株式会社メック

基本情報

法人番号

9021001029530

法人名称/商号

株式会社メック

法人名称/商号（カナ）

メック

法人名称/商号（英語）

-

所在地

〒2430435
神奈川県海老名市下今泉１丁目１２番３０号

代表者

-

資本金

-

従業員数

-

営業品目

-

事業概要

-

設立年月日

-

創業年

-

データ最終更新日

2019年09月19日

特許情報

• 特許　2014140646

  2014年07月08日

  特許分類

  G01N 21/84
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2014140646

  2014年07月08日

  特許分類

  G01N 21/84 E
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2014140646

  2014年07月08日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2014140646

  2014年07月08日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2014210584

  2014年10月15日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置

• 特許　2014210584

  2014年10月15日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置

• 特許　2015080730

  2015年04月10日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、欠陥検査方法

• 特許　2015080730

  2015年04月10日

  特許分類

  G01N 21/892 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、欠陥検査方法

• 特許　2015112327

  2015年06月02日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2015112327

  2015年06月02日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2017172371

  2017年09月07日

  特許分類

  G01B 11/30
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2017172371

  2017年09月07日

  特許分類

  G01B 11/30 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2017172371

  2017年09月07日

  特許分類

  G01N 21/89
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2017172371

  2017年09月07日

  特許分類

  G01N 21/89 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2017172371

  2017年09月07日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2017172371

  2017年09月07日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2017172371

  2017年09月07日

  特許分類

  G01N 21/892 B
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査方法

• 特許　2010158653

  2010年07月13日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、欠陥検査システム、および欠陥検査方法

• 特許　2010158653

  2010年07月13日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、欠陥検査システム、および欠陥検査方法

• 特許　2010226672

  2010年10月06日

  特許分類

  G01N 21/88
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査の閾値設定方法

• 特許　2010226672

  2010年10月06日

  特許分類

  G01N 21/88 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査の閾値設定方法

• 特許　2010226672

  2010年10月06日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査の閾値設定方法

• 特許　2010226672

  2010年10月06日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置および欠陥検査の閾値設定方法

• 特許　2010255205

  2010年11月15日

  特許分類

  G01B 11/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ラインセンサカメラの角度調整装置

• 特許　2010255205

  2010年11月15日

  特許分類

  G01B 11/00 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ラインセンサカメラの角度調整装置

• 特許　2010255205

  2010年11月15日

  特許分類

  G01B 11/30
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ラインセンサカメラの角度調整装置

• 特許　2010255205

  2010年11月15日

  特許分類

  G01B 11/30 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ラインセンサカメラの角度調整装置

• 特許　2010255205

  2010年11月15日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ラインセンサカメラの角度調整装置

• 特許　2010255205

  2010年11月15日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2F065

  発明の名称

  ラインセンサカメラの角度調整装置

• 特許　2012029692

  2012年02月14日

  特許分類

  G01N 21/88
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム及び欠陥検査方法

• 特許　2012029692

  2012年02月14日

  特許分類

  G01N 21/88 J
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム及び欠陥検査方法

• 特許　2012029692

  2012年02月14日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム及び欠陥検査方法

• 特許　2012029692

  2012年02月14日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム及び欠陥検査方法

• 特許　2012259729

  2012年11月28日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2012259729

  2012年11月28日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2012259729

  2012年11月28日

  特許分類

  G01N 21/892 B
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2012259729

  2012年11月28日

  特許分類

  G01N 21/898
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2012259729

  2012年11月28日

  特許分類

  G01N 21/898 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2013014374

  2013年01月29日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2013014374

  2013年01月29日

  特許分類

  G01N 21/892 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置、及び欠陥検査方法

• 特許　2013043242

  2013年03月05日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置及び欠陥検査方法

• 特許　2013043242

  2013年03月05日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査装置及び欠陥検査方法

• 特許　2013192884

  2013年09月18日

  特許分類

  G01B 11/00
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム、及びマーキング方法

• 特許　2013192884

  2013年09月18日

  特許分類

  G01B 11/00 H
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム、及びマーキング方法

• 特許　2013192884

  2013年09月18日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム、及びマーキング方法

• 特許　2013192884

  2013年09月18日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム、及びマーキング方法

• 特許　2013197095

  2013年09月24日

  特許分類

  G01N 21/84
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム、及びマーキング方法

• 特許　2013197095

  2013年09月24日

  特許分類

  G01N 21/84 C
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム、及びマーキング方法

• 特許　2013197095

  2013年09月24日

  特許分類

  G01N 21/892
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム、及びマーキング方法

• 特許　2013197095

  2013年09月24日

  特許分類

  G01N 21/892 A
  測定; 試験

  テーマコード

  2G051

  発明の名称

  欠陥検査システム、及びマーキング方法