株式会社日産アーク

基本情報

法人番号

9021001040867

法人名称/商号

株式会社日産アーク

法人名称/商号（カナ）

ニッサンアーク

法人名称/商号（英語）

NISSAN ARC, LTD

所在地

〒2370061
神奈川県横須賀市夏島町１番地

代表者

-

資本金

-

従業員数

-

営業品目

調査・研究

事業概要

-

設立年月日

1990年12月17日

創業年

-

データ最終更新日

2019年10月23日

特許情報

• 商標　2014024012

  2014年03月28日

  商標コード

  9
  科学用、航海用、測量用、写真用、音響用、映像用、計量用、信号用、検査用、救命用、教育用、計算用又は情報処理用の機械器具、光学式の機械器具及び電気の伝導用、電気回路の開閉用、変圧用、蓄電用、電圧調整用又は電気制御用の機械器具

  表示用商標

  ＥＳ∞ｏｎ＼ｓｉｔｅ

• 商標　2014024012

  2014年03月28日

  商標コード

  10
  医療用機械器具及び医療用品

  表示用商標

  ＥＳ∞ｏｎ＼ｓｉｔｅ

• 商標　2014024012

  2014年03月28日

  商標コード

  37
  建設、設置工事及び修理

  表示用商標

  ＥＳ∞ｏｎ＼ｓｉｔｅ

• 商標　2014024012

  2014年03月28日

  商標コード

  42
  科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

  表示用商標

  ＥＳ∞ｏｎ＼ｓｉｔｅ

• 特許　2015075368

  2015年04月01日

  特許分類

  C08K 3/08
  有機高分子化合物; その製造または化学的加工; それに基づく組成物

  テーマコード

  4H019

  発明の名称

  荷電粒子を利用した顕微鏡による試料観察方法及び同方法に用いる組成物

• 特許　2015075368

  2015年04月01日

  特許分類

  C08L101/00
  有機高分子化合物; その製造または化学的加工; それに基づく組成物

  テーマコード

  4H019

  発明の名称

  荷電粒子を利用した顕微鏡による試料観察方法及び同方法に用いる組成物

• 特許　2015075368

  2015年04月01日

  特許分類

  C09K 3/16
  染料; ペイント; つや出し剤; 天然樹脂; 接着剤; 他に分類されない組成物; 他に分類されない材料の応用

  テーマコード

  4H019

  発明の名称

  荷電粒子を利用した顕微鏡による試料観察方法及び同方法に用いる組成物

• 特許　2015075368

  2015年04月01日

  特許分類

  C09K 3/16 101C
  染料; ペイント; つや出し剤; 天然樹脂; 接着剤; 他に分類されない組成物; 他に分類されない材料の応用

  テーマコード

  4H019

  発明の名称

  荷電粒子を利用した顕微鏡による試料観察方法及び同方法に用いる組成物

• 特許　2015075368

  2015年04月01日

  特許分類

  G01N 1/28 ZNM
  測定; 試験

  テーマコード

  4H019

  発明の名称

  荷電粒子を利用した顕微鏡による試料観察方法及び同方法に用いる組成物

• 特許　2015075368

  2015年04月01日

  特許分類

  G01N 1/28 ZNMF
  測定; 試験

  テーマコード

  4H019

  発明の名称

  荷電粒子を利用した顕微鏡による試料観察方法及び同方法に用いる組成物

• 特許　2015223834

  2015年11月16日

  特許分類

  G01N 23/205
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  微粒子の顕微分析方法、および該微粒子の顕微分析方法に用いる分析装置

• 特許　2015223834

  2015年11月16日

  特許分類

  G01N 23/205 310
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  微粒子の顕微分析方法、および該微粒子の顕微分析方法に用いる分析装置

• 特許　2015223834

  2015年11月16日

  特許分類

  H01J 37/09
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  微粒子の顕微分析方法、および該微粒子の顕微分析方法に用いる分析装置

• 特許　2015223834

  2015年11月16日

  特許分類

  H01J 37/09 A
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  微粒子の顕微分析方法、および該微粒子の顕微分析方法に用いる分析装置

• 特許　2015223834

  2015年11月16日

  特許分類

  H01J 37/22
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  微粒子の顕微分析方法、および該微粒子の顕微分析方法に用いる分析装置

• 特許　2015223834

  2015年11月16日

  特許分類

  H01J 37/22 501D
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  微粒子の顕微分析方法、および該微粒子の顕微分析方法に用いる分析装置

• 特許　2015223834

  2015年11月16日

  特許分類

  H01J 37/244
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  微粒子の顕微分析方法、および該微粒子の顕微分析方法に用いる分析装置

• 特許　2015223834

  2015年11月16日

  特許分類

  H01J 37/26
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  微粒子の顕微分析方法、および該微粒子の顕微分析方法に用いる分析装置

• 特許　2016574592

  2015年02月13日

  特許分類

  H01L 25/04 C
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F037

  発明の名称

  ハーフブリッジパワー半導体モジュール及びその製造方法

• 特許　2016574592

  2015年02月13日

  特許分類

  H01L 25/07
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F037

  発明の名称

  ハーフブリッジパワー半導体モジュール及びその製造方法

• 特許　2016574592

  2015年02月13日

  特許分類

  H01L 25/18
  基本的電気素子

  テーマコード

  5F037

  発明の名称

  ハーフブリッジパワー半導体モジュール及びその製造方法

• 特許　2016574592

  2015年02月13日

  特許分類

  H02M 7/48
  電力の発電, 変換, 配電

  テーマコード

  5F037

  発明の名称

  ハーフブリッジパワー半導体モジュール及びその製造方法

• 特許　2016574592

  2015年02月13日

  特許分類

  H02M 7/48 Z
  電力の発電, 変換, 配電

  テーマコード

  5F037

  発明の名称

  ハーフブリッジパワー半導体モジュール及びその製造方法

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/04
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/06
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/06 310
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/207
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/207 310
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/22
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/22 330
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/225
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/225 310
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/227
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  G01N 23/227 310
  測定; 試験

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  H01M 10/04
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2016169170

  2016年08月31日

  特許分類

  H01M 10/04 Z
  基本的電気素子

  テーマコード

  2G001

  発明の名称

  構造複合体の状態推定方法及びシステム

• 特許　2017053905

  2017年03月21日

  特許分類

  G01N 21/01
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 特許　2017053905

  2017年03月21日

  特許分類

  G01N 21/01 Z
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 特許　2017053905

  2017年03月21日

  特許分類

  G01N 21/27
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 特許　2017053905

  2017年03月21日

  特許分類

  G01N 21/27 B
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 特許　2017053905

  2017年03月21日

  特許分類

  G01N 21/3563
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 特許　2019122905

  2017年03月21日

  特許分類

  G01N 21/33
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 特許　2019122905

  2017年03月21日

  特許分類

  G01N 21/359
  測定; 試験

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 特許　2019122905

  2017年03月21日

  特許分類

  G05B 19/418
  制御; 調整

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 特許　2019122905

  2017年03月21日

  特許分類

  G05B 19/418 Z
  制御; 調整

  テーマコード

  2G059

  発明の名称

  解析支援システム

• 商標　2013048639

  2013年06月24日

  商標コード

  42
  科学技術又は産業に関する調査研究及び設計並びに電子計算機又はソフトウェアの設計及び開発

  表示用商標

  ＱＳ