015年12月17日
    特許分類
    G01N 23/227 320
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    分析方法および分光装置

  • 特許　2015248842

    2015年12月21日
    特許分類
    G01N 24/02 510B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法

  • 特許　2015248842

    2015年12月21日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法

  • 特許　2015248842

    2015年12月21日
    特許分類
    G01N 24/04 520Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法

  • 特許　2015248842

    2015年12月21日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法

  • 特許　2015248842

    2015年12月21日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法

  • 特許　2015248842

    2015年12月21日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法

  • 特許　2015248842

    2015年12月21日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法

  • 特許　2015248842

    2015年12月21日
    特許分類
    G01R 33/34
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法

  • 特許　2015249731

    2015年12月22日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差補正方法および荷電粒子線装置

  • 特許　2015249731

    2015年12月22日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差補正方法および荷電粒子線装置

  • 特許　2015249731

    2015年12月22日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差補正方法および荷電粒子線装置

  • 特許　2015249731

    2015年12月22日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差補正方法および荷電粒子線装置

  • 特許　2015249731

    2015年12月22日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    収差補正方法および荷電粒子線装置

  • 特許　2015249866

    2015年12月22日
    特許分類
    G01N 24/02 510B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ装置

  • 特許　2015249866

    2015年12月22日
    特許分類
    G01N 24/02 510F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ装置

  • 特許　2015249866

    2015年12月22日
    特許分類
    G01N 24/04 520Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ装置

  • 特許　2015249866

    2015年12月22日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ装置

  • 特許　2015249866

    2015年12月22日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ装置

  • 特許　2015249866

    2015年12月22日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ装置

  • 特許　2015249866

    2015年12月22日
    特許分類
    G01R 33/31
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ装置

  • 特許　2015249866

    2015年12月22日
    特許分類
    G01R 33/34
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ装置

  • 特許　2015254300

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 23/207
    測定; 試験
    テーマコード
    5C024

    発明の名称

    固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置

  • 特許　2015254300

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 23/207 320
    測定; 試験
    テーマコード
    5C024

    発明の名称

    固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置

  • 特許　2015254300

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    5C024

    発明の名称

    固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置

  • 特許　2015254300

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    5C024

    発明の名称

    固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置

  • 特許　2015254300

    2015年12月25日
    特許分類
    H04N 5/225
    電気通信技術
    テーマコード
    5C024

    発明の名称

    固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置

  • 特許　2015254300

    2015年12月25日
    特許分類
    H04N 5/225 E
    電気通信技術
    テーマコード
    5C024

    発明の名称

    固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置

  • 特許　2015254300

    2015年12月25日
    特許分類
    H04N 5/335
    電気通信技術
    テーマコード
    5C024

    発明の名称

    固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置

  • 特許　2015254309

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送装置及び自動分析システム

  • 特許　2015254309

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 35/02 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送装置及び自動分析システム

  • 特許　2015254310

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送装置、自動分析システム及び検体ラック搬送装置の検体ラック回収方法

  • 特許　2015254310

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 35/02 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ラック搬送装置、自動分析システム及び検体ラック搬送装置の検体ラック回収方法

  • 特許　2015254876

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析方法

  • 特許　2015254876

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 35/10 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析方法

  • 特許　2015254876

    2015年12月25日
    特許分類
    G01N 35/10 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置および自動分析方法

  • 商標　2016014954

    2016年02月12日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    日本電子山形

  • 商標　2016014954

    2016年02月12日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    日本電子山形

  • 商標　2016014954

    2016年02月12日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    日本電子山形

  • 商標　2016014954

    2016年02月12日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    日本電子山形

  • 商標　2016014954

    2016年02月12日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    日本電子山形

  • 商標　2016014955

    2016年02月12日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＪＹＣ

  • 商標　2016014955

    2016年02月12日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ＪＹＣ

  • 商標　2016014955

    2016年02月12日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    ＪＹＣ

  • 商標　2016014955

    2016年02月12日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    ＪＹＣ

  • 商標　2016014955

    2016年02月12日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    ＪＹＣ

  • 商標　2016014956

    2016年02月12日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    日本電子インスツルメンツ

  • 商標　2016014956

    2016年02月12日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    日本電子インスツルメンツ

  • 商標　2016014956

    2016年02月12日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    日本電子インスツルメンツ

  • 商標　2016014957

    2016年02月12日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＪＩＩ

  • 商標　2016014957

    2016年02月12日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ＪＩＩ

  • 商標　2016014957

    2016年02月12日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    ＪＩＩ

  • 商標　2016062358

    2016年06月08日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＣＲＹＯ　ＡＲＭ

  • 商標　2016138818

    2016年12月09日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＩＯＮ　ＳＬＩＣＥＲ

  • 商標　2016138819

    2016年12月09日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＣＲＯＳＳ　ＳＥＣＴＩＯＮ　ＰＯＬＩＳＨＥＲ

  • 意匠　2016007324

    2016年04月01日
    意匠分類
    J1519
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    検体搬送機

  • 特許　2016000416

    2016年01月05日
    特許分類
    G01N 21/65
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    測定方法

  • 特許　2016000416

    2016年01月05日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    測定方法

  • 特許　2016000416

    2016年01月05日
    特許分類
    G01N 27/62 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G043

    発明の名称

    測定方法

  • 特許　2016004961

    2016年01月14日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用プローブ

  • 特許　2016004961

    2016年01月14日
    特許分類
    G01N 24/04 520Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用プローブ

  • 特許　2016004961

    2016年01月14日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用プローブ

  • 特許　2016004961

    2016年01月14日
    特許分類
    G01R 33/34
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用プローブ

  • 特許　2016009039

    2016年01月20日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析方法

  • 特許　2016009039

    2016年01月20日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析方法

  • 特許　2016009039

    2016年01月20日
    特許分類
    H01J 49/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析方法

  • 特許　2016009039

    2016年01月20日
    特許分類
    H01J 49/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析方法

  • 特許　2016009039

    2016年01月20日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析方法

  • 特許　2016010800

    2016年01月22日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム

  • 特許　2016010800

    2016年01月22日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム

  • 特許　2016010800

    2016年01月22日
    特許分類
    G01N 27/62 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム

  • 特許　2016010800

    2016年01月22日
    特許分類
    H01J 49/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム

  • 特許　2016044746

    2016年03月08日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2016044746

    2016年03月08日
    特許分類
    G01N 23/225 312
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    相分析装置、相分析方法、および表面分析装置

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/21
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/21 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016062293

    2016年03月25日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および収差補正方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 27/62 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 27/62 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 30/72
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 30/72 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 30/86
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 30/86 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 30/86 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 30/86 M
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 30/88
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016079694

    2016年04月12日
    特許分類
    G01N 30/88 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G063

    発明の名称

    質量分析装置および画像生成方法

  • 特許　2016082034

    2016年04月15日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および焦点合わせ方法

  • 特許　2016082034

    2016年04月15日
    特許分類
    H01J 37/21
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および焦点合わせ方法

  • 特許　2016082034

    2016年04月15日
    特許分類
    H01J 37/21 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および焦点合わせ方法

  • 特許　2016082034

    2016年04月15日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および焦点合わせ方法

  • 特許　2016082034

    2016年04月15日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および焦点合わせ方法

  • 特許　2016082034

    2016年04月15日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および焦点合わせ方法

  • 特許　2016082034

    2016年04月15日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および焦点合わせ方法

  • 特許　2016095193

    2016年05月11日
    特許分類
    H01J 37/05
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法

  • 特許　2016095193

    2016年05月11日
    特許分類
    H01J 37/12
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法

  • 特許　2016137860

    2016年07月12日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析データ解析方法

  • 特許　2016137860

    2016年07月12日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析データ解析方法

  • 特許　2016137860

    2016年07月12日
    特許分類
    G01N 27/62 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析データ解析方法

  • 特許　2016137861

    2016年07月12日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析方法

  • 特許　2016137861

    2016年07月12日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析方法

  • 特許　2016145952

    2016年07月26日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    マススペクトルデータのピーク検出処理方法及び装置

  • 特許　2016145952

    2016年07月26日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    マススペクトルデータのピーク検出処理方法及び装置

  • 特許　2016145952

    2016年07月26日
    特許分類
    H01J 49/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    マススペクトルデータのピーク検出処理方法及び装置

  • 特許　2016146991

    2016年07月27日
    特許分類
    C23C 14/30
    金属質材料への被覆; 金属質材料による材料への被覆; 化学的表面処理; 金属質材料の拡散処理; 真空蒸着, スパッタリング, イオン注入法, または化学蒸着による被覆一般; 金属質材料の防食または鉱皮の抑制一般
    テーマコード
    4K029

    発明の名称

    間接加熱蒸着源

  • 特許　2016146991

    2016年07月27日
    特許分類
    C23C 14/30 A
    金属質材料への被覆; 金属質材料による材料への被覆; 化学的表面処理; 金属質材料の拡散処理; 真空蒸着, スパッタリング, イオン注入法, または化学蒸着による被覆一般; 金属質材料の防食または鉱皮の抑制一般
    テーマコード
    4K029

    発明の名称

    間接加熱蒸着源

  • 特許　2016147032

    2016年07月27日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びプログラム

  • 特許　2016147032

    2016年07月27日
    特許分類
    G01N 35/10 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びプログラム

  • 特許　2016148814

    2016年07月28日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置

  • 特許　2016148814

    2016年07月28日
    特許分類
    G01N 24/08 510L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置

  • 特許　2016148814

    2016年07月28日
    特許分類
    G01N 24/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置

  • 特許　2016148814

    2016年07月28日
    特許分類
    G01N 24/10 510D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置

  • 特許　2016148814

    2016年07月28日
    特許分類
    G01N 24/10 520C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置

  • 特許　2016148814

    2016年07月28日
    特許分類
    G01R 33/60
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置

  • 特許　2016149467

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 49/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    四重極型質量分析計及び質量分析方法

  • 特許　2016149856

    2016年07月29日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びプログラム

  • 特許　2016149856

    2016年07月29日
    特許分類
    G01N 35/00 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びプログラム

  • 特許　2016149856

    2016年07月29日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びプログラム

  • 特許　2016149856

    2016年07月29日
    特許分類
    G01N 35/10 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置及びプログラム

  • 特許　2016150008

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2016150008

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 37/04 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2016150008

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2016150008

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2016150008

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2016150008

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2016150008

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2016150008

    2016年07月29日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2016544270

    2015年08月21日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    ３次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡

  • 商標　2017002818

    2017年01月16日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＤＡＲＴ

  • 商標　2017003748

    2017年01月18日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ドライＳＤ

  • 商標　2017021007

    2017年02月21日
    商標コード
    41
    教育、訓練、娯楽、スポーツ及び文化活動

    表示用商標

    ＣｅＳＰＩＡ

  • 商標　2017021007

    2017年02月21日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    ＣｅＳＰＩＡ

  • 商標　2017021007

    2017年02月21日
    商標コード
    44
    医療、動物の治療、人又は動物に関する衛生及び美容並びに農業、園芸又は林業に係る役務

    表示用商標

    ＣｅＳＰＩＡ

  • 商標　2017034057

    2017年03月14日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ４ＤＣａｎｖａｓ

  • 商標　2017051950

    2017年04月14日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＲＯＴＯＲＣＡＲＲＩＥＲ

  • 商標　2017058026

    2017年04月24日
    商標コード
    1
    工業用、科学用又は農業用の化学品

    表示用商標

    ＢＭテスト

  • 商標　2017058026

    2017年04月24日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    ＢＭテスト

  • 商標　2017058026

    2017年04月24日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ＢＭテスト

  • 商標　2017058027

    2017年04月24日
    商標コード
    1
    工業用、科学用又は農業用の化学品

    表示用商標

    ＢＭ　Ｔｅｓｔ

  • 商標　2017058027

    2017年04月24日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    ＢＭ　Ｔｅｓｔ

  • 商標　2017058027

    2017年04月24日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ＢＭ　Ｔｅｓｔ

  • 商標　2017163974

    2017年12月14日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＲＯＹＡＬプローブ

  • 商標　2017163975

    2017年12月14日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＲＯＹＡＬＰＲＯＢＥ

  • 意匠　2017010407

    2017年05月16日
    意匠分類
    J601
    保安機械器具等

    意匠に係る物品

    警告灯

  • 商標　2018132579

    2018年10月24日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    Ｃ－Ｌｉｎｋａｇｅ

  • 意匠　2018017478

    2018年08月09日
    意匠分類
    J18
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    電子顕微鏡用カバー

  • 特許　2018526823

    2017年03月14日
    特許分類
    G01N 24/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴プローブの多重共鳴回路の誘導結合および使用方法

  • 特許　2018526823

    2017年03月14日
    特許分類
    G01N 24/00 570A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴プローブの多重共鳴回路の誘導結合および使用方法

  • 特許　2018526823

    2017年03月14日
    特許分類
    G01N 24/00 580F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴プローブの多重共鳴回路の誘導結合および使用方法

  • 商標　2019027824

    2019年02月21日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    ＪＥＯＬ

  • 商標　2019027825

    2019年02月21日
    商標コード
    7
    加工機械、原動機(陸上の乗物用のものを除く。)その他の機械

    表示用商標

    ＪＥＯＬ

  • 商標　2019047070

    2019年04月03日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＪＥＯＩＮＴ

  • 商標　2019047070

    2019年04月03日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ＪＥＯＩＮＴ

  • 商標　2019047070

    2019年04月03日
    商標コード
    37
    建設、設置工事及び修理

    表示用商標

    ＪＥＯＩＮＴ

  • 商標　2019047070

    2019年04月03日
    商標コード
    42
    科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

    表示用商標

    ＪＥＯＩＮＴ

  • 意匠　2019002175

    2019年02月04日
    意匠分類
    J18
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    電子顕微鏡

  • 商標　2010011252

    2010年02月17日
    商標コード
    1
    工業用、科学用又は農業用の化学品

    表示用商標

    ＢＭ－Ｔｅｓｔ

  • 商標　2010011252

    2010年02月17日
    商標コード
    5
    薬剤

    表示用商標

    ＢＭ－Ｔｅｓｔ

  • 商標　2010011252

    2010年02月17日
    商標コード
    10
    医療用機械器具及び医療用品

    表示用商標

    ＢＭ－Ｔｅｓｔ

  • 商標　2010044869

    2010年06月07日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＮｅｏＳｃｏｐｅ

  • 商標　2010054736

    2010年07月12日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＩｎＴｏｕｃｈＳｃｏｐｅ

  • 商標　2010059574

    2010年07月29日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    §ＪＥＯＬ＼日本電子株式会社

  • 商標　2010063706

    2010年08月12日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    Ｅｌｅｍｅｎｔ　Ｅｙｅ

  • 商標　2010064479

    2010年08月17日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    Ｉｎ＼ＴｏｕｃｈＳｃｏｐｅ

  • 特許　2010006947

    2010年01月15日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置

  • 特許　2010006947

    2010年01月15日
    特許分類
    G01N 27/62 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置

  • 特許　2010006947

    2010年01月15日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置

  • 特許　2010006947

    2010年01月15日
    特許分類
    H01J 49/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置

  • 特許　2010021904

    2010年02月03日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    透過電子顕微鏡の制御装置および透過電子顕微鏡の制御方法

  • 特許　2010021904

    2010年02月03日
    特許分類
    H01J 37/147 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    透過電子顕微鏡の制御装置および透過電子顕微鏡の制御方法

  • 特許　2010021904

    2010年02月03日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    透過電子顕微鏡の制御装置および透過電子顕微鏡の制御方法

  • 特許　2010021904

    2010年02月03日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    透過電子顕微鏡の制御装置および透過電子顕微鏡の制御方法

  • 特許　2010021904

    2010年02月03日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    透過電子顕微鏡の制御装置および透過電子顕微鏡の制御方法

  • 特許　2010021904

    2010年02月03日
    特許分類
    H01J 37/295
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    透過電子顕微鏡の制御装置および透過電子顕微鏡の制御方法

  • 特許　2010023921

    2010年02月05日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置

  • 特許　2010023921

    2010年02月05日
    特許分類
    H01J 37/305 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置

  • 特許　2010023921

    2010年02月05日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置

  • 特許　2010023921

    2010年02月05日
    特許分類
    H01L 21/30 541M
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置

  • 特許　2010026242

    2010年02月09日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡

  • 特許　2010039978

    2010年02月25日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡

  • 特許　2010039978

    2010年02月25日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡

  • 特許　2010039978

    2010年02月25日
    特許分類
    H01J 37/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡

  • 特許　2010047979

    2010年03月04日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    イオンビームを用いた試料断面作製装置及び作製方法

  • 特許　2010047979

    2010年03月04日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    イオンビームを用いた試料断面作製装置及び作製方法

  • 特許　2010074472

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2010074472

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2010074472

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2010074472

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2010074472

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/317
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2010074472

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/317 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2010074473

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃

  • 特許　2010074473

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/06 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃

  • 特許　2010074473

    2010年03月29日
    特許分類
    H01J 37/075
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    電子銃

  • 特許　2010103598

    2010年04月28日
    特許分類
    H01J 49/16
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置のキャリブレーション方法

  • 特許　2010103598

    2010年04月28日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置のキャリブレーション方法

  • 特許　2010111850

    2010年05月14日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置

  • 特許　2010111850

    2010年05月14日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置

  • 特許　2010111850

    2010年05月14日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置

  • 特許　2010111850

    2010年05月14日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置

  • 特許　2010111850

    2010年05月14日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置

  • 特許　2010111850

    2010年05月14日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置

  • 特許　2010111850

    2010年05月14日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置

  • 特許　2010114373

    2010年05月18日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    球面収差補正装置および球面収差補正方法

  • 特許　2010114373

    2010年05月18日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    球面収差補正装置および球面収差補正方法

  • 特許　2010116906

    2010年05月21日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    多分割ＳＴＥＭ検出器の調整方法

  • 特許　2010119169

    2010年05月25日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2010119169

    2010年05月25日
    特許分類
    G01N 27/62 L
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2010119169

    2010年05月25日
    特許分類
    H01J 49/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2010138352

    2010年06月17日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2010138352

    2010年06月17日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2010138352

    2010年06月17日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2010140448

    2010年06月21日
    特許分類
    G01N 23/227
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    オージェ像収集方法及び装置

  • 特許　2010154054

    2010年07月06日
    特許分類
    H01J 37/21
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡

  • 特許　2010154054

    2010年07月06日
    特許分類
    H01J 37/21 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡

  • 特許　2010154054

    2010年07月06日
    特許分類
    H01J 37/21 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/22 501D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/22 502J
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010161673

    2010年07月16日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置

  • 特許　2010164632

    2010年07月22日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出装置

  • 特許　2010166232

    2010年07月23日
    特許分類
    G01N 24/02 510A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    固体ＮＭＲ装置、固体ＮＭＲ装置用試料保持体、および固体ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2010166232

    2010年07月23日
    特許分類
    G01N 24/04 520B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    固体ＮＭＲ装置、固体ＮＭＲ装置用試料保持体、および固体ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2010166232

    2010年07月23日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    固体ＮＭＲ装置、固体ＮＭＲ装置用試料保持体、および固体ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2010166232

    2010年07月23日
    特許分類
    G01R 33/341
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    固体ＮＭＲ装置、固体ＮＭＲ装置用試料保持体、および固体ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2010170116

    2010年07月29日
    特許分類
    G01N 24/02 510A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    固体ＮＭＲ用試料管および固体ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2010170116

    2010年07月29日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    固体ＮＭＲ用試料管および固体ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2010170116

    2010年07月29日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    固体ＮＭＲ用試料管および固体ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2010170116

    2010年07月29日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    固体ＮＭＲ用試料管および固体ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2010171611

    2010年07月30日
    特許分類
    G01N 23/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム及びＸ線検出方法

  • 特許　2010171611

    2010年07月30日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム及びＸ線検出方法

  • 特許　2010171612

    2010年07月30日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010171612

    2010年07月30日
    特許分類
    G21K 1/00
    核物理; 核工学
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010171612

    2010年07月30日
    特許分類
    G21K 1/00 X
    核物理; 核工学
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010171612

    2010年07月30日
    特許分類
    G21K 1/04
    核物理; 核工学
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010171612

    2010年07月30日
    特許分類
    G21K 1/04 S
    核物理; 核工学
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010171612

    2010年07月30日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010171612

    2010年07月30日
    特許分類
    H01J 37/252
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010171612

    2010年07月30日
    特許分類
    H01J 37/252 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    B01J 23/10
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    B01J 23/10 M
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    B01J 23/76
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    B01J 23/76 M
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    B82B 3/00
    ナノテクノロジ－
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    C01B 31/02
    無機化学
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    C01B 31/02 101B
    無機化学
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    C01B 31/02 101F
    無機化学
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    H01M 4/36
    基本的電気素子
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    H01M 4/36 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    H01M 4/58 103
    基本的電気素子
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    H01M 4/587
    基本的電気素子
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    H01M 4/96
    基本的電気素子
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010191787

    2010年08月30日
    特許分類
    H01M 4/96 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    4G146

    発明の名称

    ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法

  • 特許　2010197245

    2010年09月03日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法

  • 特許　2010197245

    2010年09月03日
    特許分類
    H01J 37/141 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法

  • 特許　2010197245

    2010年09月03日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法

  • 特許　2010197245

    2010年09月03日
    特許分類
    H01J 37/20 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法

  • 特許　2010197245

    2010年09月03日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法

  • 特許　2010197245

    2010年09月03日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法

  • 特許　2010203408

    2010年09月10日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010203409

    2010年09月10日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010203409

    2010年09月10日
    特許分類
    G01T 1/20
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010203409

    2010年09月10日
    特許分類
    G01T 1/20 L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010203410

    2010年09月10日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010203410

    2010年09月10日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010203410

    2010年09月10日
    特許分類
    H01J 37/252
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010203410

    2010年09月10日
    特許分類
    H01J 37/252 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    Ｘ線検出システム

  • 特許　2010211827

    2010年09月22日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム型飛行時間型質量分析法および装置

  • 特許　2010211827

    2010年09月22日
    特許分類
    G01N 27/62 E
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム型飛行時間型質量分析法および装置

  • 特許　2010211827

    2010年09月22日
    特許分類
    G01N 27/62 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム型飛行時間型質量分析法および装置

  • 特許　2010211827

    2010年09月22日
    特許分類
    G01N 27/64
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム型飛行時間型質量分析法および装置

  • 特許　2010211827

    2010年09月22日
    特許分類
    G01N 27/64 B
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム型飛行時間型質量分析法および装置

  • 特許　2010211827

    2010年09月22日
    特許分類
    H01J 49/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム型飛行時間型質量分析法および装置

  • 特許　2010211827

    2010年09月22日
    特許分類
    H01J 49/10
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム型飛行時間型質量分析法および装置

  • 特許　2010211827

    2010年09月22日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム型飛行時間型質量分析法および装置

  • 特許　2010239357

    2010年10月26日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置の自動調整方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2010239357

    2010年10月26日
    特許分類
    H01L 21/30 541E
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置の自動調整方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2010239357

    2010年10月26日
    特許分類
    H01L 21/30 541Q
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置の自動調整方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2010255836

    2010年11月16日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子線の軸合わせ方法及び荷電粒子線装置

  • 特許　2010255836

    2010年11月16日
    特許分類
    H01J 37/04 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子線の軸合わせ方法及び荷電粒子線装置

  • 特許　2010255836

    2010年11月16日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子線の軸合わせ方法及び荷電粒子線装置

  • 特許　2010255836

    2010年11月16日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子線の軸合わせ方法及び荷電粒子線装置

  • 特許　2010259826

    2010年11月22日
    特許分類
    F04D 19/04
    液体用容積形機械; 液体または圧縮性流体用ポンプ
    テーマコード
    3H131

    発明の名称

    ターボ分子ポンプの接続装置

  • 特許　2010259826

    2010年11月22日
    特許分類
    F04D 19/04 H
    液体用容積形機械; 液体または圧縮性流体用ポンプ
    テーマコード
    3H131

    発明の名称

    ターボ分子ポンプの接続装置

  • 特許　2010283386

    2010年12月20日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2010283386

    2010年12月20日
    特許分類
    G01N 35/02 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2010283386

    2010年12月20日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2010283386

    2010年12月20日
    特許分類
    G01N 35/04 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2010284003

    2010年12月21日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ホルダ搬送装置

  • 特許　2010284003

    2010年12月21日
    特許分類
    G01N 35/02 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ホルダ搬送装置

  • 特許　2010284003

    2010年12月21日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ホルダ搬送装置

  • 特許　2010284003

    2010年12月21日
    特許分類
    G01N 35/04 H
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    検体ホルダ搬送装置

  • 特許　2010289250

    2010年12月27日
    特許分類
    H01J 37/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料ホルダの排気方法及び装置

  • 特許　2010289250

    2010年12月27日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料ホルダの排気方法及び装置

  • 特許　2010289250

    2010年12月27日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料ホルダの排気方法及び装置

  • 特許　2010289250

    2010年12月27日
    特許分類
    H01J 37/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料ホルダの排気方法及び装置

  • 特許　2010290100

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2010290100

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 27/62 E
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2010290100

    2010年12月27日
    特許分類
    G01N 27/62 L
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2010290100

    2010年12月27日
    特許分類
    H01J 49/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2010290100

    2010年12月27日
    特許分類
    H01J 49/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2010290101

    2010年12月27日
    特許分類
    G06T 5/20
    計算; 計数
    テーマコード
    5B057

    発明の名称

    信号処理方法、及び信号処理装置

  • 特許　2010290101

    2010年12月27日
    特許分類
    G06T 5/20 A
    計算; 計数
    テーマコード
    5B057

    発明の名称

    信号処理方法、及び信号処理装置

  • 特許　2010290101

    2010年12月27日
    特許分類
    H04N 1/40
    電気通信技術
    テーマコード
    5B057

    発明の名称

    信号処理方法、及び信号処理装置

  • 特許　2010290101

    2010年12月27日
    特許分類
    H04N 1/40 101Z
    電気通信技術
    テーマコード
    5B057

    発明の名称

    信号処理方法、及び信号処理装置

  • 商標　2011021935

    2011年03月29日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＪＥＯＬ＼ＲＥＳＯＮＡＮＣＥ

  • 商標　2011049242

    2011年07月13日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＵｌｔｒａＱｕａｄ

  • 商標　2011052898

    2011年07月27日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＵｌｔｒａＦＯＣＵＳ

  • 商標　2011052899

    2011年07月27日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ｍｓＴｏｒｎａｄｏ

  • 商標　2011052900

    2011年07月27日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    Ｅｓｃｒｉｍｅ

  • 商標　2011058712

    2011年08月17日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    Ｂｅｌｕｇａ

  • 商標　2011058713

    2011年08月17日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ベルーガ

  • 商標　2011071526

    2011年10月06日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＡＭＩＮＯ　ＴＡＣ

  • 商標　2011085747

    2011年11月30日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    マハレット

  • 商標　2011085749

    2011年11月30日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    §Ｓ

  • 商標　2011087764

    2011年12月07日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＧＲＡＮＤ　ＡＲＭ

  • 特許　2011006935

    2011年01月17日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    電子プローブマイクロアナライザにおけるデータ処理方法及び電子プローブマイクロアナライザ

  • 特許　2011007213

    2011年01月17日
    特許分類
    H01J 37/12
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相コントラスト結像及び位相コントラスト結像のためのＴＥＭの調整

  • 特許　2011007213

    2011年01月17日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相コントラスト結像及び位相コントラスト結像のためのＴＥＭの調整

  • 特許　2011007213

    2011年01月17日
    特許分類
    H01J 37/295
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相コントラスト結像及び位相コントラスト結像のためのＴＥＭの調整

  • 特許　2011009781

    2011年01月20日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置の試料位置決め装置

  • 特許　2011009781

    2011年01月20日
    特許分類
    H01J 37/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置の試料位置決め装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011015352

    2011年01月27日
    特許分類
    H01J 37/305 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    試料作製装置

  • 特許　2011027390

    2011年02月10日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡用針状試料の作製方法

  • 特許　2011027390

    2011年02月10日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡用針状試料の作製方法

  • 特許　2011027390

    2011年02月10日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡用針状試料の作製方法

  • 特許　2011030419

    2011年02月16日
    特許分類
    B01F 7/04
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G036

    発明の名称

    撹拌装置及び撹拌装置制御方法

  • 特許　2011030419

    2011年02月16日
    特許分類
    B01F 7/04 Z
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G036

    発明の名称

    撹拌装置及び撹拌装置制御方法

  • 特許　2011030419

    2011年02月16日
    特許分類
    B01F 13/08
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G036

    発明の名称

    撹拌装置及び撹拌装置制御方法

  • 特許　2011030419

    2011年02月16日
    特許分類
    B01F 13/08 Z
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G036

    発明の名称

    撹拌装置及び撹拌装置制御方法

  • 特許　2011030419

    2011年02月16日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    4G036

    発明の名称

    撹拌装置及び撹拌装置制御方法

  • 特許　2011030419

    2011年02月16日
    特許分類
    G01N 35/02 D
    測定; 試験
    テーマコード
    4G036

    発明の名称

    撹拌装置及び撹拌装置制御方法

  • 特許　2011036428

    2011年02月22日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置及び測定方法

  • 特許　2011036428

    2011年02月22日
    特許分類
    G01N 35/02 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定装置及び測定方法

  • 特許　2011056059

    2011年03月15日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料作製方法

  • 特許　2011056059

    2011年03月15日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料作製方法

  • 特許　2011056059

    2011年03月15日
    特許分類
    G01N 1/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料作製方法

  • 特許　2011056059

    2011年03月15日
    特許分類
    G01N 1/32 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    薄膜試料作製方法

  • 特許　2011065445

    2011年03月24日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡及び三次元像構築方法

  • 特許　2011065445

    2011年03月24日
    特許分類
    H01J 37/22 501C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡及び三次元像構築方法

  • 特許　2011065445

    2011年03月24日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡及び三次元像構築方法

  • 特許　2011065445

    2011年03月24日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡及び三次元像構築方法

  • 特許　2011072366

    2011年03月29日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および３次元像構築方法

  • 特許　2011072366

    2011年03月29日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および３次元像構築方法

  • 特許　2011072366

    2011年03月29日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡および３次元像構築方法

  • 特許　2011086094

    2011年04月08日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画方法及び電子ビーム描画装置

  • 特許　2011086094

    2011年04月08日
    特許分類
    H01L 21/30 541M
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画方法及び電子ビーム描画装置

  • 特許　2011086094

    2011年04月08日
    特許分類
    H01L 21/30 541Q
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画方法及び電子ビーム描画装置

  • 特許　2011086094

    2011年04月08日
    特許分類
    H01L 21/30 541W
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画方法及び電子ビーム描画装置

  • 特許　2011088058

    2011年04月12日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置

  • 特許　2011088058

    2011年04月12日
    特許分類
    H01J 37/305 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置

  • 特許　2011088058

    2011年04月12日
    特許分類
    H01J 37/305 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置

  • 特許　2011088058

    2011年04月12日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置

  • 特許　2011088058

    2011年04月12日
    特許分類
    H01L 21/30 541B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子ビーム描画装置

  • 特許　2011108061

    2011年05月13日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ

  • 特許　2011108061

    2011年05月13日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ

  • 特許　2011128424

    2011年06月08日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2011128424

    2011年06月08日
    特許分類
    G01N 1/28 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2011128424

    2011年06月08日
    特許分類
    G01N 1/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2011133162

    2011年06月15日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出装置および放射線分析装置

  • 特許　2011133162

    2011年06月15日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出装置および放射線分析装置

  • 特許　2011133162

    2011年06月15日
    特許分類
    G01T 1/24
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出装置および放射線分析装置

  • 特許　2011141848

    2011年06月27日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    透過電子顕微鏡システム

  • 特許　2011141848

    2011年06月27日
    特許分類
    H01J 37/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    透過電子顕微鏡システム

  • 特許　2011147313

    2011年07月01日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相板および透過電子顕微鏡

  • 特許　2011147313

    2011年07月01日
    特許分類
    H01J 37/09 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相板および透過電子顕微鏡

  • 特許　2011147313

    2011年07月01日
    特許分類
    H01J 37/295
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相板および透過電子顕微鏡

  • 特許　2011148887

    2011年07月05日
    特許分類
    H01J 37/21
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡のデフォーカス量調整方法、プログラム及び情報記憶媒体

  • 特許　2011148887

    2011年07月05日
    特許分類
    H01J 37/21 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡のデフォーカス量調整方法、プログラム及び情報記憶媒体

  • 特許　2011148887

    2011年07月05日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡のデフォーカス量調整方法、プログラム及び情報記憶媒体

  • 特許　2011148887

    2011年07月05日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡のデフォーカス量調整方法、プログラム及び情報記憶媒体

  • 特許　2011151594

    2011年07月08日
    特許分類
    H01J 37/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料観察方法および圧力測定用ホルダ

  • 特許　2011151594

    2011年07月08日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料観察方法および圧力測定用ホルダ

  • 特許　2011151594

    2011年07月08日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料観察方法および圧力測定用ホルダ

  • 特許　2011151594

    2011年07月08日
    特許分類
    H01J 37/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料観察方法および圧力測定用ホルダ

  • 特許　2011151594

    2011年07月08日
    特許分類
    H01J 37/20 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料観察方法および圧力測定用ホルダ

  • 特許　2011153703

    2011年07月12日
    特許分類
    G01N 35/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    生化学分析装置

  • 特許　2011153703

    2011年07月12日
    特許分類
    G01N 35/00 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    生化学分析装置

  • 特許　2011153703

    2011年07月12日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    生化学分析装置

  • 特許　2011153703

    2011年07月12日
    特許分類
    G01N 35/02 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    生化学分析装置

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    G01N 24/02 530Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    G01N 24/06 520K
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    G01N 24/08 510Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    G01R 33/3875
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    H01F 7/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011164481

    2011年07月27日
    特許分類
    H01F 7/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    核磁気共鳴装置および磁場補正方法

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01J 37/09 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01J 37/28 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01J 37/305 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01L 21/30 541B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011166918

    2011年07月29日
    特許分類
    H01L 21/30 541E
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2011176468

    2011年08月12日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び装置

  • 特許　2011176468

    2011年08月12日
    特許分類
    H01J 37/305 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び装置

  • 特許　2011176468

    2011年08月12日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び装置

  • 特許　2011176468

    2011年08月12日
    特許分類
    H01L 21/30 541M
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び装置

  • 特許　2011182459

    2011年08月24日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    画像生成装置、画像生成方法、およびプログラム

  • 特許　2011182459

    2011年08月24日
    特許分類
    G01N 27/62 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    画像生成装置、画像生成方法、およびプログラム

  • 特許　2011187780

    2011年08月30日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡の制御方法、電子顕微鏡、プログラム及び情報記憶媒体

  • 特許　2011187780

    2011年08月30日
    特許分類
    H01J 37/147 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡の制御方法、電子顕微鏡、プログラム及び情報記憶媒体

  • 特許　2011187780

    2011年08月30日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡の制御方法、電子顕微鏡、プログラム及び情報記憶媒体

  • 特許　2011187780

    2011年08月30日
    特許分類
    H01J 37/22 502G
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡の制御方法、電子顕微鏡、プログラム及び情報記憶媒体

  • 特許　2011194665

    2011年09月07日
    特許分類
    G01N 24/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    パルスＥＳＲ装置

  • 特許　2011194665

    2011年09月07日
    特許分類
    G01N 24/10 510L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    パルスＥＳＲ装置

  • 特許　2011194665

    2011年09月07日
    特許分類
    G01N 24/10 520A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    パルスＥＳＲ装置

  • 特許　2011194665

    2011年09月07日
    特許分類
    G01R 33/60
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    パルスＥＳＲ装置

  • 特許　2011199507

    2011年09月13日
    特許分類
    G06T 5/20
    計算; 計数
    テーマコード
    5B057

    発明の名称

    信号処理方法、及び信号処理装置

  • 特許　2011199507

    2011年09月13日
    特許分類
    G06T 5/20 A
    計算; 計数
    テーマコード
    5B057

    発明の名称

    信号処理方法、及び信号処理装置

  • 特許　2011199507

    2011年09月13日
    特許分類
    G06T 5/20 J
    計算; 計数
    テーマコード
    5B057

    発明の名称

    信号処理方法、及び信号処理装置

  • 特許　2011236024

    2011年10月27日
    特許分類
    G01T 1/17
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線検出装置のリセット方法

  • 特許　2011236024

    2011年10月27日
    特許分類
    G01T 1/17 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線検出装置のリセット方法

  • 特許　2011236024

    2011年10月27日
    特許分類
    G01T 1/17 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線分析装置及び放射線検出装置のリセット方法

  • 特許　2011243209

    2011年11月07日
    特許分類
    G01T 1/24
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    エネルギー分散型Ｘ線検出器

  • 特許　2011259686

    2011年11月29日
    特許分類
    H01J 37/295
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2011259686

    2011年11月29日
    特許分類
    H01J 37/317
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2011259686

    2011年11月29日
    特許分類
    H01J 37/317 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 商標　2012023216

    2012年03月27日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    §Ｃ∞ｅｎｔｕｒｉＯ

  • 商標　2012049546

    2012年06月20日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    マッハレット

  • 商標　2012091922

    2012年11月13日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    イオンソード

  • 商標　2012091923

    2012年11月13日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＩＯＮ　ＳＷＯＲＤ

  • 意匠　2012007425

    2012年03月30日
    意匠分類
    J18
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    電子顕微鏡

  • 意匠　2012007426

    2012年03月30日
    意匠分類
    J18
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    電子顕微鏡

  • 意匠　2012007465

    2012年03月30日
    意匠分類
    J18
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    電子顕微鏡

  • 特許　2012001237

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 24/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ装置のセットアップ方法

  • 特許　2012001237

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 24/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ装置のセットアップ方法

  • 特許　2012001237

    2012年01月06日
    特許分類
    G01N 24/06 510C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ装置のセットアップ方法

  • 特許　2012001237

    2012年01月06日
    特許分類
    G01R 33/3815
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ装置のセットアップ方法

  • 特許　2012003347

    2012年01月11日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    オージェ電子分光法用試料作製方法

  • 特許　2012003347

    2012年01月11日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    オージェ電子分光法用試料作製方法

  • 特許　2012011911

    2012年01月24日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子線装置

  • 特許　2012011911

    2012年01月24日
    特許分類
    H01J 37/252
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子線装置

  • 特許　2012011911

    2012年01月24日
    特許分類
    H01J 37/252 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子線装置

  • 特許　2012014177

    2012年01月26日
    特許分類
    B82Y 30/00
    ナノテクノロジ－
    テーマコード
    5C027

    発明の名称

    エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法

  • 特許　2012014177

    2012年01月26日
    特許分類
    B82Y 40/00
    ナノテクノロジ－
    テーマコード
    5C027

    発明の名称

    エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法

  • 特許　2012014177

    2012年01月26日
    特許分類
    H01J 9/02
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C027

    発明の名称

    エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法

  • 特許　2012014177

    2012年01月26日
    特許分類
    H01J 9/02 S
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C027

    発明の名称

    エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法

  • 特許　2012014177

    2012年01月26日
    特許分類
    H01J 9/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C027

    発明の名称

    エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法

  • 特許　2012014177

    2012年01月26日
    特許分類
    H01J 9/42 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C027

    発明の名称

    エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法

  • 特許　2012014177

    2012年01月26日
    特許分類
    H01J 27/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C027

    発明の名称

    エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法

  • 特許　2012014177

    2012年01月26日
    特許分類
    H01J 37/08
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C027

    発明の名称

    エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法

  • 特許　2012025903

    2012年02月09日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡

  • 特許　2012025903

    2012年02月09日
    特許分類
    H01J 37/09 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡

  • 特許　2012025903

    2012年02月09日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡

  • 特許　2012025903

    2012年02月09日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡

  • 特許　2012025903

    2012年02月09日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡

  • 特許　2012025903

    2012年02月09日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過電子顕微鏡

  • 特許　2012038287

    2012年02月24日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    色収差補正装置及び色収差補正装置の制御方法

  • 特許　2012038287

    2012年02月24日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    色収差補正装置及び色収差補正装置の制御方法

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    H01J 37/147 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    H01J 37/147 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    H01J 37/317
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012045027

    2012年03月01日
    特許分類
    H01J 37/317 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    試料解析装置

  • 特許　2012063342

    2012年03月21日
    特許分類
    H01J 37/05
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡の調整方法

  • 特許　2012063342

    2012年03月21日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡の調整方法

  • 特許　2012063342

    2012年03月21日
    特許分類
    H01J 37/09 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡の調整方法

  • 特許　2012063342

    2012年03月21日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡の調整方法

  • 特許　2012063342

    2012年03月21日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    透過型電子顕微鏡の調整方法

  • 特許　2012068960

    2012年03月26日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置のデータ記録装置

  • 特許　2012068960

    2012年03月26日
    特許分類
    G01N 27/62 V
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置のデータ記録装置

  • 特許　2012068960

    2012年03月26日
    特許分類
    G01N 27/62 Y
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置のデータ記録装置

  • 特許　2012068960

    2012年03月26日
    特許分類
    G01N 27/68
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置のデータ記録装置

  • 特許　2012068960

    2012年03月26日
    特許分類
    H01J 49/10
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置のデータ記録装置

  • 特許　2012068960

    2012年03月26日
    特許分類
    H01J 49/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置のデータ記録装置

  • 特許　2012087536

    2012年04月06日
    特許分類
    G01J 3/18
    測定; 試験
    テーマコード
    2G082

    発明の名称

    分光装置

  • 特許　2012087536

    2012年04月06日
    特許分類
    G02B 5/18
    光学
    テーマコード
    2G082

    発明の名称

    分光装置

  • 特許　2012087536

    2012年04月06日
    特許分類
    G02B 5/32
    光学
    テーマコード
    2G082

    発明の名称

    分光装置

  • 特許　2012087536

    2012年04月06日
    特許分類
    G21K 1/06
    核物理; 核工学
    テーマコード
    2G082

    発明の名称

    分光装置

  • 特許　2012087536

    2012年04月06日
    特許分類
    G21K 1/06 C
    核物理; 核工学
    テーマコード
    2G082

    発明の名称

    分光装置

  • 特許　2012087536

    2012年04月06日
    特許分類
    G21K 1/06 D
    核物理; 核工学
    テーマコード
    2G082

    発明の名称

    分光装置

  • 特許　2012087536

    2012年04月06日
    特許分類
    G21K 1/06 N
    核物理; 核工学
    テーマコード
    2G082

    発明の名称

    分光装置

  • 特許　2012088918

    2012年04月10日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料保持装置および試料解析装置

  • 特許　2012088918

    2012年04月10日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料保持装置および試料解析装置

  • 特許　2012088918

    2012年04月10日
    特許分類
    H01J 37/20 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料保持装置および試料解析装置

  • 特許　2012088918

    2012年04月10日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料保持装置および試料解析装置

  • 特許　2012088918

    2012年04月10日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料保持装置および試料解析装置

  • 特許　2012093703

    2012年04月17日
    特許分類
    G01N 1/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012093703

    2012年04月17日
    特許分類
    G01N 33/48
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012093703

    2012年04月17日
    特許分類
    G01N 33/48 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012099645

    2012年04月25日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012099645

    2012年04月25日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012099645

    2012年04月25日
    特許分類
    G01N 27/62 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012099645

    2012年04月25日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012110457

    2012年05月14日
    特許分類
    H01J 37/248
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子銃、その駆動装置、およびその制御方法

  • 特許　2012110457

    2012年05月14日
    特許分類
    H01J 37/248 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子銃、その駆動装置、およびその制御方法

  • 特許　2012110457

    2012年05月14日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子銃、その駆動装置、およびその制御方法

  • 特許　2012110457

    2012年05月14日
    特許分類
    H01J 37/305 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子銃、その駆動装置、およびその制御方法

  • 特許　2012110457

    2012年05月14日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子銃、その駆動装置、およびその制御方法

  • 特許　2012110457

    2012年05月14日
    特許分類
    H01L 21/30 541B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子銃、その駆動装置、およびその制御方法

  • 特許　2012110457

    2012年05月14日
    特許分類
    H01L 21/30 541Q
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    電子銃、その駆動装置、およびその制御方法

  • 特許　2012111118

    2012年05月15日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012111118

    2012年05月15日
    特許分類
    G01N 27/62 E
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012111118

    2012年05月15日
    特許分類
    G01N 27/62 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012111118

    2012年05月15日
    特許分類
    H01J 49/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012111118

    2012年05月15日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012111560

    2012年05月15日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012111560

    2012年05月15日
    特許分類
    H01J 37/04 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012111560

    2012年05月15日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012111560

    2012年05月15日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012111578

    2012年05月15日
    特許分類
    G01N 24/02 510A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管およびＮＭＲ装置

  • 特許　2012111578

    2012年05月15日
    特許分類
    G01N 24/02 510B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管およびＮＭＲ装置

  • 特許　2012111578

    2012年05月15日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管およびＮＭＲ装置

  • 特許　2012111578

    2012年05月15日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管およびＮＭＲ装置

  • 特許　2012111578

    2012年05月15日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管およびＮＭＲ装置

  • 特許　2012116107

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 35/06 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    臨床検査用分析装置および臨床検査用分析装置における洗浄方法

  • 特許　2012116107

    2012年05月22日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    臨床検査用分析装置および臨床検査用分析装置における洗浄方法

  • 特許　2012124396

    2012年05月31日
    特許分類
    H01J 37/04
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012124396

    2012年05月31日
    特許分類
    H01J 37/04 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012124396

    2012年05月31日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012124396

    2012年05月31日
    特許分類
    H01J 37/153 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C030

    発明の名称

    荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012126973

    2012年06月04日
    特許分類
    G03F 7/20
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法

  • 特許　2012126973

    2012年06月04日
    特許分類
    G03F 7/20 521
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法

  • 特許　2012126973

    2012年06月04日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法

  • 特許　2012126973

    2012年06月04日
    特許分類
    H01J 37/305 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法

  • 特許　2012126973

    2012年06月04日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法

  • 特許　2012126973

    2012年06月04日
    特許分類
    H01L 21/30 541M
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法

  • 特許　2012126973

    2012年06月04日
    特許分類
    H01L 21/30 551
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法

  • 特許　2012132927

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2012132927

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2012132927

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/22 502G
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2012132927

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2012132927

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2012132927

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2012132927

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2012132927

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/28 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法

  • 特許　2012132930

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡の調整方法及び電子顕微鏡

  • 特許　2012132930

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/22 501Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡の調整方法及び電子顕微鏡

  • 特許　2012132930

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/22 502G
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡の調整方法及び電子顕微鏡

  • 特許　2012132930

    2012年06月12日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    電子顕微鏡の調整方法及び電子顕微鏡

  • 特許　2012184530

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/04 510F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2012184530

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2012184530

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/04 520A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2012184530

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2012184530

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2012184530

    2012年08月23日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2012184530

    2012年08月23日
    特許分類
    G01R 33/34
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出モジュール

  • 特許　2012184541

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/02 540Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出用プローブ

  • 特許　2012184541

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出用プローブ

  • 特許　2012184541

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/04 520A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出用プローブ

  • 特許　2012184541

    2012年08月23日
    特許分類
    G01N 24/04 520Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出用プローブ

  • 特許　2012184541

    2012年08月23日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出用プローブ

  • 特許　2012184541

    2012年08月23日
    特許分類
    G01R 33/34
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出用プローブ

  • 特許　2012184541

    2012年08月23日
    特許分類
    G01R 33/42
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    磁気共鳴信号検出用プローブ

  • 特許　2012186713

    2012年08月27日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012186713

    2012年08月27日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012186713

    2012年08月27日
    特許分類
    G01N 1/28 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012186713

    2012年08月27日
    特許分類
    G01N 1/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012186713

    2012年08月27日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012186713

    2012年08月27日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012186713

    2012年08月27日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2012194803

    2012年09月05日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    試料観察方法および電子顕微鏡

  • 特許　2012194803

    2012年09月05日
    特許分類
    H01J 37/22 501A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    試料観察方法および電子顕微鏡

  • 特許　2012194803

    2012年09月05日
    特許分類
    H01J 37/22 501H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    試料観察方法および電子顕微鏡

  • 特許　2012194803

    2012年09月05日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C002

    発明の名称

    試料観察方法および電子顕微鏡

  • 特許　2012202792

    2012年09月14日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法

  • 特許　2012202792

    2012年09月14日
    特許分類
    G01N 27/62 E
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法

  • 特許　2012202792

    2012年09月14日
    特許分類
    G01N 27/62 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法

  • 特許　2012202792

    2012年09月14日
    特許分類
    G01N 27/62 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法

  • 特許　2012202792

    2012年09月14日
    特許分類
    H01J 49/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法

  • 特許　2012202792

    2012年09月14日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法

  • 特許　2012202793

    2012年09月14日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法

  • 特許　2012202793

    2012年09月14日
    特許分類
    G01N 27/62 E
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法

  • 特許　2012202793

    2012年09月14日
    特許分類
    G01N 27/62 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法

  • 特許　2012202793

    2012年09月14日
    特許分類
    H01J 49/10
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法

  • 特許　2012202793

    2012年09月14日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/09
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/09 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/141 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/147 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012208043

    2012年09月21日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査電子顕微鏡

  • 特許　2012220107

    2012年10月02日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    試料分析装置

  • 特許　2012220107

    2012年10月02日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    試料分析装置

  • 特許　2012224314

    2012年10月09日
    特許分類
    G01N 24/02 510B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ

  • 特許　2012224314

    2012年10月09日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ

  • 特許　2012224314

    2012年10月09日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ

  • 特許　2012224314

    2012年10月09日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定用スピナ

  • 特許　2012232721

    2012年10月22日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2012232721

    2012年10月22日
    特許分類
    G01N 35/02 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2012232721

    2012年10月22日
    特許分類
    G01N 35/02 E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2012232721

    2012年10月22日
    特許分類
    G01N 35/02 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2012235649

    2012年10月25日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2012235649

    2012年10月25日
    特許分類
    G01N 35/04 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2012235649

    2012年10月25日
    特許分類
    G01N 35/06 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2012235649

    2012年10月25日
    特許分類
    G01N 35/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2012238866

    2012年10月30日
    特許分類
    H01J 49/06
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012238866

    2012年10月30日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    タンデム飛行時間型質量分析計

  • 特許　2012243466

    2012年11月05日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子ビームの偏向装置及びそれを備えた荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012243466

    2012年11月05日
    特許分類
    H01J 37/147 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子ビームの偏向装置及びそれを備えた荷電粒子ビーム装置

  • 特許　2012246104

    2012年11月08日
    特許分類
    C23C 14/32
    金属質材料への被覆; 金属質材料による材料への被覆; 化学的表面処理; 金属質材料の拡散処理; 真空蒸着, スパッタリング, イオン注入法, または化学蒸着による被覆一般; 金属質材料の防食または鉱皮の抑制一般
    テーマコード
    4K029

    発明の名称

    成膜装置及び成膜装置の動作方法

  • 特許　2012246104

    2012年11月08日
    特許分類
    C23C 14/32 B
    金属質材料への被覆; 金属質材料による材料への被覆; 化学的表面処理; 金属質材料の拡散処理; 真空蒸着, スパッタリング, イオン注入法, または化学蒸着による被覆一般; 金属質材料の防食または鉱皮の抑制一般
    テーマコード
    4K029

    発明の名称

    成膜装置及び成膜装置の動作方法

  • 特許　2012246104

    2012年11月08日
    特許分類
    H05H 1/24
    他に分類されない電気技術
    テーマコード
    4K029

    発明の名称

    成膜装置及び成膜装置の動作方法

  • 特許　2012252043

    2012年11月16日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダーおよび電子顕微鏡

  • 特許　2012252043

    2012年11月16日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダーおよび電子顕微鏡

  • 特許　2012252043

    2012年11月16日
    特許分類
    H01J 37/20 E
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダーおよび電子顕微鏡

  • 特許　2012252043

    2012年11月16日
    特許分類
    H01J 37/20 F
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダーおよび電子顕微鏡

  • 特許　2012252043

    2012年11月16日
    特許分類
    H01J 37/20 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダーおよび電子顕微鏡

  • 特許　2012252043

    2012年11月16日
    特許分類
    H01M 8/02
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダーおよび電子顕微鏡

  • 特許　2012252043

    2012年11月16日
    特許分類
    H01M 8/02 E
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダーおよび電子顕微鏡

  • 特許　2012252043

    2012年11月16日
    特許分類
    H01M 8/02 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料ホルダーおよび電子顕微鏡

  • 特許　2012254576

    2012年11月20日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析装置の調整方法

  • 特許　2012254576

    2012年11月20日
    特許分類
    G01N 27/62 E
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析装置の調整方法

  • 特許　2012254576

    2012年11月20日
    特許分類
    H01J 49/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析装置の調整方法

  • 特許　2012254577

    2012年11月20日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析装置の制御方法

  • 特許　2012254577

    2012年11月20日
    特許分類
    G01N 27/62 L
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析装置の制御方法

  • 特許　2012254577

    2012年11月20日
    特許分類
    H01J 49/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置及び質量分析装置の制御方法

  • 特許　2012257229

    2012年11月26日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    イオンビーム加工装置、試料加工方法及び試料容器

  • 特許　2012257229

    2012年11月26日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    イオンビーム加工装置、試料加工方法及び試料容器

  • 特許　2012257229

    2012年11月26日
    特許分類
    H01J 37/30
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    イオンビーム加工装置、試料加工方法及び試料容器

  • 特許　2012257229

    2012年11月26日
    特許分類
    H01J 37/30 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    イオンビーム加工装置、試料加工方法及び試料容器

  • 特許　2012269200

    2012年12月10日
    特許分類
    H01J 37/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料位置決め装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2012269200

    2012年12月10日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料位置決め装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2012269200

    2012年12月10日
    特許分類
    H01J 37/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料位置決め装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2012270069

    2012年12月11日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    色収差補正装置および電子顕微鏡

  • 特許　2012270069

    2012年12月11日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    色収差補正装置および電子顕微鏡

  • 特許　2012275466

    2012年12月18日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置

  • 特許　2012275466

    2012年12月18日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置

  • 特許　2012275466

    2012年12月18日
    特許分類
    G01N 27/62 K
    測定; 試験
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置

  • 特許　2012275466

    2012年12月18日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    飛行時間型質量分析装置

  • 特許　2012287366

    2012年12月28日
    特許分類
    G02B 5/30
    光学
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相板の製造方法

  • 特許　2012287366

    2012年12月28日
    特許分類
    H01J 37/295
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相板の製造方法

  • 特許　2012289036

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 24/04 510F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    プローブ

  • 特許　2012289036

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    プローブ

  • 特許　2012289036

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 24/04 520Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    プローブ

  • 特許　2012289036

    2012年12月28日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    プローブ

  • 特許　2012289036

    2012年12月28日
    特許分類
    G01R 33/34
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    プローブ

  • 特許　2012289037

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 24/02 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    寒剤供給装置

  • 特許　2012289037

    2012年12月28日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    寒剤供給装置

  • 特許　2012289037

    2012年12月28日
    特許分類
    G01R 33/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    寒剤供給装置

  • 特許　2012289037

    2012年12月28日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    寒剤供給装置

  • 特許　2012509683

    2011年04月06日
    特許分類
    G02B 21/00
    光学
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    複合顕微鏡装置

  • 特許　2012509683

    2011年04月06日
    特許分類
    H01J 37/141
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    複合顕微鏡装置

  • 特許　2012509683

    2011年04月06日
    特許分類
    H01J 37/141 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    複合顕微鏡装置

  • 特許　2012509683

    2011年04月06日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    複合顕微鏡装置

  • 商標　2013005188

    2013年01月29日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＪＥＯＬ　ＣＯＳＭＯ

  • 商標　2013028682

    2013年04月17日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＭＩＸＣＲＯＳＣＯＰＹ

  • 商標　2013047366

    2013年06月20日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＤｒｙＳＤ

  • 商標　2013101572

    2013年12月26日
    商標コード
    9
    科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

    表示用商標

    ＭＳＰＲＩＭＯ

  • 意匠　2013020083

    2013年08月30日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    質量分析計

  • 意匠　2013020084

    2013年08月30日
    意匠分類
    J1500
    計量器、測定機械器具及び測量機械器具

    意匠に係る物品

    蛍光エックス線分析機

  • 特許　2013007066

    2013年01月18日
    特許分類
    B01J 19/08
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G075

    発明の名称

    ナノ粒子製造装置

  • 特許　2013007066

    2013年01月18日
    特許分類
    B01J 19/08 K
    物理的または化学的方法または装置一般
    テーマコード
    4G075

    発明の名称

    ナノ粒子製造装置

  • 特許　2013007066

    2013年01月18日
    特許分類
    B22F 9/14
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4G075

    発明の名称

    ナノ粒子製造装置

  • 特許　2013007066

    2013年01月18日
    特許分類
    B22F 9/14 Z
    鋳造; 粉末冶金
    テーマコード
    4G075

    発明の名称

    ナノ粒子製造装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    G03B 5/00
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    G03B 5/00 K
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    G03B 7/28
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    G03B 15/00
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    G03B 15/00 H
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    G03B 15/00 T
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    H04N 5/232
    電気通信技術
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    H04N 5/232 Z
    電気通信技術
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013009084

    2013年01月22日
    特許分類
    H04N101:00
    電気通信技術
    テーマコード
    5C122

    発明の名称

    撮像装置

  • 特許　2013014447

    2013年01月29日
    特許分類
    G01N 24/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2013014447

    2013年01月29日
    特許分類
    G01N 24/00 T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2013014447

    2013年01月29日
    特許分類
    G01N 24/02 520B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2013014447

    2013年01月29日
    特許分類
    G01N 24/12
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2013014447

    2013年01月29日
    特許分類
    G01N 24/12 510C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2013014447

    2013年01月29日
    特許分類
    G01N 24/12 510L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2013014447

    2013年01月29日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定方法

  • 特許　2013026248

    2013年02月14日
    特許分類
    G01N 23/207
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    試料分析方法および試料分析装置

  • 特許　2013026248

    2013年02月14日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    試料分析方法および試料分析装置

  • 特許　2013031126

    2013年02月20日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定容器供給装置

  • 特許　2013031126

    2013年02月20日
    特許分類
    G01N 35/04 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定容器供給装置

  • 特許　2013031126

    2013年02月20日
    特許分類
    G01N 35/04 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定容器供給装置

  • 特許　2013032981

    2013年02月22日
    特許分類
    G03F 7/20
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2013032981

    2013年02月22日
    特許分類
    G03F 7/20 521
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2013032981

    2013年02月22日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2013032981

    2013年02月22日
    特許分類
    H01J 37/305 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2013032981

    2013年02月22日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2013032981

    2013年02月22日
    特許分類
    H01L 21/30 541M
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置

  • 特許　2013043925

    2013年03月06日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出装置および試料分析装置

  • 特許　2013043925

    2013年03月06日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    放射線検出装置および試料分析装置

  • 特許　2013051668

    2013年03月14日
    特許分類
    H01J 49/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C038

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013057952

    2013年03月21日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013057952

    2013年03月21日
    特許分類
    G01N 27/62 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013057952

    2013年03月21日
    特許分類
    G01N 27/62 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013057952

    2013年03月21日
    特許分類
    G01N 27/62 V
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013057952

    2013年03月21日
    特許分類
    G01N 27/62 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013057952

    2013年03月21日
    特許分類
    H01J 49/42
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013068616

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    ホルダー、荷電粒子線装置、および真空装置

  • 特許　2013068616

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    ホルダー、荷電粒子線装置、および真空装置

  • 特許　2013068617

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2013068617

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/20 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2013068617

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/20 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    G03F 7/20
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    G03F 7/20 521
    写真; 映画; 光波以外の波を使用する類似技術; 電子写真; ホログラフイ
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/147
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/147 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/147 C
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/153 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/153 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01J 37/305 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01L 21/027
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013070358

    2013年03月28日
    特許分類
    H01L 21/30 541B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5F056

    発明の名称

    荷電粒子ビーム偏向装置

  • 特許　2013086500

    2013年04月17日
    特許分類
    G01N 24/02 510C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管回転制御装置

  • 特許　2013086500

    2013年04月17日
    特許分類
    G01N 24/08
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管回転制御装置

  • 特許　2013086500

    2013年04月17日
    特許分類
    G01N 24/08 510S
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管回転制御装置

  • 特許　2013086500

    2013年04月17日
    特許分類
    G01R 33/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ用試料管回転制御装置

  • 特許　2013090314

    2013年04月23日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    大気圧イオン化方法および大気圧イオン源

  • 特許　2013090314

    2013年04月23日
    特許分類
    G01N 27/62 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    大気圧イオン化方法および大気圧イオン源

  • 特許　2013090314

    2013年04月23日
    特許分類
    G01N 27/62 V
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    大気圧イオン化方法および大気圧イオン源

  • 特許　2013090314

    2013年04月23日
    特許分類
    H01J 49/10
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    大気圧イオン化方法および大気圧イオン源

  • 特許　2013103301

    2013年05月15日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査荷電粒子顕微鏡および画像取得方法

  • 特許　2013103301

    2013年05月15日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査荷電粒子顕微鏡および画像取得方法

  • 特許　2013103301

    2013年05月15日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    走査荷電粒子顕微鏡および画像取得方法

  • 特許　2013105150

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2013105150

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 1/28 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2013105150

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 1/30
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2013105150

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2013105150

    2013年05月17日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G052

    発明の名称

    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法

  • 特許　2013114649

    2013年05月30日
    特許分類
    B25J 15/08
    手工具; 可搬型動力工具; 手工具用の柄; 作業場設備; マニプレ－タ
    テーマコード
    3C707

    発明の名称

    把持機構

  • 特許　2013114649

    2013年05月30日
    特許分類
    B25J 15/08 D
    手工具; 可搬型動力工具; 手工具用の柄; 作業場設備; マニプレ－タ
    テーマコード
    3C707

    発明の名称

    把持機構

  • 特許　2013114649

    2013年05月30日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    3C707

    発明の名称

    把持機構

  • 特許　2013114649

    2013年05月30日
    特許分類
    G01N 35/04 G
    測定; 試験
    テーマコード
    3C707

    発明の名称

    把持機構

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 27/62 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 27/62 V
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 27/62 X
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 30/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 30/04 P
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 30/72
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 30/72 A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 30/72 C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 30/86
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013117061

    2013年06月03日
    特許分類
    G01N 30/86 J
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    定量方法およびプログラム

  • 特許　2013128576

    2013年06月19日
    特許分類
    H01J 37/244
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    検出器および荷電粒子線装置

  • 特許　2013142655

    2013年07月08日
    特許分類
    G01N 35/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定容器供給装置

  • 特許　2013142655

    2013年07月08日
    特許分類
    G01N 35/04 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定容器供給装置

  • 特許　2013142655

    2013年07月08日
    特許分類
    G01N 35/04 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    測定容器供給装置

  • 特許　2013153367

    2013年07月24日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    球面収差補正装置、球面収差補正方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2013153367

    2013年07月24日
    特許分類
    H01J 37/153 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    球面収差補正装置、球面収差補正方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2013153367

    2013年07月24日
    特許分類
    H01J 37/153 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    球面収差補正装置、球面収差補正方法、および荷電粒子線装置

  • 特許　2013168968

    2013年08月15日
    特許分類
    G01N 24/04 510F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定システム

  • 特許　2013168968

    2013年08月15日
    特許分類
    G01N 24/04 510Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定システム

  • 特許　2013168968

    2013年08月15日
    特許分類
    G01N 24/04 530F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定システム

  • 特許　2013168968

    2013年08月15日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定システム

  • 特許　2013168968

    2013年08月15日
    特許分類
    G01R 33/36
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ測定システム

  • 特許　2013169072

    2013年08月16日
    特許分類
    G01N 23/227
    測定; 試験
    テーマコード
    2G001

    発明の名称

    電子分光装置

  • 特許　2013174931

    2013年08月26日
    特許分類
    G01N 24/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ信号処理システム

  • 特許　2013174931

    2013年08月26日
    特許分類
    G01N 24/00 B
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ信号処理システム

  • 特許　2013174931

    2013年08月26日
    特許分類
    G01N 24/02 530G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ信号処理システム

  • 特許　2013174931

    2013年08月26日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＮＭＲ信号処理システム

  • 特許　2013177644

    2013年08月29日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    クリーニング装置

  • 特許　2013177644

    2013年08月29日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    クリーニング装置

  • 特許　2013177644

    2013年08月29日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    クリーニング装置

  • 特許　2013177644

    2013年08月29日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    クリーニング装置

  • 特許　2013177644

    2013年08月29日
    特許分類
    H01J 37/20 G
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    クリーニング装置

  • 特許　2013198101

    2013年09月25日
    特許分類
    G01N 23/223
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2013198101

    2013年09月25日
    特許分類
    G01T 1/17
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2013198101

    2013年09月25日
    特許分類
    G01T 1/17 F
    測定; 試験
    テーマコード
    2G188

    発明の名称

    放射線検出装置、および試料分析装置

  • 特許　2013201438

    2013年09月27日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013201438

    2013年09月27日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013201438

    2013年09月27日
    特許分類
    G01N 27/62 G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013201438

    2013年09月27日
    特許分類
    G01N 27/62 V
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013201438

    2013年09月27日
    特許分類
    H01J 49/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置

  • 特許　2013210162

    2013年10月07日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置、同定方法、およびプログラム

  • 特許　2013210162

    2013年10月07日
    特許分類
    G01N 27/62 V
    測定; 試験
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置、同定方法、およびプログラム

  • 特許　2013210162

    2013年10月07日
    特許分類
    H01J 49/40
    基本的電気素子
    テーマコード
    2G041

    発明の名称

    質量分析装置、同定方法、およびプログラム

  • 特許　2013223337

    2013年10月28日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置、および試料容器

  • 特許　2013223337

    2013年10月28日
    特許分類
    H01J 37/20 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置、および試料容器

  • 特許　2013223337

    2013年10月28日
    特許分類
    H01J 37/20 E
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置、および試料容器

  • 特許　2013223337

    2013年10月28日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    荷電粒子線装置、および試料容器

  • 特許　2013225916

    2013年10月30日
    特許分類
    H01J 37/16
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2013225916

    2013年10月30日
    特許分類
    H01J 37/18
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2013225916

    2013年10月30日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2013225916

    2013年10月30日
    特許分類
    H01J 37/28
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2013225916

    2013年10月30日
    特許分類
    H01J 37/28 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    荷電粒子線装置

  • 特許　2013234900

    2013年11月13日
    特許分類
    H01J 37/153
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    集束イオンビーム装置及びイオンビームの焦点調整方法

  • 特許　2013234900

    2013年11月13日
    特許分類
    H01J 37/153 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    集束イオンビーム装置及びイオンビームの焦点調整方法

  • 特許　2013234900

    2013年11月13日
    特許分類
    H01J 37/21
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    集束イオンビーム装置及びイオンビームの焦点調整方法

  • 特許　2013234900

    2013年11月13日
    特許分類
    H01J 37/21 Z
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    集束イオンビーム装置及びイオンビームの焦点調整方法

  • 特許　2013234900

    2013年11月13日
    特許分類
    H01J 37/317
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    集束イオンビーム装置及びイオンビームの焦点調整方法

  • 特許　2013234900

    2013年11月13日
    特許分類
    H01J 37/317 D
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    集束イオンビーム装置及びイオンビームの焦点調整方法

  • 特許　2013235786

    2013年11月14日
    特許分類
    G01N 1/28
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2013235786

    2013年11月14日
    特許分類
    G01N 1/28 F
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2013235786

    2013年11月14日
    特許分類
    G01N 1/28 G
    測定; 試験
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2013235786

    2013年11月14日
    特許分類
    H01J 37/22
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2013235786

    2013年11月14日
    特許分類
    H01J 37/22 502H
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2013235786

    2013年11月14日
    特許分類
    H01J 37/305
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2013235786

    2013年11月14日
    特許分類
    H01J 37/305 A
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C034

    発明の名称

    試料作製装置及び試料作製方法

  • 特許　2013237871

    2013年11月18日
    特許分類
    G01N 24/04 510G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    プローブ着脱装置

  • 特許　2013237871

    2013年11月18日
    特許分類
    G01N 24/04 510Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    プローブ着脱装置

  • 特許　2013237871

    2013年11月18日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    プローブ着脱装置

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01N 24/04 510A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01N 24/04 520E
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01N 24/10
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01N 24/10 510A
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01N 24/10 510L
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01N 24/10 520T
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01R 33/345
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013242660

    2013年11月25日
    特許分類
    G01R 33/60
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    ＥＳＲ用マイクロ波共振器

  • 特許　2013243914

    2013年11月26日
    特許分類
    H01J 37/20
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2013243914

    2013年11月26日
    特許分類
    H01J 37/20 B
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C001

    発明の名称

    試料導入装置および荷電粒子線装置

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 21/27
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 21/27 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 22/00
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 22/00 Z
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 23/04
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 23/225
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 24/02 530C
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 24/02 530G
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 27/62
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01N 27/62 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013249219

    2010年05月19日
    特許分類
    G01R 33/32
    測定; 試験
    テーマコード
    2G044

    発明の名称

    測定装置及びデータ処理方法

  • 特許　2013254877

    2013年12月10日
    特許分類
    G01N 35/02
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2013254877

    2013年12月10日
    特許分類
    G01N 35/02 D
    測定; 試験
    テーマコード
    2G058

    発明の名称

    自動分析装置

  • 特許　2015090742

    2011年01月17日
    特許分類
    H01J 37/26
    基本的電気素子
    テーマコード
    5C033

    発明の名称

    位相コントラスト結像及び位相コントラスト結像のためのＴＥＭの調整

財務情報

  • 事業年度
  • 回次
  • 売上高
  • 営業収益
  • 営業収入
  • 営業総収入
  • 経常収益
  • 正味収入保険料
  • 経常利益
    又は経常損失
  • 当期純利益
    又は当期純損失
  • 資本金
  • 純資産額
  • 総資産額
  • 従業員数
  • 大株主

第74期（自　2020年４月１日　至　2021年３月31日）

0

93,128,000,000 円

-

-

-

-

-

4,520,000,000 円

3,583,000,000 円

10,037,000,000 円

46,036,000,000 円

121,191,000,000 円

1,950人

  • 株式会社ニコン：8.82%
  • 日本マスタートラスト信託銀行株式会社（信託口）：8.09%
  • 株式会社日本カストディ銀行（信託口）：6.65%
  • ＳＳＢＴＣ　ＣＬＩＥＮＴ 　ＯＭＮＩＢＵＳ　ＡＣＣＯＵＮＴ （常任代理人　香港上海銀行東京支店） ：5.8%
  • 株式会社三菱ＵＦＪ銀行：3.09%

第74期（自　2020年４月１日　至　2021年３月31日）

1

102,066,000,000 円

-

-

-

-

-

6,204,000,000 円

4,692,000,000 円

10,037,000,000 円

41,894,000,000 円

113,201,000,000 円

1,920人

第74期（自　2020年４月１日　至　2021年３月31日）

2

93,910,000,000 円

-

-

-

-

-

6,374,000,000 円

5,260,000,000 円

10,037,000,000 円

38,747,000,000 円

103,037,000,000 円

1,907人

第74期（自　2020年４月１日　至　2021年３月31日）

3

89,736,000,000 円

-

-

-

-

-

4,541,000,000 円

4,391,000,000 円

10,037,000,000 円

35,356,000,000 円

97,318,000,000 円

1,912人

第74期（自　2020年４月１日　至　2021年３月31日）

4

83,599,000,000 円

-

-

-

-

-

571,000,000 円

612,000,000 円

10,037,000,000 円

31,028,000,000 円

94,433,000,000 円

1,909人

職場情報

平均継続勤務年数

範囲：正社員

男性：17.8

女性：16.6

正社員の平均：-

従業員の平均年齢
-
月平均所定外労働時間
-
女性労働者の割合

範囲：正社員

19.4%

管理職人数

-

役員人数

-

育児休業取得者

対象者：男性 -人、女性 -人

取得者：男性 -人、女性 -人